0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

電源ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的定制化測(cè)試柜

納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 來(lái)源:納米軟件(系統(tǒng)集成) ? 作者:納米軟件(系統(tǒng)集 ? 2024-08-26 15:55 ? 次閱讀

電源測(cè)試柜

電源自動(dòng)化測(cè)試機(jī)柜是專門用于存放電源測(cè)試系統(tǒng)的柜子,通常具有防潮、防塵、放電磁干擾等作用,保護(hù)電源測(cè)試設(shè)備不受損害。電源測(cè)試柜集成測(cè)試設(shè)備,節(jié)省了空間和減少了儀器混亂,方便移動(dòng)和維護(hù)。

wKgaombHG3mAHAJcABOyHL6j68Q441.png

納米軟件電源ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)機(jī)柜

納米軟件電源模塊測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化內(nèi)嵌式框架結(jié)構(gòu),將測(cè)試設(shè)備與測(cè)試PC集成在電源測(cè)試柜中。該測(cè)試柜是標(biāo)準(zhǔn)36U自動(dòng)化測(cè)試柜,后門和左右側(cè)門可開(kāi)啟,確保了維護(hù)的便捷性。同時(shí)測(cè)試柜配備了空氣開(kāi)關(guān)和急停開(kāi)關(guān),為電源測(cè)試保駕護(hù)航。而且測(cè)試PC支持懸掛和內(nèi)嵌兩種安裝方式,提升了用戶使用的靈活性。

自動(dòng)化測(cè)試柜集成了示波器、數(shù)字萬(wàn)用表、電源、負(fù)載等電源測(cè)試設(shè)備,方便安裝和接線,有效節(jié)省了空間。為滿足不同用戶的測(cè)試需求,電源測(cè)試柜可以靈活設(shè)計(jì),例如添加測(cè)試公板、子板、切換工裝等設(shè)計(jì),進(jìn)一步優(yōu)化了用戶的測(cè)試體驗(yàn),讓測(cè)試更便捷。

wKgZomaaHRCAPJyCAAoKtUWEZ_Y145.png

納米軟件電源測(cè)試系統(tǒng)機(jī)柜適用于各類AC-DC和DC-DC電源模塊測(cè)試,例如:軍品電源測(cè)試、工業(yè)電源測(cè)試、開(kāi)關(guān)電源測(cè)試、磚式電源測(cè)試、VPX電源測(cè)試、礦用電源、電腦電源測(cè)試等。

若有電源模塊自動(dòng)化測(cè)試需求,可在納米軟件官網(wǎng)中了解詳細(xì)電源測(cè)試系統(tǒng)方案。

審核編輯 黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 電源
    +關(guān)注

    關(guān)注

    184

    文章

    17718

    瀏覽量

    250167
  • 自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

    關(guān)注

    0

    文章

    58

    瀏覽量

    14299
  • ATE
    ATE
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    124

    瀏覽量

    26627
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    為什么電源適配器制造商需要ATE測(cè)試系統(tǒng)?

    電子產(chǎn)品日益普及,電源適配器作為其不可或缺的能源供應(yīng)部件,其質(zhì)量直接關(guān)系到電子產(chǎn)品的性能和安全性。因此,電源適配器的生產(chǎn)過(guò)程中,ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)
    的頭像 發(fā)表于 12-20 11:41 ?103次閱讀
    為什么<b class='flag-5'>電源</b>適配器制造商需要<b class='flag-5'>ATE</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>?

    充電樁自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的原理和應(yīng)用

    監(jiān)測(cè)和數(shù)據(jù)分析的能力,通過(guò)對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的深入分析,操作人員可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題,并進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)試與改進(jìn)。在電氣性能測(cè)試方面,充電樁自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)通常配備有可編程交流
    發(fā)表于 12-17 14:39

    儲(chǔ)能逆變器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)原理和應(yīng)用

    儲(chǔ)能逆變器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)原理和應(yīng)用涉及多個(gè)方面,以下是對(duì)其的詳細(xì)闡述:技術(shù)原理儲(chǔ)能逆變器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)原理主要基于電力電子技術(shù)、自動(dòng)化
    發(fā)表于 12-16 15:07

    吉事勵(lì)繼電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng):提升測(cè)試效率與精度

    應(yīng)用前景。 一、SYS2000系列繼電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)概述 繼電器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(ATS)是一種能夠在最少人工干預(yù)下,自動(dòng)完成繼電器各項(xiàng)性能
    的頭像 發(fā)表于 12-09 16:06 ?149次閱讀
    吉事勵(lì)繼電器<b class='flag-5'>自動(dòng)測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>:提升<b class='flag-5'>測(cè)試</b>效率與精度

    一套電源ATE自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)如何完成多型號(hào)電源模塊測(cè)試

    在使用NSAT-8000電源ATE測(cè)試系統(tǒng)后,鑒于不同型號(hào)的VPX電源生產(chǎn)工藝、參數(shù)有所不同,工程師可根據(jù)
    的頭像 發(fā)表于 09-18 18:20 ?251次閱讀
    一套<b class='flag-5'>電源</b><b class='flag-5'>ATE</b><b class='flag-5'>自動(dòng)測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>如何完成多型號(hào)<b class='flag-5'>電源</b>模塊<b class='flag-5'>測(cè)試</b>?

