光學(xué)薄膜表面瑕疵檢測儀的檢測方法是怎樣的

摘要：很多時候，一些不適合于人工作業(yè)的危險工作環(huán)境或人工視覺難以滿足要求的場合，常用機器視覺來替代人工視覺。同時在大批量工業(yè)生產(chǎn)過程中，用人工視覺檢查產(chǎn)品質(zhì)量效率低且精度不高，用機器視覺檢測方法可以大大提高生產(chǎn)效率和生產(chǎn)的自動化程度。而且機器視覺易于實現(xiàn)信息集成，是實現(xiàn)計算機集成制造的基礎(chǔ)技術(shù)。精譜測控光學(xué)薄膜表面瑕疵檢測儀得到普及與推廣并為企業(yè)客戶熟知！

精譜測控光學(xué)薄膜表面瑕疵檢測儀可以快速準確高效檢測精度到直徑在0.1-1mm以上的（配合高端相機鏡頭的數(shù)量和設(shè)備的速度）:如黑點、針孔、劃傷、灰斑、油污/污跡、異物（顆粒/飛蟲/頭發(fā)等）、晶點、破損等。

使用精譜測控光學(xué)薄膜表面瑕疵檢測儀擯棄繁瑣低質(zhì)人工肉眼疲勞表面瑕疵檢測，機器圖像視覺光電智能在線高速檢測，提升改進產(chǎn)品質(zhì)量品質(zhì)，實時在線瑕疵聲光報警，自動生成質(zhì)量檢測報表，薄膜缺陷位置標注提示，提升生產(chǎn)效率、降低人力成本、優(yōu)化薄膜品質(zhì)、減少產(chǎn)品生產(chǎn)損耗。

在表面瑕疵檢測領(lǐng)域中，精譜測控在檢測方面還是小有名氣，公司在機器視覺檢測領(lǐng)域一步一個腳印，現(xiàn)精譜測控表面瑕疵檢測系統(tǒng)已在帶鋼、薄膜、造紙、印刷、金屬帶材等行業(yè)成功應(yīng)用。如有需要可致電咨詢詳情。

精譜測控光學(xué)薄膜表面瑕疵檢測儀檢測方法如下：

針對透光率高的薄膜材料，系統(tǒng)采用透射的打光檢測方式進行檢測，即光源在薄膜的下方，相機在薄膜的上方進行圖像拍攝。產(chǎn)線運行時，系統(tǒng)通過編碼器實時的采集產(chǎn)線運行狀態(tài)信息并開始檢測，系統(tǒng)將相機采集到的圖像通過圖像分析軟件進行瑕疵處理，由于瑕疵與正常產(chǎn)品的圖像在灰階上存在明顯差異，從而使得系統(tǒng)能夠發(fā)現(xiàn)瑕疵，并通過進一步的計算、分析來確定瑕疵的大小、位置、類型等信息。

精譜測控光學(xué)薄膜表面瑕疵檢測儀特點：

1、該品種經(jīng)過多次的測試，可檢測常見缺陷，檢測率高.

2、能提高降等率，降級索賠率，經(jīng)濟效益高。以電子布為例，產(chǎn)量為168萬米/臺，總降等率為5%，GC Vision 攔截率為60%.

3、所有疵點進行有效記錄并自動保存相關(guān)圖片.

4、自動形成疵點統(tǒng)計報表.

5、偵測到疵點時，可根據(jù)要求進行相應(yīng)的動作(記錄、報警、停機等).

6、顯示疵點的具體經(jīng)緯位置和圖片，形成疵點地圖，為后期開裁提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù).

7、歷史記錄追溯：每卷布的各類信息可保存，可追溯。

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