- 完成了基于110納米的全局快門和SPAD工藝的研發(fā)
- 可滿足多種應(yīng)用,包括汽車和工業(yè)機(jī)器視覺、增強(qiáng)現(xiàn)實(shí)(AR)/虛擬現(xiàn)實(shí)(VR)可穿戴設(shè)備等
據(jù)麥姆斯咨詢報道,近日,DB HiTek公司宣布已研發(fā)出基于110納米的全局快門(Global Shutter)和單光子雪崩二極管(Single-Photon Avalanche Diode,SPAD)工藝,并將擴(kuò)展其圖像傳感器產(chǎn)品系列。
全局快門使得圖像傳感器能夠同時感應(yīng)所有像素的圖像信息,即使在拍攝快速移動的物體時,也能準(zhǔn)確記錄視頻和圖像而不會失真。此外,全局快門還能助力機(jī)器視覺高度精確地識別物體形態(tài)。近來,全局快門廣泛應(yīng)用于工業(yè)機(jī)器視覺,此外還適用于汽車和無人機(jī)攝像頭等各種應(yīng)用。
DB HiTek的全局快門基于110nm背照式(BSI)工藝,并采用了遮光罩(light shield)和導(dǎo)光(light guide)技術(shù),擁有99.99%的全局快門效率(GSE)性能,并且能支持最小至2.8um的多種像素尺寸。
DB HiTek的CMOS圖像傳感器技術(shù)路線圖
SPAD是一種光電傳感技術(shù),可以檢測到單光子水平的弱光信號。SPAD能夠識別從傳感器發(fā)射光線到物體反射回光線所需的飛行時間(ToF),從而測量出傳感器與物體之間的距離。憑借長距離和高精度優(yōu)勢,SPAD被積極應(yīng)用于車載激光雷達(dá)(LiDAR)等ToF測距領(lǐng)域,同時也適用于智能手機(jī)、AR/VR可穿戴設(shè)備、監(jiān)控攝像頭和工業(yè)機(jī)器視覺等各種應(yīng)用。
DB HiTek以110納米前照式(FSI)工藝為基礎(chǔ),實(shí)現(xiàn)了3.8%光子探測概率(@905納米波長)性能,公司還計劃在今年內(nèi)實(shí)現(xiàn)BSI工藝,并完成7%光子探測概率(@905納米波長)的SPAD工藝研發(fā)。
為了協(xié)助無晶圓廠客戶按時進(jìn)入市場并提高產(chǎn)品競爭力,DB HiTek將在今年9月提供專門為全局快門和SPAD技術(shù)研發(fā)的多項目晶圓(Multi Project Wafer,MPW)服務(wù)。
關(guān)于DB HiTek
DB HiTek前身是Dongbu HiTek(東部高科),是全球領(lǐng)先的專業(yè)晶圓代工廠,公司總部位于韓國,在BCDMOS、CMOS圖像傳感器(CIS)、MEMS、MS/RF和SJ MOSFET工藝方面具有競爭優(yōu)勢。
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原文標(biāo)題:DB HiTek研發(fā)全局快門和SPAD技術(shù),拓展ToF圖像傳感器業(yè)務(wù)
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