失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機理，失效概率及失效的影響等，為確定產(chǎn)品的改進措施進行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作，是可靠性設(shè)計的重要組成部分。失效
2009-07-03 14:33:23
3510 節(jié)能燈功率管失效機理分析
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1引言
節(jié)能燈作為一種環(huán)保型的電源，在全世界得到了廣泛的
2009-07-29 12:20:19824 本文探討一種基于LED照明驅(qū)動電路失效機理的原理和方法。LED燈具失效分為源于電源驅(qū)動電路的失效和來源于LED器件本身的失效。在本文研究中，探討了典型LED電源驅(qū)動電路原理，并通過從在加入浪涌電壓
2014-03-04 09:51:452681 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。1、電阻器的主要
2017-10-11 06:11:0012633 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。
2023-09-06 10:28:051332 
`本文將普通的LED的功能和設(shè)計總結(jié)，指出一些常見的故障原因，并介紹適合每個類型的故障修復(fù)方法?！?b class="flag-6" style="color: red">LED 失效分析報告（英文）[hide][/hide]`
2011-10-25 16:13:54
`對于LED產(chǎn)品在可靠性的視角來看，光輸出功率以及電性能隨著時間的推移逐漸退化[1-3] 為了滿足客戶對產(chǎn)品可靠性的要求，研究失效機理顯得尤為重要。 前些年有些科研人員針對負(fù)電極脫落開展失效分析工作
2017-12-07 09:17:32
分析對象的背景，確認(rèn)失效現(xiàn)象，接著制定LED失效分析方案，研究LED失效原因與機理，最后提出后續(xù)預(yù)防與改進措施。 金鑒實驗室綜合數(shù)千個失效分析案例，將LED芯片失效原因歸納為以下幾類： 1.封裝
2020-10-22 09:40:09
分析對象的背景，確認(rèn)失效現(xiàn)象，接著制定LED失效分析方案，研究LED失效原因與機理，最后提出后續(xù)預(yù)防與改進措施。 金鑒實驗室綜合數(shù)千個失效分析案例，將LED芯片失效原因歸納為以下幾類： 1.封裝
2020-10-22 15:06:06
從LED驅(qū)動等相關(guān)技術(shù)及客戶應(yīng)用經(jīng)驗出發(fā)，整理分析燈具設(shè)計及應(yīng)用中諸多的失效情況。1、未考慮LED燈珠Vf變化范圍LED燈具負(fù)載端，一般由若干數(shù)量的LED串并 聯(lián)組成，其工作電壓Vo＝Vf＊Ns，其中
2019-03-28 07:00:00
完整性、品種、規(guī)格等方面)來劃分材料失效的類型。對機械產(chǎn)品可按照其相應(yīng)規(guī)定功能來分類。 2.2 按材料損傷機理分類 根據(jù)機械失效過程中材料發(fā)生變化的物理、化學(xué)的本質(zhì)機理不同和過程特征差異
2011-11-29 16:46:42
分析委托方發(fā)現(xiàn)失效元器件，會對失效樣品進行初步電測判斷，再次會使用良品替換確認(rèn)故障。如有可能要與發(fā)現(xiàn)失效的人員進行交流，詳細(xì)了解原始數(shù)據(jù)，這是開展失效分析工作關(guān)鍵一步。確認(rèn)其失效機理，失效機理是指失效
2020-08-07 15:34:07
`v失效：產(chǎn)品失去規(guī)定的功能。v失效分析：為確定和分析失效器件的失效模式，失效機理，失效原因和失效性質(zhì)而對產(chǎn)品所做的分析和檢查。v失效模式：失效的表現(xiàn)形式。v失效機理：導(dǎo)致器件失效的物理，化學(xué)變化
2011-11-29 17:13:46
丟失、數(shù)據(jù)寫入出錯、亂碼、全“0”全“F”等諸多失效問題，嚴(yán)重影響了IC卡的廣泛應(yīng)用。因此，有必要結(jié)合IC卡的制作工藝及使用環(huán)境對失效的IC卡進行分析，深入研究其失效模式及失效機理，探索引起失效
2018-11-05 15:57:30
IGBT傳統(tǒng)防失效機理是什么IGBT失效防護電路
2021-03-29 07:17:06
IGBT的失效機理 半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)（Safe Operating Area簡稱SOA
2017-03-16 21:43:31
