0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

編輯視點(diǎn):TSV的面臨的幾個(gè)問(wèn)題,只是一場(chǎng)噩夢(mèng)?

454398 ? 來(lái)源:eetchina ? 作者:秩名 ? 2012-04-16 08:54 ? 次閱讀

你最近有看到關(guān)于過(guò)孔硅(TSV)的新聞嗎?

·1月31日,CEA-LETI推出一款重要的新平臺(tái)“Open 3D”,為業(yè)界和學(xué)術(shù)界的合作伙伴們,提供了可用于先進(jìn)半導(dǎo)體產(chǎn)品和研究專案的成熟3D封裝技術(shù)。

·3月7日,半導(dǎo)體設(shè)備供應(yīng)商應(yīng)用材料公司(Applied Materials)與新加坡科技研究局旗下的微電子研究中心(IME)合作設(shè)立的先進(jìn)封裝研究中心正式開(kāi)幕。

·3月26日,EDA供應(yīng)商新思科技(Synopsys)公司集結(jié)旗下產(chǎn)品,推出“3D-IC initiative”,為半導(dǎo)體設(shè)計(jì)人員提供了在3D封裝中采用堆疊芯片系統(tǒng)設(shè)計(jì)的解決方案。

令我驚訝的是,歷經(jīng)這么多年的發(fā)展和努力,我們?nèi)晕催_(dá)到可完整量產(chǎn)的階段,相反地,我們還處在基礎(chǔ)研發(fā)時(shí)期,而EDA公司也仍在起步。

業(yè)界許多都認(rèn)為,IBM的Merlin Smith 和Emanuel Stern 是以其“Methods of Making Thru-Connections in Semiconductor Wafers”專利為基礎(chǔ)而發(fā)明TSV技術(shù),該專利于1964年12月28日提出,1967年12月26日獲得核準(zhǔn),專利證號(hào)No. 3,343,256。

TSV的故事

取材自Ignatowski的資料,這是Ignatowski在IBM公布TSV技術(shù)不久后所制作的。

在這一點(diǎn)上,很明顯可看到,IBM仍有許多技術(shù)問(wèn)題待解決。圖3是IBM的資料,主要探討將TSV技術(shù)用于大規(guī)模生產(chǎn)時(shí)將面臨的問(wèn)題。

多年來(lái),業(yè)界不斷研究可實(shí)現(xiàn)量產(chǎn)的技術(shù),但都沒(méi)有真的成功。許多專業(yè)文獻(xiàn)都展示了TSV將超越摩爾定律,改寫(xiě)未來(lái)芯片微縮腳步的美好發(fā)展藍(lán)圖。

德州儀器(TI)的先進(jìn)封裝技術(shù)發(fā)展藍(lán)圖,許多半導(dǎo)體公司都有類似的封裝/TSV技術(shù)發(fā)展目標(biāo)。

TSV的面臨的幾個(gè)問(wèn)題

以下是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)試著實(shí)現(xiàn)TSV技術(shù)時(shí)會(huì)面臨到的幾個(gè)主要問(wèn)題:

制程問(wèn)題:

1. 由于過(guò)孔的尺寸與業(yè)界目前使用的“正常”尺寸非常不同,因此蝕刻和填充非常耗時(shí)。此處的尺寸不同,指的是幾微米到幾十微米的深度和直徑與納米級(jí)尺寸的差異,再加上》5的深寬比。

2. 首先是過(guò)孔,而后才是考慮該往哪個(gè)方向。每一個(gè)步驟,都會(huì)以不同的方式影響整個(gè)工藝。

3. 如何整合來(lái)自不同IDM和/或代工廠的邏輯單元;以及來(lái)自不同存儲(chǔ)器供應(yīng)商的存儲(chǔ)器芯片?

4. 晶圓薄化。如何去處理已經(jīng)經(jīng)過(guò)完全處理、厚20~80微米的晶圓,其中還包含鍵合(bonding)和剝離(de-bonding)等過(guò)程。目前市場(chǎng)盛傳應(yīng)用材料和TEL公司都正在開(kāi)發(fā)這種工具。

5. 晶圓到晶圓(W2W)或晶粒到晶圓(D2W)接合:每一種都是一個(gè)處理難題。

6. 最終的晶圓切割(singulation)

7. TSV專用的基板(載具)

設(shè)計(jì)和EDA工具問(wèn)題:

1. 目前的設(shè)計(jì)規(guī)則與TSV并不相容。

2. 在必須整合來(lái)自各個(gè)不同來(lái)源的產(chǎn)品時(shí),誰(shuí)將負(fù)責(zé)“系統(tǒng)”設(shè)計(jì)?

3. EDA仍然落后。

4. 熱模擬和熱移除問(wèn)題。

后段制程問(wèn)題:

1. 代工廠/ IDM vs. OSAT,如何得知彼此負(fù)責(zé)的部份及進(jìn)度?誰(shuí)又該負(fù)責(zé)良率?

2. 最終測(cè)試。

3. 可靠性。

4. 主代工廠缺乏存儲(chǔ)器專有技術(shù)知識(shí),以及,如何整邏輯單元上整合存儲(chǔ)器?

成本問(wèn)題:

1. 目前,采用TSV技術(shù)的相關(guān)成本要比其他解決方案更高。而這是阻礙TSV發(fā)展和實(shí)際應(yīng)用的主因之一。

2. 此外,采用TSV技術(shù)所需投注的資本支出問(wèn)題也必須解決。圖5是日月光(ASE)所展示的標(biāo)準(zhǔn)TSV制程所需要的不同設(shè)備。

不過(guò),許多人都忽略了目前我們已經(jīng)有能解決這些問(wèn)題的臨時(shí)性解決方案。這些方案可能不是最好的,但它們確實(shí)有用。事實(shí)上,目前已經(jīng)有許多封裝技術(shù)都透過(guò)打線接合以及封裝堆疊等技術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)3D芯片構(gòu)裝(chip on chip)了。

來(lái)自業(yè)界的意見(jiàn)

以下是一些業(yè)界專家過(guò)去幾個(gè)月所提出意見(jiàn)。

***──臺(tái)積電(TSMC)

在去年12月的半導(dǎo)體整合3D架構(gòu)暨封裝研討會(huì)(3D Architectures for Semiconductor Integration and Packaging Conference)中,臺(tái)積電(TSMC)的Doug Yu便在主題演講中指出,臺(tái)積電打算提供包含芯片設(shè)計(jì)、制造、堆疊及封裝在內(nèi)的完整2.5D和3D服務(wù)。Yu是臺(tái)積電整合互連暨封裝研發(fā)總監(jiān),他描述了可將3D整合技術(shù)導(dǎo)入商用化的最佳途徑所需要的關(guān)鍵技術(shù),這意味著臺(tái)積電將會(huì)提供完整的3D IC解決方案。

“TSV比以往任何一種技術(shù)都更復(fù)雜,更具挑戰(zhàn)性,”Yu指出?!斑@是一場(chǎng)全新的競(jìng)賽,但獲勝門(mén)檻卻非常高?!彼赋?,傳統(tǒng)的合作模式很難適用于下一代芯片設(shè)計(jì)。而所有的整合工作也必須簡(jiǎn)化,以減少處理程序和傳統(tǒng)上對(duì)后段制程部份的投資(換句話說(shuō),就是指中段到后段的工具和制程)??偠灾?,Yu認(rèn)為必須具備全方位的專業(yè)知識(shí)、良好的制造能力與客戶關(guān)系,而且要避免與客戶競(jìng)爭(zhēng)。

韓國(guó)──Hynix

Hynix封裝部副總裁Nick Kim聲稱,對(duì)Hynix而言,已經(jīng)沒(méi)有是否要生產(chǎn)3D元件的問(wèn)題了,現(xiàn)在的問(wèn)題只在何時(shí)以及如何開(kāi)始生產(chǎn)。

Kim提供了詳細(xì)的成本明細(xì),說(shuō)明為何3D TSV堆疊要比打線鍵合堆疊制造貴上許多(約1.3倍以上)。整體而言,由于以下所列出的因素可能增加額外費(fèi)用,因此TSV大約會(huì)增加25%的制造成本:

1. 設(shè)計(jì)成本:晶粒的凈面積會(huì)由于TSV陣列而減少;

2. 晶圓廠成本:來(lái)自于形成TSV過(guò)孔必須增加的制程步驟,以及針對(duì)TSV設(shè)備的資本支出。

3. 封裝成本:針對(duì)后段制程設(shè)備,如臨時(shí)接合及分離的凸塊(Bumping)、堆疊、低良率以及資本支出等。

4. 測(cè)試成本:由于必須在最后對(duì)每一層進(jìn)行測(cè)試,因此會(huì)增加探測(cè)和最終封裝測(cè)試時(shí)間。

5. 根據(jù)Hynix的3D發(fā)展計(jì)劃,預(yù)計(jì)2013年以后才能啟動(dòng)TSV量產(chǎn)。

6. 針對(duì)移動(dòng)應(yīng)用在邏輯上堆疊DRAM的產(chǎn)品預(yù)計(jì)2012年小量生產(chǎn),2013~2014年進(jìn)入量產(chǎn)。

7. 針對(duì)圖形應(yīng)用,采用2.5D技術(shù)在硅中介層上放置DRAM的產(chǎn)品今年預(yù)估可小量生產(chǎn),2014年初可望量產(chǎn)。

8. 針對(duì)高性能運(yùn)算,該公司今年也正在研發(fā)可疊加在基板上的3D DRAM,預(yù)計(jì)2013年初小量生產(chǎn),2014年底前量產(chǎn)。

在供應(yīng)鏈管理方面,Kim認(rèn)為Hynix的做法將對(duì)這個(gè)產(chǎn)業(yè)中開(kāi)放的生態(tài)系統(tǒng)有利。在目前的生態(tài)系統(tǒng)中,代工廠和IDM會(huì)先準(zhǔn)備好采用TSV的邏輯和存儲(chǔ)器元件,然后再送到委外組裝測(cè)試/封測(cè)代工(OSAT)進(jìn)行封裝。

整體而言,要在制造廠中采用TSV技術(shù)看來(lái)就像是一場(chǎng)噩夢(mèng)。即使不斷地最佳化每一個(gè)制程步驟,但對(duì)晶圓廠和OSAT而言,要如何完美地協(xié)調(diào)所有運(yùn)送及合作流程,仍然是一件苦差事。

而MonolithicIC已經(jīng)提出了一些相應(yīng)做法,嘗試解決上述問(wèn)題。MonolithicIC公司目前提出的做法有幾項(xiàng)特色:

1. 在堆疊芯片中的過(guò)孔數(shù)量幾乎沒(méi)有限制。

2. 不深的TSV過(guò)孔──是納米級(jí)而非微米級(jí)。

3. 所有制造程序都在IDM或代工廠內(nèi)完成,這種做法可以更好地掌控良率和生產(chǎn)細(xì)節(jié),而且不會(huì)有太多不同意見(jiàn)的干擾。

如果您對(duì)TSV有任何想法,都?xì)g迎加入討論。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • TSV
    TSV
    +關(guān)注

    關(guān)注

    4

    文章

    112

    瀏覽量

    81483
  • 編輯視點(diǎn)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    69

    瀏覽量

    41851
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    使用ADS5403遇到的幾個(gè)問(wèn)題求解

    您好, 我正在嘗試 使用 ADC ADS5403 ,最簡(jiǎn)單的辦法就是參照評(píng)估板,有幾個(gè)問(wèn)題想請(qǐng)教下 1、如評(píng)估板原理圖所示,前端電路采用了雙巴倫的結(jié)構(gòu),我查了些資料,兩個(gè)1:1的雙巴倫有
    發(fā)表于 11-15 06:35

    關(guān)于TDA3116D2的幾個(gè)問(wèn)題求解答

    有以下幾個(gè)問(wèn)題,請(qǐng)教下: 1、在音樂(lè)暫停的時(shí)候,工作電流在500~600ma,這個(gè)正常嗎? 2、供電12V,輸入1K信號(hào),只接上個(gè)4歐的水泥電阻,用示波器觀察,在沒(méi)有失真的情況下,電流只有
    發(fā)表于 10-30 06:29

    有關(guān)TAS5630B的模擬地和地的幾個(gè)問(wèn)題求解

    您好,在此有關(guān)TAS5630B的模擬地和地有幾個(gè)問(wèn)題向您請(qǐng)教下。 1、AGND和GND之間需要接電容或者電感嗎? 2、官方給的資料里,引腳AGND和引腳GND是直接連接在起的,那還有什么區(qū)別
    發(fā)表于 10-18 08:20

    求助,關(guān)于D類功放的幾個(gè)問(wèn)題求解

    本人做的是關(guān)于水聲通信方面的研究,在硬件設(shè)計(jì)上需要用到功放,對(duì)功放效率有定要求,所以想選用D類的 由于對(duì)功放了解不深,所以有幾個(gè)問(wèn)題想請(qǐng)教下: 1、水聲通信的信號(hào)頻率比普通音頻要高
    發(fā)表于 10-15 06:38

    求助,關(guān)于TRAVEO? II MCU安全調(diào)試的幾個(gè)問(wèn)題求解

    我對(duì)TRAVEO? II MCU 的安全調(diào)試有幾個(gè)問(wèn)題。 1.TRAVEO TRAVEO? II 有兩種方式保護(hù)DAP,種是永久禁用,種是身份驗(yàn)證訪問(wèn),對(duì)于身份驗(yàn)證訪問(wèn),它像密碼
    發(fā)表于 05-30 07:34

    在USB中的MaxPktSize的幾個(gè)問(wèn)題求解

    你好,我想問(wèn)下在USB中的MaxPktSize的幾個(gè)問(wèn)題。我在燒錄固件之后發(fā)現(xiàn)MaxPktSize是16384大小。然后在以往的MaxPktSize配置中只有512大小,那么這個(gè)
    發(fā)表于 05-29 06:40

    IOTE 2024上海物聯(lián)網(wǎng)展順利閉幕,座城市與一場(chǎng)展會(huì)的雙向加速

    深圳2024年5月6日 /美通社/ -- 從4月23日的一場(chǎng)大會(huì)開(kāi)始,到24-26日的IOTE會(huì)展節(jié),我們共同見(jiàn)證了物聯(lián)網(wǎng)領(lǐng)域的最新技術(shù)、產(chǎn)品和解決方案的集中展示,感受到了AIoT釋放數(shù)字經(jīng)濟(jì)潛力
    的頭像 發(fā)表于 05-06 20:43 ?286次閱讀
    IOTE 2024上海物聯(lián)網(wǎng)展順利閉幕,<b class='flag-5'>一</b>座城市與<b class='flag-5'>一場(chǎng)</b>展會(huì)的雙向加速

    文解鎖TSV制程工藝及技術(shù)

    TSV(Through-Silicon Via)是種先進(jìn)的三維集成電路封裝技術(shù)。它通過(guò)在芯片上穿孔并填充導(dǎo)電材料,實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)、芯片間以及芯片與封裝之間的垂直連接。
    的頭像 發(fā)表于 04-11 16:36 ?6397次閱讀
    <b class='flag-5'>一</b>文解鎖<b class='flag-5'>TSV</b>制程工藝及技術(shù)

    中國(guó)科技少年的英雄夢(mèng)想,從一場(chǎng)ICT大賽啟程

    一場(chǎng)華為ICT大賽,科技少年之夢(mèng)的起點(diǎn)與歸途
    的頭像 發(fā)表于 04-08 14:22 ?587次閱讀
    中國(guó)科技少年的英雄夢(mèng)想,從<b class='flag-5'>一場(chǎng)</b>ICT大賽啟程

    常見(jiàn)串口通信的幾個(gè)問(wèn)題請(qǐng)教?

    有關(guān)常見(jiàn)串口通信的幾個(gè)問(wèn)題請(qǐng)教論壇里的專家? 1、常見(jiàn)串口通信CAN,DP,PN,ETHER IP/TCP,ETHERCAT等,這些串口協(xié)議的終端電阻分別是多少? 2、這些終端電阻是為了阻抗匹配
    發(fā)表于 04-04 16:30

    關(guān)于使用STM32F412 DFSDM的幾個(gè)問(wèn)題求解

    本人有幾個(gè)問(wèn)題想請(qǐng)教下: 1、使用MCU內(nèi)部DFSD濾波器實(shí)現(xiàn)對(duì)片外24-bit ADC(ADS1246--非∑-△器件)的結(jié)果進(jìn)行sinc3濾波操作,請(qǐng)問(wèn)應(yīng)該如何實(shí)現(xiàn)?(Note.MCU通過(guò)
    發(fā)表于 03-18 06:56

    線路板阻焊掉油:一場(chǎng)對(duì)性能與壽命的挑戰(zhàn)

    線路板阻焊掉油:一場(chǎng)對(duì)性能與壽命的挑戰(zhàn)
    的頭像 發(fā)表于 03-14 15:23 ?1003次閱讀

    EMS電刺激電路的幾個(gè)問(wèn)題

    EMS電刺激電路的幾個(gè)問(wèn)題 1.VP直接用鋰電池、升壓電感、MCU的PWM控制MOS通斷,是否可以?(這種理療級(jí)別的電壓) 2.高壓經(jīng)過(guò)Q13經(jīng)過(guò)人體經(jīng)過(guò)Q16、Q17、R68到GND或者高壓經(jīng)過(guò)
    發(fā)表于 01-23 15:57

    做數(shù)?;旌显O(shè)計(jì)遇到的幾個(gè)問(wèn)題求解

    最近直在做數(shù)模混合方面的設(shè)計(jì),遇到了幾個(gè)問(wèn)題 (1)通常建議AGND和DGND的鋪銅不要上下重疊,如果模擬器件和數(shù)字器件實(shí)在沒(méi)有辦法完全分開(kāi),出現(xiàn)AGND和DGND鋪銅上下重疊時(shí),有什么好的辦法
    發(fā)表于 01-09 07:01

    求助,關(guān)于LTC4370管腳及功能的幾個(gè)問(wèn)題

    工程師,你好!關(guān)于LTC4370有幾個(gè)問(wèn)題需要咨詢下: 1、diode-OR怎么理解 2、管腳EN1和EN2起到什么作用?什么情況下起作用? 3、管腳VCC又是起到什么作用,為什么案例中VCC直接
    發(fā)表于 01-05 07:31