    納米軟件電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與傳統(tǒng)系統(tǒng)修改方案相比有哪些優(yōu)勢(shì)?

    納米軟件電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)與傳統(tǒng)電源測(cè)試系統(tǒng)在功能方面有著很大的不同和差異。
    的頭像 發(fā)表于 09-13 11:57 ?292次閱讀
    納米軟件<b class='flag-5'>電源自動(dòng)測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>與傳統(tǒng)<b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>修改方案相比有哪些優(yōu)勢(shì)?

    電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)原理和應(yīng)用場(chǎng)景

    電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)原理 電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)是一種用于電源性能自動(dòng)化
    發(fā)表于 09-06 15:36

    電源供應(yīng)器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)及其4大功能

    電源供應(yīng)器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)8000是一款0代碼的自動(dòng)化測(cè)試軟件,始終以客戶為導(dǎo)向,在傳統(tǒng)自動(dòng)化
    的頭像 發(fā)表于 09-02 17:49 ?514次閱讀
    <b class='flag-5'>電源</b>供應(yīng)器<b class='flag-5'>自動(dòng)測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>及其4大功能

    開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備:如何實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試?

    開(kāi)關(guān)電源自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備是將測(cè)試軟件和測(cè)試硬件集成在一個(gè)電源測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 08-30 18:19 ?1276次閱讀
    開(kāi)關(guān)<b class='flag-5'>電源自動(dòng)化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>設(shè)備:如何實(shí)現(xiàn)<b class='flag-5'>自動(dòng)化</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>?

    ATE新能源汽車充電樁自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

    產(chǎn)業(yè)鏈中不可或缺的一環(huán)。該測(cè)試系統(tǒng)以其自動(dòng)化和智能的特點(diǎn),在充電樁的性能檢測(cè)中發(fā)揮了至關(guān)重要的作用。 ATE新能源汽車充電樁
    的頭像 發(fā)表于 08-26 15:10 ?503次閱讀
    <b class='flag-5'>ATE</b>新能源汽車充電樁<b class='flag-5'>自動(dòng)測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>

    電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ate為您提供DC-DC電源模塊測(cè)試方案

    電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)已然成為電源模塊測(cè)試的重要方式,為了讓電源測(cè)試更快更智能,納米軟件為您提供DC-
    的頭像 發(fā)表于 07-12 16:05 ?474次閱讀
    <b class='flag-5'>電源自動(dòng)測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b><b class='flag-5'>ate</b>為您提供DC-DC<b class='flag-5'>電源</b>模塊<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方案

    ate測(cè)試設(shè)備檢測(cè)全磚電源模塊項(xiàng)目,提供軟硬件測(cè)試方案

    NSAT-8000電源測(cè)試系統(tǒng)是適用于各類電源模塊測(cè)試ATE
    的頭像 發(fā)表于 07-10 15:11 ?727次閱讀
    <b class='flag-5'>ate</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>設(shè)備檢測(cè)全磚<b class='flag-5'>電源</b>模塊項(xiàng)目,提供軟硬件<b class='flag-5'>測(cè)試</b>方案

    ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備原理及特點(diǎn)介紹

    ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是電子產(chǎn)品和電氣設(shè)備測(cè)試的關(guān)鍵系統(tǒng),其自動(dòng)化能力使其成為電子測(cè)試行業(yè)的首選。
    的頭像 發(fā)表于 07-09 16:47 ?1308次閱讀
    <b class='flag-5'>ATE</b><b class='flag-5'>自動(dòng)測(cè)試</b>設(shè)備原理及特點(diǎn)介紹

    2種形式電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)對(duì)比:標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng) or 定制開(kāi)發(fā)系統(tǒng)?

    納米軟件除了提供標(biāo)準(zhǔn)電源測(cè)試系統(tǒng),也支持定制開(kāi)發(fā)。NSAT-8000電源測(cè)試
    的頭像 發(fā)表于 06-19 17:21 ?598次閱讀
    2種形式<b class='flag-5'>電源自動(dòng)測(cè)試</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>對(duì)比:標(biāo)準(zhǔn)<b class='flag-5'>化</b><b class='flag-5'>系統(tǒng)</b> or <b class='flag-5'>定制</b>開(kāi)發(fā)<b class='flag-5'>系統(tǒng)</b>?

    芯片的出廠測(cè)試ATE測(cè)試的實(shí)施方法

    隨著集成電路技術(shù)的飛速發(fā)展,芯片作為現(xiàn)代電子設(shè)備的核心組件,其性能和質(zhì)量對(duì)于整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性具有至關(guān)重要的影響。因此,在芯片生產(chǎn)過(guò)程中,出廠測(cè)試ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備)
    的頭像 發(fā)表于 04-19 10:31 ?1959次閱讀
    芯片的出廠<b class='flag-5'>測(cè)試</b>與<b class='flag-5'>ATE</b><b class='flag-5'>測(cè)試</b>的實(shí)施方法