當(dāng)傳感器受到加速度作用時(shí),質(zhì)量塊在慣性力的作用下發(fā)生與加速度成比例的位移,帶動(dòng)支撐梁發(fā)生彎曲變形,產(chǎn)生應(yīng)力。由于硅的壓阻效應(yīng),壓敏電阻在應(yīng)力作用下阻值變化,后經(jīng)過惠斯通電橋輸出與加速度成比例的電壓,實(shí)現(xiàn)加速度信號(hào)到電信號(hào)的轉(zhuǎn)換,如圖2所示。
圖1 梁-質(zhì)量塊結(jié)構(gòu)圖
圖2 壓阻式傳感器工作過程在加工傳感器芯片過程中,通常采用離子注入工藝在傳感器應(yīng)力最敏感區(qū)域制作4個(gè)等值的壓敏電阻以提高傳感器的測(cè)量靈敏度。然后由芯片上的金屬引線將壓敏電阻連接成惠斯通電橋,由外接恒壓源或恒流源激勵(lì)工作。當(dāng)傳感器工作時(shí),惠斯通電橋能夠有效地將壓敏電阻的變化轉(zhuǎn)換成電壓信號(hào),且壓阻式傳感器的電壓輸出與加速度輸入成線性關(guān)系。
傳感器的敏感結(jié)構(gòu)
加速度傳感器的主要性能指標(biāo)包括測(cè)量靈敏度、固有頻率、輸出線性度以及可用量程等,其中測(cè)量靈敏度與固有頻率是決定傳感器應(yīng)用范圍的重要指標(biāo)。對(duì)于某一結(jié)構(gòu)的傳感器來說,提升固有頻率則必須增加結(jié)構(gòu)剛度、減小質(zhì)量塊,而這必然會(huì)減小結(jié)構(gòu)的靜態(tài)變形,造成敏感結(jié)構(gòu)上的應(yīng)力減小,降低傳感器靈敏度;反之,提升傳感器測(cè)量靈敏度也會(huì)造成傳感器固有頻率的下降。因此,緩解固有頻率與測(cè)量靈敏度之間的制約關(guān)系,設(shè)計(jì)具有高頻響、高靈敏度的敏感結(jié)構(gòu)成為機(jī)械故障信息監(jiān)測(cè)用MEMS加速度傳感器研制中的重點(diǎn)。為了解決上述問題,本文以“小變形-大應(yīng)力”為設(shè)計(jì)思想,尋求合適的傳感器敏感結(jié)構(gòu),使傳感器具有較大結(jié)構(gòu)剛度的同時(shí),壓敏電阻所處位置仍有較大的敏感應(yīng)力,以提高傳感器靈敏度,并據(jù)此設(shè)計(jì)了具有梁膜結(jié)構(gòu)、孔縫雙橋結(jié)構(gòu)以及復(fù)合多梁結(jié)構(gòu)的3種壓阻式加速度傳感器。
圖3 ? 梁膜結(jié)構(gòu)示意圖梁膜結(jié)構(gòu)(圖3)是對(duì)傳統(tǒng)懸臂梁結(jié)構(gòu)的改進(jìn),提升了傳感器的固有頻率,降低了傳感器的橫向交叉干擾,同時(shí)較小的膜結(jié)構(gòu)厚度可以減小固有頻率上升對(duì)傳感器靈敏度的影響。
圖4 孔縫雙橋結(jié)構(gòu)示意圖
孔縫雙橋結(jié)構(gòu)(圖4)和復(fù)合多梁結(jié)構(gòu)(圖5)均以傳統(tǒng)雙橋結(jié)構(gòu)為基礎(chǔ),前者通過引入應(yīng)力集中孔縫,在提升傳感器靈敏度的同時(shí)減小敏感結(jié)構(gòu)的剛度流失;后者引入短小敏感梁,在提升傳感器固有頻率的同時(shí),利用結(jié)構(gòu)的應(yīng)變放大作用為傳感器提供較高測(cè)量靈敏度。
圖5 復(fù)合多梁結(jié)構(gòu)示意圖
傳感器芯片的微加工
