本篇文章會(huì)著重介紹一下晶振的常見(jiàn)問(wèn)題原因分析,還有就是比較重要的PCB布局講解。
晶振電路常見(jiàn)問(wèn)題分析
1)晶振過(guò)驅(qū)動(dòng):
所謂過(guò)驅(qū)動(dòng),就是晶振的實(shí)際工作電壓以及電流過(guò)大,功耗過(guò)高。晶振出現(xiàn)過(guò)驅(qū)動(dòng)會(huì)導(dǎo)致輻射干擾更大,功耗增加,工作不穩(wěn)定,甚至導(dǎo)致晶振物理?yè)p壞。低頻晶振容易出現(xiàn)這些問(wèn)題,因?yàn)楦哳l晶振的功耗相對(duì)較大,換句話(huà)說(shuō)就是工作電流比較大,不容易出現(xiàn)這些問(wèn)題。假設(shè)晶振的峰值電壓接地電源電壓VDD,可以用如下公式估算晶振的功耗(R1是晶振等效串聯(lián)電阻):
晶振功耗計(jì)算公式
VDD一般來(lái)說(shuō)就是電源電壓,CL和C0分別是晶振的負(fù)載電容和寄生電容,但是有些晶振有ALC(幅度限制控制)功能,這個(gè)時(shí)候VDD電壓就不是電源電壓,VDD應(yīng)該用晶振能獲得的最大電壓幅度來(lái)替代:大概是400-600mV。當(dāng)環(huán)境溫度降低或者供電電壓過(guò)大時(shí)會(huì)出現(xiàn)過(guò)驅(qū)動(dòng)的風(fēng)險(xiǎn),所以晶振的實(shí)際功耗需要留有余量。
通過(guò)上面的公式我們可以知道,降低晶振功耗的方法:
1.選用R1(ESR)更低的晶振。
2.減小負(fù)載電容Cl,但是此方法會(huì)導(dǎo)致晶振頻率增大,所以要慎重。
3.增大限流電阻Rs。
2)啟動(dòng)時(shí)間過(guò)長(zhǎng)
一般來(lái)說(shuō)低頻晶振更容易產(chǎn)生此類(lèi)問(wèn)題,原因可能是環(huán)路增益不夠,也可能和供電電源的電壓上升時(shí)間(穩(wěn)定時(shí)間)有關(guān)系。
3)溫度和電壓?jiǎn)栴}
一般來(lái)說(shuō)高溫和低電壓條件下,晶振容易發(fā)生地環(huán)路增益和啟動(dòng)時(shí)間慢或者不啟動(dòng)。低溫和高電壓條件下容易發(fā)生增益過(guò)大,過(guò)驅(qū)動(dòng),損壞晶振,更容易受到諧波影響出現(xiàn)震蕩,甚至停止工作,所以要注意負(fù)載電容一定要選用NP0或C0G類(lèi)型的瓷片電容,溫度穩(wěn)定性更高。
晶振電路PCB布局
1)晶振電路最好刷三防漆,減小水分,灰塵,溫濕度對(duì)晶振電路的影響。
2)MCU電源要穩(wěn)定,要做好濾波(去耦電容),這樣可以降低晶振電路的信噪比。
3)晶振距離MCU越近越好,晶振電路外圍加地環(huán)路。
4)高頻信號(hào)線要遠(yuǎn)離晶振電路。
5)晶振電路下方要單獨(dú)鋪地(雙層板),然后和MCU的地相連。多層板有完整地平面,只需加地環(huán)路即可。如果晶振是金屬封裝,鋪地時(shí),注意不要短路。
晶振電路推薦布局
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