MOSFET的失效機理至此，我們已經(jīng)介紹了MOSFET的SOA失效、MOSFET的雪崩失效和MOSFET的dV/dt失效。要想安全使用MOSFET，首先不能超過MOSFET規(guī)格書中的絕對最大
2022-07-26 18:06:41
及PCBA的失效現(xiàn)象進行失效分析，通過一系列分析驗證，找出失效原因，挖掘失效機理，對提高產(chǎn)品質(zhì)量，改進生產(chǎn)工藝，仲裁失效事故有重要意義。2、服務(wù)對象印制電路板及組件（PCB&PCBA）生產(chǎn)商：確認(rèn)
2020-02-25 16:04:42
`請問SMT焊點的主要失效機理有哪些？`
2019-12-24 14:51:21
工作地點：深圳薪酬：15萬/年左右簡歷投遞至icy.wu@careerco.cn 失效分析工程師職位描述：1、負(fù)責(zé)產(chǎn)品在驗證、生產(chǎn)和客戶應(yīng)用過程中的失效分析，判定失效模型和機理，并提供解決和改進方案
2013-07-24 19:01:18
的對應(yīng)，定位缺陷位置。該方法常用于LED芯片內(nèi)部高阻抗及低阻抗分析，芯片漏電路徑分析。金鑒實驗室LED芯片漏電失效點分析(Obirch+FIB+SEM)檢測報告數(shù)據(jù)！
2021-02-26 15:09:51
，加速材料老化，使LED光源快速失效。失效模式的物理機理LED燈珠是一個由多個模塊組成的系統(tǒng)。每個組成部分的失效都會引起LED燈珠失效。 從發(fā)光芯片到LED燈珠，失效模式有將近三十種，如表1，LED燈珠
2018-02-05 11:51:41
電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效和故障，從而影響設(shè)備的正常工作。文本分析了常見元器件的失效原因和常見故障。電子設(shè)備中絕大部分故障最終都是由于電子元器件故障引起的。如果熟悉了元器件的故障類型
2018-01-03 13:25:47
次的失效原因即是下一層次的失效現(xiàn)象。越是低層次的失效現(xiàn)象，就越是本質(zhì)的失效原因?；靖拍睢 ?.1 失效和失效分析 產(chǎn)品喪失規(guī)定的功能稱為失效。 判斷失效的模式,查找失效原因和機理,提出預(yù)防再失效
2011-11-29 16:39:42
失效分析基本概念定義：對失效電子元器件進行診斷過程。1、進行失效分析往往需要進行電測量并采用先進的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機理，提出糾正措施，防止這種失效
2016-12-09 16:07:04
元器件進行診斷過程。1、進行失效分析往往需要進行電測量并采用先進的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機理，提出糾正措施，防止這種失效模式和失效機理的重復(fù)出現(xiàn)。3、失效
2016-10-26 16:26:27
模型法和數(shù)值參數(shù)法。對于更復(fù)雜的缺陷和失效機理，常常采用試差法確定關(guān)鍵的影響因素，但是這個方法需要較長的試驗時間和設(shè)備修正，效率低、花費高。在分析失效機理的過程中，采用魚骨圖（因果圖）展示影響因素是行業(yè)
2021-11-19 06:30:00
電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效和故障，從而影響設(shè)備的正常工作。文本分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備中絕大部分故障最終都是由于電子元器件故障引起的。如果熟悉了元器件的故障類型
2018-01-02 14:40:37
電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效和故障，從而影響設(shè)備的正常工作。文本分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備中絕大部分故障最終都是由于電子元器件故障引起的。如果熟悉了元器件的故障類型
2018-01-05 14:46:57
本文采用恒定溫度應(yīng)力加速壽命試驗對功率VDMOS的可靠性進行了研究，得到較為完整的可靠性數(shù)據(jù)，并分析得到引起其漏源電流IDS退化的主要失效機理是柵極擊穿，從而為功率VDMOS類型器件的加工制造及應(yīng)用等方面提供有價值的數(shù)據(jù)。
2021-04-14 06:37:09
本帖最后由 eehome 于 2013-1-5 10:08 編輯
IGBT失效分析大概有下面幾個方面：1、IGBT過壓失效，Vge和Vce、二極管反向電壓失效等。2、IGBT過流，一定程度
2012-12-19 20:00:59
