通過光電耦合器CTR變化預(yù)測LED現(xiàn)場工作壽命

介紹

光電耦合器廣泛地應(yīng)用于高電壓隔離和電氣噪聲抑制上，這兩者為電氣系統(tǒng)中于不同電壓電位間正確發(fā)送數(shù)據(jù)的基本要求。這類系統(tǒng)必須達到多年的可靠運行，特別是用于工業(yè)、醫(yī)療、可再生能源，以及其他期望較長工作壽命的系統(tǒng)。

Avago的光電耦合器采用高可靠性LED滿足關(guān)鍵系統(tǒng)可靠性要求，LED是一種成熟的技術(shù)，已有超過35年的歷史，自面市以來，Avago持續(xù)加強生產(chǎn)流程改善LED性能，使得Avago的光電耦合普及到工業(yè)、可再生能源、汽車，甚至是超高關(guān)鍵任務(wù)，如軍事和航天等應(yīng)用。

盡管已經(jīng)有許多惡劣環(huán)境應(yīng)用采用了光電耦合器，但是對于光電耦合器的工作壽命還是有所疑慮，原因是LED的光輸出功率會隨著時間減低，光功率的降低則可能會引起光電耦合器錯誤工作和可靠性問題。本篇文章通過介紹光電耦合器行業(yè)領(lǐng)先廠商安華高科技如何采用基于Black模型，使用加速度條件下LED可靠性壓力數(shù)據(jù)預(yù)測LED劣化程度來解決性能考量問題，這是一個普遍為業(yè)內(nèi)接受，于1960年代末期由 J.R Black 所發(fā)展，用來估計電子遷移平均失效前時間（MTTF， Mean-Time-To-Failure）的實證模型［1］。這個分析可以為設(shè)計工程師帶來更高的信心和設(shè)計靈活度，幫助他們?yōu)閼?yīng)用找出最合適的LED順向輸入電流。

LED可靠性壓力測試

光電耦合器使用LED作為跨越隔離屏障傳送數(shù)字或模擬信息的方法，在另一端則使用光晶體管或其他光敏器件轉(zhuǎn)換光學(xué)信號回到電子信號。設(shè)計工程師可以通過設(shè)置一個限流電阻來控制LED的輸入驅(qū)動電流（IF）以產(chǎn)生目標(biāo)光輸出。然而由于LED的PN結(jié)長時間受到熱和電壓力影響，光電耦合器的量子效率，也就是每單位輸入電流所產(chǎn)生的光子數(shù)會隨著時間而減少［2］。Avago通過進行壓力測試，對使用在不同光電耦合器產(chǎn)品中的各種LED類型進行長達一萬小時的連續(xù)工作來決定LED的劣化情況，其中一項壓力測試，高溫操作壽命（HTOL， High Tempertaure Operating Life）測試于125oC溫度和20mA連續(xù)順向電流（IF）的條件下進行。

電流傳輸比（CTR， Current Transfer Ratio）是一個常見的光電耦合器電氣參數(shù)，CTR定義為通過光二極管檢測光產(chǎn)生的集電極輸出電流（IC）相對于LED順向輸入電流的大小，通常以百分比表示，設(shè)計工程師可以使用一段時間后CTR的變化來估計LED的劣化程度。

電流傳輸比

受到輸入電流和溫度的影響，LED會因晶體結(jié)構(gòu)的熱壓力而產(chǎn)生劣化，因此，盡管順向電流IF保持不變，LED的光輸出也會隨著時間而逐漸減低，從而光二極管的IC和CTR就會降低。在每個壓力測試的預(yù)定時間點，如第168小時、第500小時或1，000小時會進行IC電流的測量并計算CTR，使用取得的數(shù)據(jù)點進行劣化程度的繪圖，顯示出CTR相對于壓力測試進行小時數(shù)的關(guān)系。

基于Black模型的加速系數(shù)

基于Black模型的加速系數(shù)（AF， Acceleration Factor）可以用來進行短時間內(nèi)提高溫度和壓力實際HTOL壓力測試數(shù)據(jù)點到實際應(yīng)用工作情況下光電耦合器可能壽命的相關(guān)性預(yù)測。

對于相同的CTR劣化表現(xiàn)，LED的現(xiàn)場工作壽命可以通過以下方程進行預(yù)測：

LED預(yù)測現(xiàn)場工作小時數(shù) = AF x LED壓力小時

方程 （2）以AF作為乘數(shù)，考慮使用一個Avago光電耦合器壓力數(shù)據(jù)條件作為數(shù)值范例：順向電流IF=20mA，溫度125oC，LED為AA類型，于1，000小時壓力測試時間測得的CTR劣化為99.2%，如果光電耦合器的應(yīng)用條件為IF=5mA （假設(shè)100%占空比工作），環(huán)境溫度為60oC，AF可以計算為：

