大多數(shù)人都知道,當(dāng)電流通過走線(導(dǎo)體)時(shí),走線將會(huì)變熱。這種溫度升高是由于走線電阻內(nèi)耗散的I2R功率損耗引起的。銅走線的電阻主要取決于其幾何形狀(橫截面積),有很多研究項(xiàng)目正在研究通過(已知尺寸)走線的電流與走線最終溫度之間的關(guān)系。
但實(shí)際情況要復(fù)雜得多。走線的物理屬性有助于冷卻走線。這些屬性通常包括熱量通過材料傳導(dǎo)離開走線、熱量通過空氣對(duì)流離開走線以及熱量通過輻射離開走線。當(dāng)I2R加熱等于冷卻時(shí),即當(dāng)電子和物理屬性平衡時(shí),達(dá)到穩(wěn)定的溫度。
我們投入了若干年的時(shí)間來合作研究這些屬性的相互作用。Douglas是一名電氣工程師,了解電子學(xué)。Johannes是一位熱力物理學(xué)家,了解熱傳遞。兩位專家闡述了很多通孔的散熱特性。
通孔不會(huì)變得很熱
電流通過走線,遇到電阻,走線就會(huì)發(fā)熱,導(dǎo)致I2R功率損耗。這種溫度升高是由我們所稱的“焦耳加熱”引起的:
焦耳加熱是電流通過電氣導(dǎo)體產(chǎn)生熱能的物理效應(yīng)。然后通過體材料溫度的升高可證明這種熱能,因此稱之為“加熱”。人們可以將焦耳加熱視為“電能”和“熱能”之間的轉(zhuǎn)換,遵循能量守恒原理。
通常,對(duì)于給定的走線,走線的電流增加將對(duì)應(yīng)著走線溫度的增加。當(dāng)談到通孔時(shí),行業(yè)指南通常是使通孔的橫截面積調(diào)整為等于其主走線的橫截面積。那么,通孔的溫度將與走線的溫度相同。IPC在IPC-2152中正式確定了該指南:
通孔的橫截面積至少應(yīng)與導(dǎo)體的橫截面積相同,或大于進(jìn)入其中的導(dǎo)體橫截面積。如果通孔的橫截面積小于導(dǎo)體的橫截面積,則可以使用多個(gè)通孔來保持與導(dǎo)體相同的橫截面積。
研究發(fā)現(xiàn),這一指南是完全錯(cuò)誤的。參考文獻(xiàn)[5]給出了將電流通過直徑為10mil[0.254mm]鍍(1.0盎司)通孔的實(shí)驗(yàn)結(jié)果。當(dāng)施加4.75A電流通過通孔時(shí),記錄到通孔溫度為64.5℃。當(dāng)施加8.6A的電流時(shí),通孔溫度僅為44.5℃,低了20℃。區(qū)別是什么?
在第一種情況下,主走線的寬度為27mil[0.6858mm]。
在第二種情況下,主走線的寬度為200mil[5.08mm]。
在第二種情況下,更寬的走線為通孔提供了相當(dāng)大的散熱片。熱量從通孔傳導(dǎo)得如此之快,以至于通孔溫度根本無法比主走線高。當(dāng)然,這意味著在高載流走線上需要更少的通孔。
在電氣工程領(lǐng)域,我們知道導(dǎo)體的溫度與電流有關(guān)。但對(duì)于特殊情況的通孔,熱傳遞的物理屬性決定了具體情況,通孔的溫度與電流沒有直接關(guān)系。
散熱通孔不太有效
通常,如果在頂層有一個(gè)熱量大的元器件,會(huì)在其下放置銅焊盤來幫助散熱。一些人建議將銅(填充)通孔從焊盤通到電路板底層的“某個(gè)物體”上。這個(gè)“物體”可能是與頂部焊盤大小相同的銅焊盤,也可能是某種銅平面。這些通孔被稱為“散熱通孔”,互聯(lián)網(wǎng)上有大量關(guān)于散熱通孔的文章和建議。
但幾乎所有的參考文獻(xiàn)都說,需要多個(gè)散熱通孔(10個(gè)),因?yàn)槊總€(gè)散熱通孔的效率都很低。事實(shí)證明,散熱通孔無效的原因與物理有關(guān)。
散熱通孔通常連接在兩個(gè)表面之間。兩個(gè)表面之間的熱導(dǎo)率是平行重疊面積及其他因素的函數(shù)。當(dāng)然,焊盤面積比散熱通孔橫截面積大得多。因此,底層焊盤的存在已經(jīng)為通過板材的熱傳導(dǎo)性提供了重要路徑,從而降低了兩個(gè)焊盤之間的溫度。在施加第一個(gè)散熱通孔之前,已經(jīng)發(fā)生了大量的冷卻(溫度降低)。通過材料的熱傳導(dǎo)物理屬性已經(jīng)完成了我們所需要的許多工作。這就是散熱通孔對(duì)進(jìn)一步冷卻作用不大的原因。
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:為什么通孔不會(huì)發(fā)熱?
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