提高電力電子器件的應(yīng)用可靠性顯得尤為重要。一、失效分析簡介失效分析的過程一般是指根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的過程。器件失效是指其功能完全或
2019-10-11 09:50:49
型、功能型失效模式和其他失效模式。在此針對系統(tǒng)中導(dǎo)致電機驅(qū)動系統(tǒng)失效，影響整車正常運行的元件或部件失效進行分析。(2)電機驅(qū)動系統(tǒng)失效機理分析針對電機控制器，選取以下幾種失效模式進行機理分析。①過壓
2016-04-05 16:04:05
﹐通過分析確定失效機理﹐找出失效原因﹐反饋給元器件的設(shè)計﹑制造和使用者﹐共同研究實施糾正措施﹐提高電子元器件的可靠性。[size=17.1429px]電子元器件失效的目的是借助各種測試分析技朮和分析程序
2019-07-16 02:03:44
`電容器的常見失效模式和失效機理【上】電容器的常見失效模式有――擊穿短路；致命失效――開路；致命失效――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等；部分功能失效――漏液
2011-11-18 13:16:54
3.2 電容器失效機理分析3.2.1潮濕對電參數(shù)惡化的影響3.2.2銀離子遷移的后果3.2.3高濕度條件下陶瓷電容器擊穿機理3.2.4高頻精密電容器的低電平失效機理3.2.5金屬化紙介電容失效機理
2011-12-03 21:29:22
目前，隨著現(xiàn)代生活中的人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求不斷提高，芯片的失效分析、可靠性分析也越來越得到關(guān)注和重視，失效分析是通過對現(xiàn)場使用失效樣品、可靠性試驗失效樣品或篩選失效樣品的檢測與解剖分析，得出
2013-06-24 17:04:20
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2020-04-07 10:11:36
請問一下元器件失效機理有哪幾種？
2021-06-18 07:25:31
，必須對所發(fā)生的失效案例進行失效分析?！ ?b class="flag-6" style="color: red">失效分析的基本程序 要獲得PCB失效或不良的準(zhǔn)確原因或者機理，必須遵守基本的原則及分析流程，否則可能會漏掉寶貴的失效信息，造成分析不能繼續(xù)或可能得到錯誤
2018-09-20 10:59:15
高壓陶瓷電容器常見失效分析所謂失效，就是在正常的工作時間內(nèi)無法正常工作。電容器的主要參數(shù)有容量，即C值；損耗值即DF值；耐電壓，即TV值；絕緣電阻即IR值；還有漏電流值。一顆完美的電容器，以上參數(shù)均
2016-11-10 10:22:02
節(jié)能燈功率管的失效機理分析
節(jié)能燈作為一種環(huán)保型的電源，在全世界得到了廣泛的應(yīng)用，國內(nèi)節(jié)能燈的生產(chǎn)
2009-05-13 15:25:19677 
LED失效分析方法簡介
和半導(dǎo)體器件一樣，發(fā)光二極管(LED)早期失效原因分析是可靠性工作的重要部分，是提高LED可靠性的積極主動的
2009-11-20 09:43:531357 從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機理
1、? 引言
半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之
2010-02-22 09:32:422665 
針對一般失效機理的分析可提高功率半導(dǎo)體器件的可靠性. 利用多種微分析手段, 分析和小結(jié)了功率器件芯片的封裝失效機理. 重點分析了靜電放電( electrostatic d ischarge, ESD)導(dǎo)致的功率器
2011-12-22 14:39:32
67 通過剖析一晶體管的失效機理, 給出了對此類晶體管失效分析的方法和思路。討論了晶體管存在異物、芯片粘結(jié)失效和熱應(yīng)力失效等失效模式。
2012-03-15 14:18:0830 判斷失效的模式, 查找失效原因和機理, 提出預(yù)防再失效的對策的技術(shù)活動和管理活動稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36121 一個LED產(chǎn)品的失效，起因可能來自于該產(chǎn)品的任何一個部份，故必須抽絲剝繭方能找到真正的失效原因。針對失效來自LED燈粒而言，因完整的LED燈粒中，LED chip本身很強壯，但包復(fù)chip的
2012-11-23 10:22:576955 本文共討論了MEMS加速計的三種高壓滅菌器失效機理。分別說明了每一種失效機理的FA方法（通過建模和測量）和設(shè)計改進。排除了封裝應(yīng)力作為高壓滅菌器失效的根源。
2013-01-24 10:39:191261 