LED的預(yù)估現(xiàn)場工作壽命為 AF × 壓力測試小時數(shù) = 184.7 × 1，000 = 184，767 小時，約等于21年，此為劣化至99.2% CTR的AA類型LED預(yù)估現(xiàn)場工作時間，通過計算出AF值，所有壓力測試數(shù)據(jù)點都可以映射到LED的預(yù)期現(xiàn)場工作壽命。

Avago光電耦合器產(chǎn)品中的LED采用砷化鋁鎵（AlGaAs， Aluminum Gallium Arsenide） Type 1、Type 2或磷砷化鎵（GaAsP， Gallium Arsenide Phosphide），其中Type 1 AlGaAs LED主要應(yīng)用于寬體400-mil DIP-8和500-mil DIP-10封裝數(shù)字光電耦合器、隔離放大器、門驅(qū)動和智能功率模塊IPM驅(qū)動。Type 2 AlGaAs LED主要使用在處理高速數(shù)字信號和低功耗10Mbit/s數(shù)字光電耦合器系列，GaAsP LED則應(yīng)用于各種廣泛的Avago光電耦合器產(chǎn)品，涵蓋數(shù)字光電耦合器、模擬光電耦合器、智能電源管理門驅(qū)動以及許多其他應(yīng)用。表1、2和3列出了Avago各種不同LED類型的光電耦合器產(chǎn)品系列和產(chǎn)品型號。

各類型LED采用不同的生產(chǎn)程序，如擴散型或磊晶生長以及不同的參雜方式，這使得LED設(shè)計工程師可以定制不同電流相對LED光輸出功率的產(chǎn)品，滿足各種速度和功耗光電耦合器需求。在三種不同LED類型中，基于GaAsP的LED最為成熟但輸出光功率最低，Type 1 AlGaAs LED則可提供最高的光輸出功率，使得這型LED可以應(yīng)用于需要光電耦合器封裝高爬電距離和電氣間隙的最嚴苛隔離應(yīng)用。Type 2 AlGaAs LED的性能介于其他兩種類型之間，可以使用于各種要求速度或功耗性能組合的廣泛應(yīng)用。所有三種LED類型都有相似的劣化特性，那就是在30年典型工作條件下，原始CTR的損失小于10%。

表1： Avago采用Type 1 AlGaAs LED的光電耦合器產(chǎn)品

表2： Avago采用Type 2 AlGaAs LED的光電耦合器產(chǎn)品

表3： Avago采用GaAsP LED的光電耦合器產(chǎn)品

在圖1、2和3中，采80oC環(huán)境溫度，超過30年現(xiàn)場實際工作條件繪制出不同類型LED的CTR性能劣化情形，圖形顯示，經(jīng)過30年現(xiàn)場工作后，各類型LED的劣化程度低于10%，也就是CTR維持在原始數(shù)值的90%以上。通過系統(tǒng)設(shè)計的預(yù)期使用壽命，劣化程度的計算帶給設(shè)計工程師選擇順向電流大小的更高靈活度，幫助他們優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)計，取得可靠工作壽命和功耗大小的最佳組合。

圖4描述了Type 2 AlGaAs LED在不同LED順向電流下的劣化程度，由圖中我們可以看到，LED在光電耦合器建議工作電流范圍和超過20年的工作時間條件下，劣化程度低于10%。一般說來，最大化LED工作壽命時有三個基本考慮因素：

1、使用較小的LED順向電流IF

2、使用較低的占空比（低于100%）

3、環(huán)境溫度低于125oC

注：IF=20mA條件預(yù)測到22.6現(xiàn)場工作年數(shù)的原因為實際壓力數(shù)據(jù)收集時間僅達到1萬小時，并非代表LED現(xiàn)場工作壽命只有22.6年。要取得更長現(xiàn)場工作年限預(yù)估數(shù)據(jù)，壓力數(shù)據(jù)需超過1萬小時。

結(jié)論

Avago的光電耦合器產(chǎn)品多年來已經(jīng)廣泛成功地使用在各種艱難惡劣應(yīng)用中作為處理高電壓和電壓瞬變的工具，光電耦合器中使用的LED在超過30年現(xiàn)場實際工作條件下?lián)碛辛踊陀?0%的卓越性能表現(xiàn)，LED的長工作壽命可以在設(shè)計工程師選擇最適合應(yīng)用光電耦合器時帶來更高靈活度，并幫助做出系統(tǒng)可靠工作年限和低功耗間的最佳平衡選擇。

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