機器學(xué)習(xí)和大數(shù)據(jù)分析如何發(fā)現(xiàn)切實可行的芯片設(shè)計見解

隨著 SoC 和系統(tǒng)復(fù)雜性的增加、市場窗口的縮小以及工程資源挑戰(zhàn)的增加，任何可以提高芯片設(shè)計效率（更不用說相關(guān)的芯片質(zhì)量）都可以為您帶來優(yōu)于競爭對手的顯著優(yōu)勢。

事實證明，改進設(shè)計流程所需的原材料一直存在——它們存在于工具不斷生成的互連電子設(shè)計自動化 （EDA） 指標和設(shè)計流程數(shù)據(jù)中。有效地解析大量數(shù)據(jù)以找到可以真正產(chǎn)生影響的可操作見解是一項極具挑戰(zhàn)性的工作。

提示大數(shù)據(jù)、數(shù)據(jù)科學(xué)和數(shù)據(jù)分析技術(shù)的及時融合;通過它們獨特的合并，可以收集、策劃龐大、豐富但長期未開發(fā)的信息源，最重要的是，有效地投入工作，以幫助加速設(shè)計過程。

在這篇博文中，我將分享 SoC 設(shè)計范式的這一新提升如何在設(shè)計流程可見性和可觀察性方面實現(xiàn)可衡量的改進，為更好、更快、數(shù)據(jù)驅(qū)動的設(shè)計方式提供深入的設(shè)計分析，并在整個業(yè)務(wù)中實現(xiàn)知識主導(dǎo)的文化，以實現(xiàn)更智能的端到端決策。

超越電子表格，連接各個點

從 RTL 到簽核的設(shè)計流程由眾多引擎組成，旨在盡可能平穩(wěn)高效地實現(xiàn)您的目標功耗、性能和面積 （PPA） 目標。從這個流中產(chǎn)生了大量主要是非結(jié)構(gòu)化的數(shù)據(jù)。但是假設(shè)您可以以正確的方式連接該數(shù)據(jù)中的所有數(shù)據(jù)點。例如，在這種情況下，您可以潛在地發(fā)現(xiàn)模式，這些模式會引導(dǎo)您獲得額外的設(shè)計改進機會，或者您可以更早解決的領(lǐng)域，以促進更快的設(shè)計收斂。

工程師嘗試通過日志文件查找見解，但這可能會變得笨拙、不準確且難以共享。提取數(shù)據(jù)、將其放入電子表格并設(shè)置其格式以使模式和趨勢變得明顯且易于共享是一個耗時且手動的過程。然而，這是工程師在創(chuàng)建項目進度報告時必須做的事情。我們需要的是一種通過更全面、更整體的數(shù)據(jù)視圖來“連接點”的方法。例如，將與設(shè)計中某一部分中的時序問題相關(guān)的數(shù)據(jù)與另一個區(qū)域中有關(guān)擁堵問題的數(shù)據(jù)相結(jié)合會很有幫助。..。..看看揭示了什么。

數(shù)據(jù)可視化和設(shè)計優(yōu)化技術(shù)有助于填補空白。例如，高級數(shù)據(jù)可視化可以通過在所有實施項目和活動中提供統(tǒng)一的 360 度所有工具流數(shù)據(jù)來促進更好的決策。從因果關(guān)系分析到規(guī)范性解決方案，有針對性的可操作見解可以幫助解鎖未開發(fā)的 PPA。借助易于共享的設(shè)計師知識，團隊可以提高生產(chǎn)力并更快地完成設(shè)計。

更智能的數(shù)據(jù)使用，實現(xiàn)更智能的設(shè)計

SynopsysDesignDash產(chǎn)品是數(shù)據(jù)可視化和機器智能 （MI-） 引導(dǎo)式設(shè)計優(yōu)化解決方案的一個例子，它可以增強設(shè)計流程、培養(yǎng)更高效的設(shè)計師工作流程并降低項目風(fēng)險。該解決方案可自主抽取指標數(shù)據(jù)，同時直接從數(shù)字設(shè)計流程中的工具共享的獨特單一數(shù)據(jù)模型中智能地管理相關(guān)的分析數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)被加載到始終在線的行業(yè)標準數(shù)據(jù)庫中，使信息易于通過基于 Web 的 UI 進行搜索、過濾、圖表、比較、共享和交叉引用。

借助機器學(xué)習(xí)功能，DesignDash技術(shù)揭示了為什么會發(fā)生某些事情。它自主分類設(shè)計趨勢，識別設(shè)計限制，并在整個設(shè)計流程中提供指導(dǎo)性根本原因分析。無論團隊需要了解設(shè)計失敗的主要原因，關(guān)鍵路徑如何在流程的每個階段進行結(jié)構(gòu)演變，或者與以前的實驗相比，特定運行如何，這些問題以及更多問題都可以通過該技術(shù)得到解答。

系統(tǒng)和規(guī)模的復(fù)雜性正在增加，而上市時間的壓力繼續(xù)變得更加嚴峻。獲得每個設(shè)計和項目的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)的廣泛視圖可以補充推動芯片設(shè)計質(zhì)量和設(shè)計生產(chǎn)力成就的工程獨創(chuàng)性。通過機器學(xué)習(xí)功能增強的數(shù)據(jù)可視化可以帶來更快、更智能和更好的設(shè)計。

審核編輯：郭婷