導(dǎo)入柵極屏蔽結(jié)構(gòu)　溝槽式MOSFET功耗銳減

　　更高系統(tǒng)效率和功率密度，是現(xiàn)今數(shù)據(jù)和電信電源系統(tǒng)設(shè)計(jì)的首要目標(biāo)。為達(dá)此一目的，半導(dǎo)體開(kāi)發(fā)商研發(fā)出采用柵極屏蔽結(jié)構(gòu)的新一代溝槽式金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效電晶體（MOSFET），可顯著降低全負(fù)載及輕負(fù)載時(shí)的功率損耗。

　　如何得到更高的系統(tǒng)效率和功率密度，是現(xiàn)代數(shù)據(jù)和電信電源系統(tǒng)的核心關(guān)鍵，因?yàn)橐粋€(gè)小而高效率的電源系統(tǒng)，可以有效節(jié)省空間與能源費(fèi)用。從拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)的角度來(lái)看，變壓器將交流電轉(zhuǎn)換成直流電的同步整流，是許多應(yīng)用中開(kāi)關(guān)電源二次側(cè)的主要模組架構(gòu)，此能改善能源轉(zhuǎn)換中的導(dǎo)通損耗和開(kāi)關(guān)損耗。從元件的角度來(lái)看，功率金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效電晶體（MOSFET）在過(guò)去十年有長(zhǎng)足的進(jìn)步，也因而衍生出新的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)和高功率密度電源。同步整流MOSFET之主要需求如下：

　　。低溝槽通態(tài)電阻RDS（ON）

　　。低柵極電荷QG

　　。低反向恢復(fù)電荷QRR和共源極輸出電容COSS

　　。較不活躍的體二極體特性

　　。低閘漏電Qgd/柵極電荷Qgs比

　　封裝方式影響MOS功耗

　　目前有半導(dǎo)體廠商采用柵極屏蔽（Shielded Gate）技術(shù)，設(shè)計(jì)出高功率的MOSFET，如快捷半導(dǎo)體的PowerTrench MOSFET。本文以PowerTrench MOSFET為例，對(duì)于伺服器電源的同步整流或電信整流器的功率損耗深入分析。

　　。導(dǎo)通損耗

　　如果MOSFET產(chǎn)品的導(dǎo)通電阻和汲極電流低于二極體的正向電壓降，同步整流的功率損耗也會(huì)較低。因此，二次側(cè)的同步整流是提高系統(tǒng)效率的極佳解決方案。透過(guò)下列公式1，可以計(jì)算出導(dǎo)通損耗：

　　公式1

　　利用現(xiàn)今主流的中電壓MOSFET技術(shù)，依額定電壓進(jìn)行TO-220標(biāo)準(zhǔn)封裝，可使RDS（ON）降低至1？2毫歐姆（mohm），而高電壓 MOSFET相關(guān)的封裝電阻，目前則尚未受到重視。不同于高電壓MOSFET，中電壓MOSFET的封裝本身由于打線（Bonding）、接腳 （Lead）和源極金屬（Source Mental）等因素，也占了總阻抗的一部分。透過(guò)Power56等SMD封裝，可以顯著降低中電壓MOSFET的總導(dǎo)通電阻，并同時(shí)降低封裝電感以減少電壓突波。

　　。柵極驅(qū)動(dòng)損耗

　　柵極驅(qū)動(dòng)器驅(qū)動(dòng)損耗與柵極電荷QG息息相關(guān)。在低電壓應(yīng)用中，驅(qū)動(dòng)損耗可能占總功率損耗的大部分，因?yàn)橄噍^于高壓開(kāi)關(guān)，此時(shí)電壓開(kāi)關(guān)僅有極低的導(dǎo)通損耗。在輕載情況下，導(dǎo)通損耗最小，故驅(qū)動(dòng)損耗更為重要。眾所周知，透過(guò)下列公式2可以計(jì)算出驅(qū)動(dòng)損耗：

　　公式2

　　在同步整流中，電流于導(dǎo)通期間從MOSFET的源極流到汲極，而在死區(qū)時(shí)間（Dead Time）則流經(jīng)體二極體。由于MOSFET是軟開(kāi)關(guān)，在開(kāi)關(guān)的開(kāi)啟和關(guān)閉瞬間dVds/dt為零，所以同步整流時(shí)電源MOSFET的柵極-源極電壓并沒(méi)有高原區(qū)。因此，在SR、QSYNC間產(chǎn)生的柵極電荷，其大小約等于柵極電荷之柵極-漏極QGD減去總柵極電荷QG。如表1所示，最新柵極屏蔽溝槽 MOSFET的QSYNC相較于傳統(tǒng)溝槽柵極MOSFET與75V/3.3m對(duì)照元件，可分別降低28%與34%。圖1顯示上述三種元件的驅(qū)動(dòng)損耗和導(dǎo)通損耗之損耗率比較。測(cè)試環(huán)境為12伏特（V）同步整流平臺(tái)，柵極驅(qū)動(dòng)電壓為10V，開(kāi)關(guān)頻率為100kHz。其中兩個(gè)同步開(kāi)關(guān)，在10%輸出負(fù)載條件下，其柵極驅(qū)動(dòng)損耗是導(dǎo)通損耗的三倍以上。由圖1可知，柵極屏蔽MOSFET可以大大降低在輕負(fù)載條件下因?yàn)樾SYNC所產(chǎn)生的驅(qū)動(dòng)損耗。

　　圖1　依輸出負(fù)載的損耗率比較

　　。體二極體損耗

　　在死區(qū)時(shí)間，體二極體為導(dǎo)通。體二極體導(dǎo)通時(shí)會(huì)產(chǎn)生可觀的功率損耗，因?yàn)橄噍^于MOSFET通道，P-N接面造成的電壓降更高。體二極體在死區(qū)時(shí)間導(dǎo)通所造成的功率損耗，會(huì)明顯降低整體效率，特別是在低電壓和高頻率時(shí)，其導(dǎo)通損耗可由公式3得知：　

　　公式3

　　在MOSFET關(guān)閉瞬間，反向恢復(fù)電荷Qrr會(huì)消失，而共源極輸出電容COSS會(huì)充電至滿(mǎn)足二次側(cè)的轉(zhuǎn)換電壓為止。二極體反向恢復(fù)電荷Qrr，在開(kāi)關(guān)關(guān)閉時(shí)也會(huì)造成功率損耗。因體二極體特性產(chǎn)生的功率損耗可由公式4得知：

　　公式4

　　輸出電容中儲(chǔ)存的電荷QOSS也會(huì)造成功率損耗，并與開(kāi)關(guān)頻率和VDS成正比。因COSS造成的功率損耗可由公式5求出：

　　公式5