0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

常見(jiàn)的BGA混裝工藝誤區(qū)分享

jf_17722107 ? 來(lái)源:jf_17722107 ? 作者:jf_17722107 ? 2024-04-28 09:50 ? 次閱讀


BGA混裝工藝中,存在關(guān)于鉛相擴(kuò)散不完整的誤區(qū)。隨著全球無(wú)鉛工藝的普及,大多數(shù)BGA器件已采用無(wú)鉛工藝,但由于特殊需求部分企業(yè)仍使用有鉛制程進(jìn)行焊接。對(duì)于不涉及BGA器件的產(chǎn)品,其工藝可以完全按照有鉛工藝進(jìn)行操作。只有含有無(wú)鉛BGA的有鉛制程才屬于真正的混裝工藝。對(duì)此,業(yè)界存在不同的觀點(diǎn)。

觀點(diǎn)1:更換錫球派(SJ派)
此觀點(diǎn)認(rèn)為在無(wú)鉛BGA用于有鉛工藝時(shí)必須更換錫球,即清除原有的無(wú)鉛錫球,替換為有鉛錫球,并進(jìn)行適當(dāng)?shù)那鍧嵑笤偈褂谩?/p>

這種觀點(diǎn)的好處是可以徹底執(zhí)行
有鉛工藝,但也存在不利因素:
1)清除無(wú)鉛錫球并植入有鉛錫球會(huì)造成兩次熱沖擊,影響器件的壽命;
2)除球過(guò)程中可能導(dǎo)致BGA焊盤的脫落或損壞;
3)現(xiàn)在BGA器件的錫球數(shù)量極多,更換錫球會(huì)增加植球的不良率;如果是手工植球,則會(huì)耗時(shí)耗力。更糟的是,如果某個(gè)球的植球存在缺陷,而沒(méi)有有效的BGA器件測(cè)試工具,則會(huì)增加焊的接困擾。

觀點(diǎn)2:不更換錫球派(XJ派)
XJ派觀點(diǎn)認(rèn)為無(wú)需更換錫球,直接使用有鉛錫膏進(jìn)行焊接,稱為混裝工藝。XJ派混裝工藝被認(rèn)為是主流,但在內(nèi)部也存在兩種具體的細(xì)分觀點(diǎn)。

一種觀點(diǎn)認(rèn)為,在無(wú)鉛BGA中使用有鉛錫膏焊接時(shí),不需要擔(dān)心無(wú)鉛錫球是否熔化,可以完全按照有鉛工藝進(jìn)行操作。這是因?yàn)楦咩UBGA錫球不熔化,只有錫膏會(huì)熔化并潤(rùn)濕錫球,從而完成焊接。這種焊接方式的可靠性同樣滿足Class 3產(chǎn)品的要求。

另一種觀點(diǎn)認(rèn)為無(wú)鉛BGA錫球應(yīng)完全熔化,但為了降低器件本體熱沖擊影響,焊接溫度曲線應(yīng)在無(wú)鉛工藝的下限和有鉛工藝的上限之間。IPC-7350中建議混合工藝下BGA焊點(diǎn)的溫度為228°C到232°C,實(shí)際上,同一顆BGA內(nèi)部焊點(diǎn)和外部焊點(diǎn)的溫度差異都會(huì)超過(guò)4°C。這種混合工藝的建議焊接溫度曲線即熔融時(shí)間在60~90秒內(nèi),無(wú)鉛BGA錫球的熔化時(shí)間及所受熱能有限,會(huì)出現(xiàn)所謂的混合工藝鉛相擴(kuò)散不均勻的現(xiàn)象。

wKgaomYtqwSAW6WtAAI8I8g6aJI168.png

圖1. ENIG混裝工藝鉛相向錫球內(nèi)擴(kuò)散

鉛相擴(kuò)散均勻與焊點(diǎn)可靠性
鉛相擴(kuò)散不均勻的現(xiàn)象是指已經(jīng)熔化的有鉛錫膏中的鉛元素在BGA無(wú)鉛錫球熔化后開(kāi)始擴(kuò)散進(jìn)入錫球,鉛在底部焊錫膏內(nèi),如圖1所示。而鉛相擴(kuò)散均勻是指在完全熔化焊接完成的基礎(chǔ)上,給予更多的熱量和焊接時(shí)間,使金屬原子混合更均勻,鉛相擴(kuò)散均勻。鉛相擴(kuò)散均勻的同時(shí)會(huì)產(chǎn)生較厚的IMC層,部分IMC過(guò)度生長(zhǎng)可能會(huì)因基體無(wú)力承載導(dǎo)致焊點(diǎn)失效。