基于集成電路應(yīng)力測試認(rèn)證的失效機理中文版
2016-02-25 16:08:1110 高壓IGBT關(guān)斷狀態(tài)失效的機理研究，IGBT原理，PT,NPT,Planar IGBT, Trench IGBT
2016-05-16 18:04:330 大功率白光LED的可靠性研究及失效機理分析
2017-02-07 21:04:011 電機驅(qū)動系統(tǒng)失效模式分類 根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時間以及失效產(chǎn)生的后果，可將失效進行不同的分類。電動觀光車常見的失效模式可以分為：損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)
2017-03-09 01:43:231763 的不匹配或設(shè)計與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。 具體來說，失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個方面： 1. 失效分析是確定芯片失效機理的必要手段； 2. 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息； 3. 失效分析為設(shè)計工程師不斷改進或者修
2017-09-27 14:44:4215 元器件長期儲存的失效模式和失效機理
2017-10-17 13:37:3420 元器件的長期儲存的失效模式和失效機理
2017-10-19 08:37:3432 對電子元器件的失效分析技術(shù)進行研究并加以總結(jié)。方法 通過對電信器類、電阻器類等電子元器件的失效原因、失效機理等故障現(xiàn)象進行分析。
2018-01-30 11:33:4110913 本文通過大量的歷史資料調(diào)研和失效信息收集等方法，針對不同環(huán)境應(yīng)力條件下的MEMS慣性器件典型失效模式及失效機理進行了深入探討和分析。
2018-05-21 16:23:456951 
本文主要對變壓器線圈常見的三種失效機理進行了介紹，另外還對電感和變壓器類失效機理與故障進行了分析。
2018-05-31 14:41:529637 
LED燈珠是一個由多個模塊組成的系統(tǒng)。每個組成部分的失效都會引起LED燈珠失效。 從發(fā)光芯片到LED燈珠，失效模式有將近三十種，如表1，LED燈珠的失效模式表所示。這里將LED從組成結(jié)構(gòu)上分為芯片和外部封裝兩部分。 那么， LED失效的模式和物理機制也分為芯片失效和封裝失效兩種來進行討論。
2018-07-12 14:34:007821 電容器在工作應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力綜合作用下，工作一段時間后，會分別或同時產(chǎn)生某些失效模式。同一失效模式有多種失效機理，同一失效機理又可產(chǎn)生多種失效模式。失效模式與失效機理之間的關(guān)系不是一一對應(yīng)的。
2018-08-07 17:45:565295 下面簡要從鉆孔質(zhì)量和除膠過程這兩個方面，闡述 ICD 失效的影響機理，對此類問題的檢測和分析經(jīng)驗進行小結(jié)。
2019-11-29 07:50:007988 LED燈珠是一個由多個模塊組成的系統(tǒng)。每個組成部分的失效都會引起LED燈珠失效。
2020-03-22 23:13:001911 
或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費大把的時間，有時甚至炸機。 所以掌握各類電子元器件的實效機理與特性是硬件工程師比不可少的知識。下面分類細(xì)敘一下各類電子元器件的失效模式與機理。 電阻器失效 失效模式：各種失效的
2020-06-29 11:15:216642 使得LED燈具經(jīng)常出現(xiàn)大批量的LED失效現(xiàn)象。 LED失效分析: LED燈具失效,一是來源于電源和散熱的LED失效，二是來源于LED器件本身的失效，若需要充分分析這類失效，牽涉到光學(xué)、化學(xué)、材料學(xué)、電子物理學(xué)等領(lǐng)域的專業(yè)知識，并搭配精密的儀器與豐富的
2021-11-04 10:15:32561 哲學(xué)上有句話說：找到了真正的問題，也就成功了一半。 LED在生產(chǎn)和使用過程中往往受到各種應(yīng)力和環(huán)境因素的影響，達(dá)不到預(yù)期的壽命或功能，即發(fā)生失效現(xiàn)象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學(xué)科，在提高產(chǎn)品質(zhì)量