MEMS加工工藝源于IC制造,大量繼承了包括光刻、薄膜淀積、注入擴(kuò)散、干法和濕法刻蝕等在內(nèi)的IC制造技術(shù)。除此以外,MEMS也有一些特有的工藝,例如犧牲層技術(shù)、各向異性刻蝕、反應(yīng)離子深刻蝕、光刻模鑄造電鍍成型、雙面光刻、鍵合等技術(shù)。在傳感器的微加工工藝中有以下關(guān)鍵技術(shù)需要注意:1)濕法腐蝕與凸角補(bǔ)償。
2)離子注入。
3)ICP蝕刻。
4)硅-玻璃陽極鍵合。
由于3種結(jié)構(gòu)加速度傳感器的工藝流程類似,本文以復(fù)合多梁結(jié)構(gòu)為例,簡(jiǎn)要介紹加速度傳感器主要的加工流程。加速度傳感器的加工材料包括厚度為400μm、直徑為100mm的n型(100)晶面雙拋單晶硅片與厚度為500μm的Pyrex7740玻璃片。整個(gè)加工流程需要8塊掩模板,其中7塊用于加工傳感器的硅質(zhì)結(jié)構(gòu)以及壓敏電阻、金屬引線等,剩余1塊用于沉積玻璃片上的防吸附金屬電極。傳感器工藝流程如下:1)清洗硅片,雙面熱氧化得到SiO2層.
2)硅片的壓敏電阻P-區(qū)硼摻雜至需求濃度.
3)在金屬接觸區(qū)硼離子注入,形成P+區(qū)域
4)濺射金屬,正面光刻,形成鋁引線.
5)正面保護(hù),背面ICP刻蝕形成質(zhì)量塊活動(dòng)阻尼間隙.
6)使用低壓化學(xué)氣相沉積淀積Si3N4層,同時(shí)沉積SiO2層以減小薄膜應(yīng)力,形成KOH腐蝕的掩模層.
7)背面光刻,刻蝕背面SiO2和Si3N4,形成KOH腐蝕的掩模層,掩模版同時(shí)提供活動(dòng)質(zhì)量塊的凸角補(bǔ)償圖形,背面KOH各向異性腐蝕,形成活動(dòng)質(zhì)量塊,正面ICP釋放形成復(fù)合多梁結(jié)構(gòu).
8)硅片通過陽極鍵合技術(shù)粘結(jié)具有防吸附電極的玻璃片,之后劃片,完成工藝過程,得到傳感器芯片。
加工完成后的芯片CCD照片如圖6所示。圖6 加工所得傳感器芯片本文中的MEMS加速度傳感器采用可與IC工藝集成的加工技術(shù),其低成本、微型化以及可大規(guī)模生產(chǎn)的潛力可使MEMS傳感器在未來智能化機(jī)械裝備故障信息無線監(jiān)測(cè)中得到大量應(yīng)用,替代目前常用的較昂貴的壓電式加速度傳感器。同時(shí)“小變形-大應(yīng)力”是高頻響、高靈敏度加速度傳感器設(shè)計(jì)中行之有效的設(shè)計(jì)思路。梁膜結(jié)構(gòu)引入的小厚度膜結(jié)構(gòu)、孔縫雙橋傳感器引入的應(yīng)力集中孔縫以及復(fù)合多梁結(jié)構(gòu)引入的短小敏感梁均在一定程度上提升了傳感器的性能。
-
傳感器
+關(guān)注
關(guān)注
2551文章
51099瀏覽量
753572 -
芯片
+關(guān)注
關(guān)注
455文章
50816瀏覽量
423615 -
壓敏電阻
+關(guān)注
關(guān)注
5文章
882瀏覽量
34557
原文標(biāo)題:機(jī)械故障信息監(jiān)測(cè)MEMS高頻加速度傳感器
文章出處:【微信號(hào):wwzhifudianhua,微信公眾號(hào):MEMS技術(shù)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
評(píng)論