芯片功耗和性能驗(yàn)證解決方案的優(yōu)勢

“市面上沒有其他產(chǎn)品能夠做到與我們同水平的高精度測量。如果 NI 沒有提供這些工具，那么我們就得自行開發(fā)這些工具，而這需要多耗費(fèi)數(shù)年的時(shí)間。NI 讓我們能夠?qū)Ｗ⒂谧钪匾氖虑?。?/p>

——某領(lǐng)先半導(dǎo)體公司的硬件工程師

芯片功耗和性能驗(yàn)證解決方案

如今，人們對(duì)電子產(chǎn)品的功耗的要求不斷提高，半導(dǎo)體公司正在爭相設(shè)計(jì)低功耗、高能效的產(chǎn)品。為了在緊迫的市場周期內(nèi)推出更有競爭力的產(chǎn)品，工程師需要快速測量、分析并正確地處理功耗數(shù)據(jù)。傳統(tǒng)臺(tái)式示波器和數(shù)字萬用表(DMM)等價(jià)格過于昂貴，而且很難根據(jù) Pin 腳或產(chǎn)品線進(jìn)行擴(kuò)展，而低成本數(shù)據(jù)采集解決方案往往精度不足，無法檢測到很多像芯片睡眠模式狀態(tài)下的微小電信號(hào)。面對(duì)這一進(jìn)退兩難的困境，一些企業(yè)選擇僅僅對(duì)芯片部分功效進(jìn)行分析，這將導(dǎo)致芯片高功耗、低品質(zhì)等問題，最終引起市場機(jī)會(huì)的大量流失。

NI 芯片功耗和性能驗(yàn)證解決方案具有高準(zhǔn)確度和高通道數(shù)，有助于加快產(chǎn)品上市時(shí)間，您可以使用專用儀器和基于配置的軟件來快速設(shè)置、測量、記錄和可視化功耗測量數(shù)據(jù)。

解決方案的優(yōu)勢

獲取可靠且一致的功耗測量結(jié)果，為設(shè)計(jì)提供準(zhǔn)確的反饋，幫助客戶解決問題以及提高競爭力

體積小巧，具有高可擴(kuò)展性，可從幾個(gè)通道擴(kuò)展到數(shù)百個(gè)通道

獲取針對(duì)目標(biāo)細(xì)分市場的洞察，優(yōu)化功率效率和性能

快速查看有意義的功耗數(shù)據(jù)，讓設(shè)計(jì)公司應(yīng)用工程部門甚至客戶更早參與進(jìn)來為系統(tǒng)級(jí)驗(yàn)證提供幫助

通過完整的功率測量解決方案，最大限度提升設(shè)計(jì)和驗(yàn)證團(tuán)隊(duì)的效率

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