2021-11-04 10:13:37571 不當(dāng)使用都可能會損傷芯片，使得芯片在使用過程中出現(xiàn)失效。芯片失效涉及的分析非常復(fù)雜、需要的技術(shù)方法較多。 ? 金鑒實驗室擁有一支經(jīng)驗豐富的LED失效分析技術(shù)團隊，針對LED芯片失效分析，金鑒實驗室首先會明確分析對象的背景，確認(rèn)
2021-11-01 11:14:411728 相對于LED光源來說，LED驅(qū)動電源的結(jié)構(gòu)更復(fù)雜，需要權(quán)衡的地方會更多，使得LED驅(qū)動電源往往比LED光源先失效。據(jù)統(tǒng)計，整燈失效中超過80%的原因是電源出現(xiàn)了故障。經(jīng)過金鑒實驗室長期的實證分析
2021-11-01 15:16:321862 目前，國內(nèi)不少廠家在生產(chǎn)燈具后僅僅對燈具進行簡單的老化測試后出貨，顯然這是無法檢驗出LED的壽命期的失效情況，同時無法保證產(chǎn)品的質(zhì)量，因此后期可能會有不少的客戶退貨返修。也有部分廠家對燈具做高溫
2021-11-01 11:02:231240 
，越來越多的PCB出現(xiàn)了潤濕不良、爆板、分層、CAF等等各種失效問題。PCB失效機理與原因的獲得將有利于將來對PCB的質(zhì)量控制，從而避免類似問題的再度發(fā)生。 ? 金鑒LED品質(zhì)實驗室專門提供PCB失效分析服務(wù)，致力于改善LED品質(zhì)，服務(wù)LED產(chǎn)業(yè)鏈中各
2021-11-01 10:58:301177 談?wù)刄V LED失效分析案子，金鑒實驗室提供 “UV LED失效分析檢測” 服務(wù)，找出的原因有哪些： ? 1. 發(fā)熱量大 ? 目前UV LED的發(fā)光效率偏低，不同的波段，其出光效率不太相同，波段
2021-11-02 17:27:19633 使得LED燈具經(jīng)常出現(xiàn)大批量的LED失效現(xiàn)象。 LED失效分析: LED燈具失效,一是來源于電源和散熱的LED失效，二是來源于LED器件本身的失效，若需要充分分析這類失效，牽涉到光學(xué)、化學(xué)、材料學(xué)、電子物理學(xué)等領(lǐng)域的專業(yè)知識，并搭配精密的儀器與豐富的
2021-11-06 09:37:06639 哲學(xué)上有句話說：找到了真正的問題，也就成功了一半。 LED在生產(chǎn)和使用過程中往往受到各種應(yīng)力和環(huán)境因素的影響，達(dá)不到預(yù)期的壽命或功能，即發(fā)生失效現(xiàn)象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學(xué)科，在提高產(chǎn)品質(zhì)量
2021-11-06 09:35:14538 下圖為貼片電阻結(jié)構(gòu)圖： 失效背景：電阻開路 問題分析：從失效樣品圖片來看，電阻本體沒有電應(yīng)力和結(jié)構(gòu)損傷。如果沒有電應(yīng)力和結(jié)構(gòu)損傷，一般是由于電極開路造成的失效，確定好失效模式和機理就可以針對性進行
2021-12-11 10:11:592702 
或斷裂；致命失效 ――絕緣子破裂；致命失效 ――絕緣子表面飛??；部分功能失效 引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同，失效機理也各不一樣。 各種常見失效模式的主要產(chǎn)
2021-12-11 10:13:532688 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。
2022-02-10 09:49:0618 PCB在實際可靠性問題失效分析中，同一種失效模式，其失效機理可能是復(fù)雜多樣的，因此就如同查案一樣，需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段，方能找到真正的失效原因。在此過程中，任何
2022-02-11 15:19:0126 MOSFET的失效機理 本文的關(guān)鍵要點 ?SOA是“Safety Operation Area”的縮寫，意為“安全工作區(qū)”。 ?需要在SOA范圍內(nèi)使用MOSFET等產(chǎn)品。 ?有五個SOA的制約要素
2022-03-19 11:10:072544 LED（Light emitting diodes）產(chǎn)品在生產(chǎn)與使用過程中，往往容易因各種應(yīng)力或環(huán)境等因素的影響，導(dǎo)致失效不良的產(chǎn)生，即發(fā)生LED失效。
針對LED產(chǎn)品發(fā)生的失效問題，主要
2022-07-19 09:33:052296 的情況。通過對 TVS 篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導(dǎo)致7rvS 器件
