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新材料測(cè)樣難??jī)?yōu)可測(cè)提供白光干涉儀測(cè)試服務(wù)

jf_54367111 ? 來源:jf_54367111 ? 作者:jf_54367111 ? 2023-05-04 19:46 ? 次閱讀

隨著 “中國(guó)制造”向高質(zhì)量、高性能、高精密發(fā)展吹起號(hào)角,半導(dǎo)體、光學(xué)、3C制造、新材料、精度加工、醫(yī)療、航空航天、新能源等高端產(chǎn)業(yè)相繼得到重點(diǎn)投資和扶持,推動(dòng)國(guó)產(chǎn)制造“高端化”已成為未來5-10年的發(fā)展基調(diào)。

伴隨這些產(chǎn)業(yè)技術(shù)的不斷突破,各種新材料、新器件、新工藝在高校、實(shí)驗(yàn)室、行業(yè)企業(yè)不斷涌現(xiàn)。

如何對(duì)這些樣品實(shí)現(xiàn)便捷、高效的測(cè)量測(cè)試成為需要解決的問題。

當(dāng)前測(cè)試?yán)Ь?/p>

以往,高校、實(shí)驗(yàn)室、行業(yè)企業(yè)客戶以委外測(cè)量方式為主。在客戶(尤其是企業(yè)客戶)出現(xiàn)大量測(cè)量件時(shí),需要在短時(shí)間內(nèi)緊急完成測(cè)樣時(shí),委外測(cè)試存在無法滿足大批量測(cè)量需求的問題,如某晶圓代工廠大批量來料后需要緊急測(cè)量樣品的表面粗糙度是否合格;客戶的新工藝、新材料出現(xiàn)后勢(shì)必對(duì)測(cè)量技術(shù)有更高的要求,委外測(cè)量存在技術(shù)及設(shè)備難以跟上的問題,如某高校新型薄膜材料樣品的表面膜厚檢測(cè),測(cè)量精度要求達(dá)到納米級(jí),并要求不受樣品表面高反光影響;多批次委外測(cè)樣,委外測(cè)量設(shè)備或數(shù)據(jù)未必能保證一致,影響客戶后續(xù)研發(fā)、生產(chǎn)的調(diào)試調(diào)節(jié)。

優(yōu)可測(cè)的測(cè)試服務(wù)

優(yōu)可測(cè)的白光干涉儀測(cè)試提供小批量免費(fèi)測(cè)樣服務(wù),測(cè)樣時(shí)間周期可控,專人對(duì)接。優(yōu)可測(cè)白光干涉儀具備高精度、高速度、可定制、大角度特性的優(yōu)勢(shì),測(cè)樣速度快、效率高,滿足復(fù)雜測(cè)量需求下的樣品測(cè)樣。

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優(yōu)可測(cè)的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

1.精確捕捉,超高精度微觀3D形貌的能力

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀測(cè)試可用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)別測(cè)量,高達(dá)0.03nm的測(cè)量精度可對(duì)各種新型高精度工藝器件樣品的微觀表面3D形貌進(jìn)行精確還原

2.超高速,極大提高測(cè)量效率,可用于自動(dòng)化產(chǎn)線

測(cè)量速度以秒級(jí)計(jì)算,開啟一鍵測(cè)量模式,可滿足大批量產(chǎn)品抽樣檢測(cè),以及可定制到自動(dòng)化產(chǎn)線,滿足在線測(cè)量需求。

3.滿足新型材料的復(fù)雜測(cè)量

優(yōu)可測(cè)白光干涉儀可測(cè)量低至0.02%反射率的高透明新型材料產(chǎn)品,輕松采集信息。超越傳統(tǒng)的極大角度特性,光滑面角度特性最高53°,局部剖面傾角可達(dá)90°,對(duì)樣品的R角具備優(yōu)秀測(cè)量能力。

4.測(cè)量不同樣品數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性

對(duì)不同批次不同材料的樣品,具備測(cè)量的高穩(wěn)定性,RMS重復(fù)性最高可達(dá)0.002nm。

審核編輯黃宇

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