電路維修測(cè)試儀是一種維修PCB板的儀器。它可完成對(duì)中小規(guī)模數(shù)字集成電路,存儲(chǔ)器及部分大規(guī)模集成電路芯片的在/離線功能測(cè)試,還可對(duì)PCB板上任意一結(jié)點(diǎn)(焊點(diǎn))進(jìn)行V-I曲線的測(cè)試、存儲(chǔ)和比較(所謂在線測(cè)試,是指對(duì)焊接在PCB板上的元器件進(jìn)行的測(cè)試;而離線測(cè)試則是指對(duì)脫離PCB板的元器件進(jìn)行的測(cè)試)。
(1)功能測(cè)試(ICFT)
利用后驅(qū)動(dòng)原理來(lái)驅(qū)動(dòng)電路,然后取被測(cè)門(mén)的輸出進(jìn)行分析,得出結(jié)果。后驅(qū)動(dòng)原理是指,讓電路根據(jù)測(cè)試者的意圖變化,強(qiáng)迫其輸入端的電平變高或變低,以使被測(cè)門(mén)與周?chē)娐贰案綦x“開(kāi)來(lái),看其輸出與輸入是否滿足規(guī)定的邏輯關(guān)系,從而完成電路芯片的邏輯功能測(cè)試。
(2)VI曲線測(cè)試(V-I)
通過(guò)比較形式來(lái)判斷故障點(diǎn),其比較過(guò)程是這樣的:先對(duì)一塊工作正常的PCB板上兩個(gè)結(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,得到電壓(V)——電流(I)關(guān)系曲線,并保存測(cè)試結(jié)果,作為將來(lái)比較操作中的標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)遇到同類(lèi)型PCB板發(fā)生故障時(shí),便可用在線測(cè)試儀對(duì)該故障板的任意兩結(jié)點(diǎn)進(jìn)行VI測(cè)試,同時(shí)調(diào)出正常PCB板相應(yīng)兩結(jié)點(diǎn)間的VI曲線進(jìn)行比較,若比較結(jié)果超出了正常范圍,則此兩結(jié)點(diǎn)間應(yīng)是故障點(diǎn)之一。
(3)存儲(chǔ)器測(cè)試
對(duì)隨機(jī)讀/寫(xiě)存儲(chǔ)器(RAM),采用寫(xiě)入/讀出的辦法進(jìn)行測(cè)試,即先向存儲(chǔ)單元寫(xiě)入一數(shù)據(jù),然后再讀出,看兩者數(shù)據(jù)是否相同,若不同,則該存儲(chǔ)器出現(xiàn)了故障。對(duì)只讀存儲(chǔ)器(ROM),先將其存儲(chǔ)單元的內(nèi)容讀出來(lái),存于計(jì)算機(jī)中。日后同故障電路板上相應(yīng)存儲(chǔ)器中讀出的內(nèi)容相比較,相同則說(shuō)明沒(méi)問(wèn)題。
(4)狀態(tài)測(cè)試
通過(guò)測(cè)試器件各管腳的電平狀態(tài),并與好的器件進(jìn)行比較來(lái)判別。
使用注意事項(xiàng):
(1)測(cè)試前,用萬(wàn)用表檢查板上元器件工作電源是否短路,若有,應(yīng)先排除。
(2)加電測(cè)試時(shí),用手摸元器件表面,檢查是否有過(guò)熱元器件,若有,應(yīng)先排除或?qū)⑦^(guò)熱器件摘除。
(3)若板上有振蕩器,先摘除或?qū)⑵涠搪罚蛊渫V构ぷ?。防止測(cè)試過(guò)程中產(chǎn)生脈沖,影響測(cè)試結(jié)果。
(4)檢查電路板上是否有電池供電的存儲(chǔ)器,若有,應(yīng)問(wèn)清有關(guān)人員其內(nèi)部數(shù)據(jù)是否有用。若有用,則不可測(cè)試,否則可能修改其數(shù)據(jù)或?qū)е聰?shù)據(jù)丟失。
(5)由于同一型號(hào)的元器件其特性多少存在一定差異,在VI曲線比較測(cè)試時(shí),同一型號(hào)的每塊板對(duì)應(yīng)結(jié)點(diǎn)曲線也就不盡相同。一般當(dāng)兩曲線差異較大時(shí),才認(rèn)為該處可能是故障點(diǎn)之一。
(6)VI曲線測(cè)試時(shí),其電壓——電流曲線通常以板上電源地作為參考點(diǎn)。但一些板上的元器件或接口與電源地之間阻值很大或是斷開(kāi),這時(shí)可自定義一個(gè)電路結(jié)點(diǎn)作為參考點(diǎn)。
(7)在線功能測(cè)試時(shí),出現(xiàn)“有非法電源或地腳”時(shí)有兩種可能:①測(cè)試夾未夾好被測(cè)器件,造成接觸不良。②該器件確有其他引腳(器件本身工作電源及地腳除外)接電源或地,解決的辦法是暫時(shí)將這些引腳與電源或地?cái)嚅_(kāi),再測(cè)試。
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