2022-10-11 10:05:014604 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。失效分析是確定芯片失效機理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484179 三種失效有一定的相關(guān)性,即一種失效可能引起其它種類的失效。功能失效和電參數(shù)失效的根源時?？蓺w結(jié)于連接性失效。在缺乏復(fù)雜功能測試設(shè)備和測試程序的情況下，有可能用簡單的連接性測試和參數(shù)測試方法進行電測，結(jié)合物理失效分析技術(shù)的應(yīng)用仍然可獲得令人滿意的失效分析結(jié)果。
2022-11-15 11:47:231337 MOSFET的失效機理本文的關(guān)鍵要點?dV/dt失效是MOSFET關(guān)斷時流經(jīng)寄生電容Cds的充電電流流過基極電阻RB，使寄生雙極晶體管導(dǎo)通而引起短路從而造成失效的現(xiàn)象。
2023-02-13 09:30:08829 
介紹了TVS瞬態(tài)抑制二極管的組成結(jié)構(gòu)，失效機理和質(zhì)量因素，希望對你們有所幫助。
2023-03-16 14:53:571 MOSFET等開關(guān)器件可能會受各種因素影響而失效。因此，不僅要準(zhǔn)確了解產(chǎn)品的額定值和工作條件，還要全面考慮電路工作中的各種導(dǎo)致失效的因素。本系列文章將介紹MOSFET常見的失效機理。
2023-03-20 09:31:07640 失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2023-04-18 09:11:211363 
失效率是可靠性最重要的評價標(biāo)準(zhǔn)，所以研究IGBT的失效模式和機理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041120 
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通過對TVS篩選和使用短路失效樣品進行解剖觀察獲得其失效部位的微觀形貌特征．結(jié)合器件結(jié)構(gòu)、材料、制造工藝、工作原理、篩選或使用時所受的應(yīng)力等。采用理論分析和試驗證明等方法分析導(dǎo)致7rvS器件短路失效的原因。
2023-05-12 17:25:483683 
為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進行。
2023-06-25 09:02:30315 
集成電路封裝失效機理是指與集成電路封裝相關(guān)的，導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)力因素及其相互作用過程。
2023-06-26 14:11:26722 本文通過對典型案例的介紹，分析了鍵合工藝不當(dāng)，以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析，以及對各種失效模式總結(jié)，闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良，造成鍵合本質(zhì)失效的機理；并提出了控制有缺陷器件裝機使用的措施。
2023-07-26 11:23:15932 PCB熔錫不良現(xiàn)象背后的失效機理
2023-08-04 09:50:01546 
肖特基二極管失效機理? 肖特基二極管（Schottky Barrier Diode, SBD）作為一種快速開關(guān)元件，在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。但是，隨著SBD所承受的工作壓力和工作溫度不斷升高
2023-08-29 16:35:08973 保護器件過電應(yīng)力失效機理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45267 
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機理的不同，如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機理進行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07724 
1、案例背景 LED燈帶在使用一段時間后出現(xiàn)不良失效，初步判斷失效原因為銅腐蝕。據(jù)此情況，對失效樣品進行外觀觀察、X-RAY分析、切片分析等一系列檢測手段，明確失效原因。 2、分析過程 2.1 外觀
2023-12-11 10:09:07188 
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