離子污染評(píng)估：揭秘LED燈具中的離子污染測(cè)試

離子污染物的定義與影響

附著在產(chǎn)品表層、未經(jīng)過(guò)徹底清潔處理的殘留物被叫做離子污染物。當(dāng)這些殘留物暴露于潮濕環(huán)境時(shí)，它們會(huì)轉(zhuǎn)化為帶電的離子。這些殘留物可能來(lái)源于多種源頭，包括電鍍所用的化學(xué)藥水、焊接過(guò)程中使用的助焊劑、用于清潔產(chǎn)品的溶劑，以及人體接觸時(shí)留下的汗液等。

控制離子污染的重要性

控制離子污染度對(duì)于保證電子產(chǎn)品的可靠性至關(guān)重要。殘留的離子污染物在環(huán)境變化時(shí)可能會(huì)改變電子產(chǎn)品表面的絕緣阻抗，導(dǎo)致產(chǎn)品意外失效。同時(shí)，這些離子污染物還會(huì)加速線路的腐蝕，影響產(chǎn)品的壽命。

離子污染物的分類

1. 陽(yáng)離子：包括鋰離子、鈉離子、銨根離子、鉀離子、鎂離子、鈣離子等六種。

2. 陰離子：包括氟離子、氯離子、亞硝酸根離子、溴離子、硝酸根離子、磷酸根離子、硫酸根離子等七種。

3. 弱有機(jī)酸：包括甲酸、乙酸、己二酸、丁二酸、蘋果酸、谷氨酸、甲基磺酸、鄰苯二甲酸等八種。

離子污染的測(cè)試方法

1. ICP測(cè)試：ICP測(cè)試能夠精確測(cè)試離子，但成本較高，且僅限于元素離子測(cè)試，無(wú)法測(cè)試無(wú)機(jī)酸根離子和有機(jī)酸根離子。

2. SIR環(huán)境測(cè)試：SIR測(cè)試，即表面絕緣電阻測(cè)試，主要用于評(píng)估印制電路板、組件表面及周圍線路區(qū)域的清潔度，以及產(chǎn)品使用物料的耐SIR能力。但這種方法無(wú)法對(duì)污染離子進(jìn)行定性、定量測(cè)試。

3. 離子污染測(cè)試儀：這類測(cè)試儀可以在潮濕空氣中檢測(cè)離子形式的殘留物，分為動(dòng)態(tài)測(cè)試和靜態(tài)測(cè)試，但不能對(duì)污染離子進(jìn)行定性、定量測(cè)試。

4. IC測(cè)試 – 離子色譜儀測(cè)試：離子色譜儀測(cè)試能夠精確定性、定量地測(cè)試各種污染離子，包括上述提到的陽(yáng)離子、陰離子和弱有機(jī)酸。

離子清潔度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與流程

離子清潔度的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)通常遵循IPC-TM-650 2.3.28B，該標(biāo)準(zhǔn)使用單位表面積含有某種離子的質(zhì)量來(lái)表征離子清潔度（μg/inch2 或 μg/cm2）。金鑒實(shí)驗(yàn)室嚴(yán)格遵循這一標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合自身的技術(shù)優(yōu)勢(shì)，為客戶提供精準(zhǔn)的離子清潔度評(píng)估，幫助企業(yè)優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝。