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虹科電源測(cè)試系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本

虹科測(cè)試測(cè)量 ? 2023-09-04 16:22 ? 次閱讀

實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試密度和更低的測(cè)試成本

01

高密度精度測(cè)量單元

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HK-HDPMU 在單板上提供多達(dá) 192 個(gè)額外的獨(dú)立參數(shù)測(cè)量單元 (PMU) 通道。虹科解決方案將增加并行測(cè)試,而無(wú)需創(chuàng)建復(fù)雜的設(shè)備接口板(DIB)。它可用于連續(xù)性、功能或參數(shù)測(cè)試,或者僅用于設(shè)備設(shè)置或加載。與 Teradyne IG-XL 軟件完全集成、易于設(shè)置和高并行測(cè)量能力將顯著降低測(cè)試成本。

主要特征

√為您的 FLEX 測(cè)試儀添加多達(dá) 192 個(gè)獨(dú)立的 PMU 通道

√向后兼容現(xiàn)有測(cè)試程序和測(cè)試硬件

√與 IG-XL 軟件集成

√經(jīng)過(guò) OpenFLEX 認(rèn)證

√低成本的擴(kuò)張?zhí)娲桨?/p>

√快速的設(shè)置時(shí)間和靈活的配置

02

獨(dú)立設(shè)備電源

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獨(dú)立設(shè)備電源 (IDPS) 可以通過(guò)多達(dá) 256 個(gè)獨(dú)立的 DPS 源擴(kuò)展您現(xiàn)有的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備 (ATE),以增加并行測(cè)試。它提供力電壓 (FV) 和測(cè)量電流 (MI),可用于連續(xù)性測(cè)試、參數(shù)電源電流 (IDD) 和靜態(tài)電源電流 (IDDQ) 測(cè)量,或僅用于為被測(cè)設(shè)備供電。HK-IDPS750旨在降低各種應(yīng)用的測(cè)試成本,包括智能卡、存儲(chǔ)器、微處理器FPGA。其設(shè)計(jì)使其在需要許多資源或原始ATE電源不符合所需規(guī)格的應(yīng)用中非常有幫助。

主要特征

√擴(kuò)展 Teradyne J750 的低成本替代方案

√通過(guò)向測(cè)試儀添加多達(dá) 256 個(gè)獨(dú)立設(shè)備電源來(lái)增加并行測(cè)試

√與 IG-XL 軟件集成

√通過(guò)硬件校準(zhǔn)系數(shù)減少編程和設(shè)置時(shí)間

03

實(shí)用設(shè)備電源

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混合信號(hào)、模擬射頻等應(yīng)用的負(fù)載板需要有源元件。為了驅(qū)動(dòng)這些有源組件,需要多個(gè)公用電源。HK-SE-UDPS 是一種經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的選擇,可為您的 Advantest V93K 添加更多公用電源,以驅(qū)動(dòng)運(yùn)算放大器、緩沖器、繼電器和開(kāi)關(guān)。您還可以最大限度地減少在負(fù)載板上添加外部電源的成本。

主要特征

√擴(kuò)展您現(xiàn)有 V93K 測(cè)試儀組的功能

√負(fù)載板上其他電子設(shè)備的電源,例如:運(yùn)算放大器、緩沖器、繼電器、開(kāi)關(guān)等。

√Advantest 提供支持

√與任何其他 DPS 混合

虹科測(cè)試測(cè)量事業(yè)部

虹科測(cè)試測(cè)量事業(yè)部是測(cè)試測(cè)量技術(shù)資源整合服務(wù)商,我們致力于提供一站式的交鑰匙服務(wù)與集成方案。圍繞汽車電子半導(dǎo)體、通信、航空航天、軍工等行業(yè)提供專業(yè)可靠的解決方案,并廣獲客戶好評(píng)。

作為專業(yè)的測(cè)試測(cè)量解決方案服務(wù)商,我們可以提供:

● 數(shù)千種基于PXI、PCI、LXI的功能模塊,滿足您的多樣需求。

● 專業(yè)的解決方案及相應(yīng)高效的定制服務(wù),以客戶需求為目標(biāo)。

● 完善的技術(shù)培訓(xùn)及售后服務(wù),解決您的后顧之憂。

我們始終以客戶的需求為導(dǎo)向,一旦您開(kāi)始應(yīng)用虹科測(cè)試測(cè)量解決方案,我們的團(tuán)隊(duì)將為您提供一對(duì)一的技術(shù)支持、快速響應(yīng)需求,持續(xù)為您創(chuàng)造價(jià)值。

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