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      昊衡科技OLI用于光器件微裂紋檢測

      cctw7788993 ? 來源：昊衡科技 ? 2023-05-23 10:39 ? 次閱讀

      OLI是一款低成本高精度光學鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學相干檢測技術(shù)，利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗， 進而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。

      7ecceef6-f891-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

      圖1.OLI低成本光學鏈路診斷儀

      本次測試使用了探測深度為-90dB的OLI光纖微裂紋檢測儀。圖2為待光測器件，該器件為MPO接頭，器件內(nèi)部有微裂紋如圖3所示，漏光位置為裂紋點。

      7ee4181a-f891-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

      圖2.待測光器件

      7eeed08e-f891-11ed-90ce-dac502259ad0.png

      圖3.光器件內(nèi)部裂紋

      7f139c34-f891-11ed-90ce-dac502259ad0.jpg

      圖4.OLI測試結(jié)果

      將該器件接入OLI光纖微裂紋檢測儀進行測試，測試結(jié)果如圖4所示。本次測試檢測出光器件MPO端面對接處的反射、光器件內(nèi)部微裂紋和其余光鏈路。OLl光纖微裂紋檢測儀的高精度探測能力，可以實現(xiàn)對于微小裂紋的高精度檢測和定位，為光學器件的生產(chǎn)和檢測提供了有效保障。

      審核編輯：湯梓紅

      聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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      原文標題：昊衡科技-OLI用于光器件微裂紋檢測

      文章出處：【微信號：Mega-Sense，微信公眾號：昊衡科技】歡迎添加關(guān)注！文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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