動態(tài)
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發(fā)布了文章 2024-04-19 08:22
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發(fā)布了文章 2024-04-04 08:22
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發(fā)布了文章 2024-04-02 08:22
BYO、FPGA開發(fā)板與商用,一文詳解各類原型驗證
幾十年來,數(shù)字芯片設(shè)計復(fù)雜度不斷攀升,使芯片驗證面臨資金與時間的巨大挑戰(zhàn)。在早期,開發(fā)者為了驗證芯片設(shè)計是否符合預(yù)期目標,不得不依賴于耗時的仿真結(jié)果或是等待實際芯片生產(chǎn)(流片)的成果。無論是進行多次仿真模擬還是面臨流片失敗,都意味著巨大的時間和金錢成本。隨著EDA(電子設(shè)計自動化)驗證工具的重要性日益增加,開發(fā)者開始尋求減少流片成本和縮短開發(fā)周期的方法。其中884瀏覽量 -
發(fā)布了文章 2024-03-30 08:22
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發(fā)布了文章 2024-03-23 08:22
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