wKgZomYtqwqAWPogAAFaRrwBmBg792.png


圖2. 鉛相均勻的混裝工藝

那么,鉛相擴(kuò)散均勻是否代表焊點(diǎn)的強(qiáng)度和可靠性更高?還是鉛相集中在PCB一側(cè)使焊點(diǎn)可靠性更好一些?從邏輯上來(lái)說(shuō),有鉛焊點(diǎn)的強(qiáng)度大于無(wú)鉛焊點(diǎn),而鉛相擴(kuò)散的不均勻并不會(huì)降低焊點(diǎn)的強(qiáng)度和可靠性。

需要指出的是,無(wú)論是鉛相擴(kuò)散均勻還是不均勻,焊點(diǎn)的可靠性都受到多個(gè)因素的影響,包括焊接溫度曲線、焊接時(shí)間、焊接材料的特性等。同時(shí),焊接工藝的控制、質(zhì)量檢測(cè)和可靠性測(cè)試也是確保焊點(diǎn)可靠性的重要環(huán)節(jié)。

在實(shí)際生產(chǎn)中,如果焊點(diǎn)的可靠性符合要求,沒(méi)有發(fā)現(xiàn)焊接缺陷或故障,那么無(wú)需過(guò)分擔(dān)心鉛相擴(kuò)散的均勻性或不均勻性。然而,如果產(chǎn)品出現(xiàn)焊點(diǎn)故障或不良問(wèn)題,鉛相擴(kuò)散不均勻性可能成為問(wèn)題的一個(gè)指示因素。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 工藝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4

    文章

    593

    瀏覽量

    28810
  • 混裝
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    4

    瀏覽量

    6452
  • BGA
    BGA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    543

    瀏覽量

    46887
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    DFT的常見(jiàn)誤區(qū)與解決方案

    DFT(離散傅里葉變換)在信號(hào)處理領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用,但在使用過(guò)程中也常會(huì)遇到一些誤區(qū)。以下是對(duì)DFT常見(jiàn)誤區(qū)的總結(jié)以及相應(yīng)的解決方案: 常見(jiàn)誤區(qū)
    的頭像 發(fā)表于 12-20 09:32 ?245次閱讀

    功率模塊封裝工藝

    功率模塊封裝工藝 典型的功率模塊封裝工藝在市場(chǎng)上主要分為三種形式,每種形式都有其獨(dú)特的特點(diǎn)和適用場(chǎng)景。以下是這三種封裝工藝的詳細(xì)概述及分點(diǎn)說(shuō)明: 常見(jiàn)功率模塊分類 DBC類IPM封裝線
    的頭像 發(fā)表于 12-06 10:12 ?400次閱讀
    功率模塊封<b class='flag-5'>裝工藝</b>

    功率模塊封裝工藝有哪些

    本文介紹了有哪些功率模塊封裝工藝。 功率模塊封裝工藝 典型的功率模塊封裝工藝在市場(chǎng)上主要分為三種形式,每種形式都有其獨(dú)特的特點(diǎn)和適用場(chǎng)景。以下是這三種封裝工藝的詳細(xì)概述及分點(diǎn)說(shuō)明: 一
    的頭像 發(fā)表于 12-02 10:38 ?314次閱讀
    功率模塊封<b class='flag-5'>裝工藝</b>有哪些

    芯片封裝工藝詳細(xì)講解

    芯片封裝工藝詳細(xì)講解
    發(fā)表于 11-29 14:02 ?1次下載

    常見(jiàn)BGA芯片故障及解決方案

    BGA(Ball Grid Array,球柵陣列)芯片在電子設(shè)備中扮演著重要角色,但其也可能出現(xiàn)一些常見(jiàn)故障。以下是一些常見(jiàn)BGA芯片故障及其相應(yīng)的解決方案:
    的頭像 發(fā)表于 11-23 13:54 ?320次閱讀

    BGA封裝常見(jiàn)故障及解決方法

    BGA(Ball Grid Array,球柵陣列)封裝在電子設(shè)備中廣泛應(yīng)用,但其也可能出現(xiàn)一些常見(jiàn)故障。以下是對(duì)這些故障及其解決方法的分析: 一、常見(jiàn)故障 開(kāi)裂 : 溫度過(guò)高 :當(dāng)電子設(shè)備運(yùn)行過(guò)熱
    的頭像 發(fā)表于 11-20 09:27 ?523次閱讀

