湖南進(jìn)芯電子科技有限公司專利：上電自檢存儲(chǔ)并行系統(tǒng)及方法

湖南進(jìn)芯電子成功獲得了一項(xiàng)關(guān)于“上電后存儲(chǔ)并行自檢系統(tǒng)及方法”的專利，該專利已于2024年5月14日正式授權(quán)發(fā)布（CN117667547B），其初始申請(qǐng)日期為2023年12月13日。據(jù)悉，此項(xiàng)發(fā)明主要面向存儲(chǔ)器自檢技術(shù)領(lǐng)域，其中涉及到多個(gè)子模塊，由云平臺(tái)通過網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行溝通協(xié)調(diào)。

具體操作流程如下：通過自檢判斷模塊啟動(dòng)存儲(chǔ)自檢，接著由自檢執(zhí)行模塊對(duì)所有存儲(chǔ)器進(jìn)行逐個(gè)檢查，同時(shí)設(shè)定定時(shí)計(jì)數(shù)器記錄進(jìn)度。待所有存儲(chǔ)器均完成自檢后，設(shè)置自檢標(biāo)志。中央處理器模塊會(huì)獲取自檢標(biāo)志，并與預(yù)設(shè)的時(shí)間窗口進(jìn)行比對(duì)。如果符合要求，則清除定時(shí)計(jì)數(shù)器的值并進(jìn)入主程序；否則，產(chǎn)生溢出標(biāo)志并引發(fā)不可屏蔽中斷。最后，維保匹配模塊將根據(jù)不可屏蔽中斷生成故障參數(shù)表，導(dǎo)入匹配故障庫(kù)生成維保數(shù)據(jù)信息，以便安排維保人員進(jìn)行相應(yīng)處理。