    邏輯異或的常見(jiàn)誤區(qū)及解決方法

    邏輯異或(Exclusive OR,簡(jiǎn)稱XOR)在理解和應(yīng)用過(guò)程中,確實(shí)存在一些常見(jiàn)誤區(qū)。以下是對(duì)這些誤區(qū)的分析以及相應(yīng)的解決方法: 一、常見(jiàn)誤區(qū)
    的頭像 發(fā)表于 11-19 09:56 ?297次閱讀

    eda的常見(jiàn)誤區(qū)和解決方案

    探索性數(shù)據(jù)分析(EDA)是數(shù)據(jù)分析過(guò)程中的重要步驟,它涉及對(duì)數(shù)據(jù)的初步檢查和分析,以便更好地理解數(shù)據(jù)集的特征和結(jié)構(gòu)。 誤區(qū)1:忽視數(shù)據(jù)清洗 常見(jiàn)誤區(qū): 在沒(méi)有徹底清洗數(shù)據(jù)的情況下就開(kāi)始進(jìn)行EDA
    的頭像 發(fā)表于 11-13 10:59 ?379次閱讀

    BGA連接器植球工藝研究

    球柵陣列(Ball Grid Array,BGA)封裝具有體積小、引腳密度高、信號(hào)完整性和散熱性能佳等優(yōu)點(diǎn),因而廣泛應(yīng)用于大規(guī)模集成電路的封裝領(lǐng)域。植球工藝作為BGA封裝(連接器)生產(chǎn)中的關(guān)鍵
    的頭像 發(fā)表于 07-15 15:42 ?761次閱讀
    <b class='flag-5'>BGA</b>連接器植球<b class='flag-5'>工藝</b>研究

    mos封裝工藝是什么,MOS管封裝類型

    MOS封裝工藝是指將制造好的MOS管芯片通過(guò)一系列步驟封裝到外殼中的過(guò)程。以下是MOS封裝工藝的詳細(xì)步驟和相關(guān)信息:
    的頭像 發(fā)表于 06-09 17:07 ?1602次閱讀

    PCBA裝的優(yōu)勢(shì)及起到的作用

    一站式PCBA智造廠家今天為大家講講混合封裝工藝在PCBA加工的優(yōu)勢(shì)何在?PCBA加工裝工藝所體現(xiàn)的幾大優(yōu)勢(shì)。在現(xiàn)代電子制造業(yè)中,PCBA加工是不可或缺的環(huán)節(jié)。而在PCBA加工技術(shù)中,
    的頭像 發(fā)表于 05-21 09:32 ?322次閱讀

    underfill工藝常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案

    underfill工藝常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案Underfill工藝是一種集成電路封裝工藝,用于在倒裝芯片邊緣點(diǎn)涂環(huán)氧樹(shù)脂膠水,通過(guò)“毛細(xì)管效應(yīng)”完成底部填充過(guò)程,并在加熱情況下使膠水固化。
    的頭像 發(fā)表于 04-09 15:45 ?813次閱讀
    underfill<b class='flag-5'>工藝</b><b class='flag-5'>常見(jiàn)</b>問(wèn)題及解決方案

    半導(dǎo)體封裝工藝的研究分析

    共讀好書(shū) 張?chǎng)?苑明星 楊小渝 (重慶市聲光電有限公司) 摘 要: 對(duì)半導(dǎo)體封裝工藝的研究,先探析半導(dǎo)體工藝概述,能對(duì)其工作原理有一定的了解與掌握;再考慮半導(dǎo)體封裝工藝流程,目的是在作業(yè)階段嚴(yán)謹(jǐn)管
    的頭像 發(fā)表于 02-25 11:58 ?1040次閱讀
    半導(dǎo)體封<b class='flag-5'>裝工藝</b>的研究分析

    LGA和BGA裝工藝分析

    LGA和BGA是兩種常見(jiàn)的封裝工藝,它們?cè)诩呻娐贩庋b中起著重要的作用。
    的頭像 發(fā)表于 01-24 18:10 ?3220次閱讀

    低功耗設(shè)計(jì)的幾個(gè)誤區(qū)分

    誤區(qū)一:我們這系統(tǒng)是220V供電,就不用在乎功耗問(wèn)題了 點(diǎn)評(píng):低功耗設(shè)計(jì)并不僅僅是為了省電,更多的好處在于降低了電源模塊及散熱系統(tǒng)的成本、由于電流的減小也減少了電磁輻射和熱噪聲的干擾。隨著設(shè)備
    發(fā)表于 01-09 08:04