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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測(cè)量?jī)x表>利用測(cè)試夾具對(duì)功率半導(dǎo)體器件的測(cè)試解決方案

利用測(cè)試夾具對(duì)功率半導(dǎo)體器件的測(cè)試解決方案

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2022-11-11 11:15:56

半導(dǎo)體功率器件的分類

近年來(lái),全球半導(dǎo)體功率器件的制造環(huán)節(jié)以較快速度向我國(guó)轉(zhuǎn)移。目前,我國(guó)已經(jīng)成為全球最重要的半導(dǎo)體功率器件封測(cè)基地。如IDM類(吉林華微電子、華潤(rùn)微電子、杭州士蘭微電子、比亞迪股份、株洲中車時(shí)代半導(dǎo)體
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半導(dǎo)體器件C-V特性測(cè)試方案

`半導(dǎo)體器件C-V特性測(cè)試方案交流C-V測(cè)試可以揭示材料的氧化層厚度,晶圓工藝的界面陷阱密度,摻雜濃度,摻雜分布以及載流子壽命等,通常使用交流C-V測(cè)試方式來(lái)評(píng)估新工藝,材料, 器件以及電路的質(zhì)量
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半導(dǎo)體器件C-V特性測(cè)試方案

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半導(dǎo)體測(cè)試解決方案

作者: Robert GeeMaxim Integrated核心產(chǎn)品事業(yè)部執(zhí)行業(yè)務(wù)經(jīng)理 在半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,管理成本依然是最嚴(yán)峻的挑戰(zhàn)之一,因?yàn)樽詣?dòng)化測(cè)試設(shè)備(ATE)是一項(xiàng)重大的資本支出。那么,有沒(méi)有能夠降低每片晶圓的成本,從而提升競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)的方法呢?有,答案就是提高吞吐率。
2019-07-29 08:11:12

半導(dǎo)體與芯片器件研究測(cè)試方案匯總【泰克篇】

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RD-400參考設(shè)計(jì)利用多種先進(jìn)的飛兆半導(dǎo)體技術(shù),提供完整的LED驅(qū)動(dòng)器解決方案

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RD-400,參考設(shè)計(jì)支持將FAN7382器件納入用于工業(yè)照明應(yīng)用的離線100W CCCV LED電源的設(shè)計(jì)中。 RD-400參考設(shè)計(jì)利用多種先進(jìn)的飛兆半導(dǎo)體技術(shù),提供完整的LED驅(qū)動(dòng)器解決方案
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RF功率器件特性與建模

為滿足晶體管用戶的需求,有源器件功率密度持續(xù)增長(zhǎng)。商用無(wú)線通訊、航空電子、廣播、工業(yè)以及醫(yī)療系統(tǒng)應(yīng)用推動(dòng)固態(tài)功率封裝隨著更小輸出級(jí)器件輸出更高輸出功率的要求而發(fā)展。對(duì)飛思卡爾半導(dǎo)體公司而言,為這些
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為滿足晶體管用戶的需求,有源器件功率密度持續(xù)增長(zhǎng)。商用無(wú)線通訊、航空電子、廣播、工業(yè)以及醫(yī)療系統(tǒng)應(yīng)用推動(dòng)固態(tài)功率封裝隨著更小輸出級(jí)器件輸出更高輸出功率的要求而發(fā)展。對(duì)飛思卡爾半導(dǎo)體公司而言,為這些
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功率放大器的主要測(cè)試參數(shù)R&S WiMAX功放測(cè)試解決方案
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數(shù)字源表應(yīng)用方案半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測(cè)試

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2021-07-30 06:27:39

泰克示波器在功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)/雙脈沖測(cè)試的應(yīng)用

+TCP0030A+IGBT town軟件五、方案優(yōu)勢(shì):1.可靠、可重復(fù)地測(cè)試IGBT及MOSFET (包括第三代半導(dǎo)體器件SiC、GaN )功率半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)特征2.測(cè)量的特征包括開(kāi)啟、關(guān)閉、開(kāi)關(guān)切換、反向恢復(fù)、柵極
2021-05-20 11:17:57

混合掃描測(cè)試解決方案的優(yōu)勢(shì)是什么

混合掃描測(cè)試解決方案的優(yōu)勢(shì)是什么
2021-05-11 06:15:46

電力半導(dǎo)體器件有哪些分類?

電力半導(dǎo)體器件的分類
2019-09-19 09:01:01

簡(jiǎn)述LTE協(xié)議測(cè)試解決方案

簡(jiǎn)述LTE協(xié)議測(cè)試解決方案
2021-05-26 07:19:02

功率器件參數(shù)測(cè)試

服務(wù)介紹隨著技術(shù)發(fā)展,第三代半導(dǎo)體功率器件開(kāi)始由實(shí)驗(yàn)室階段步入商業(yè)應(yīng)用,未來(lái)應(yīng)用潛力巨大,這些新型器件測(cè)試要求更高的電壓和功率水平,更快的開(kāi)關(guān)時(shí)間。測(cè)試周期:根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、試驗(yàn)條件及被測(cè)樣品量確定
2022-05-25 14:26:58

SPEA DOT800T功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備

SPEA功率器件測(cè)試機(jī)SPEA-功率器件測(cè)試機(jī)-DOT800T功率半導(dǎo)體器件是實(shí)現(xiàn)電能轉(zhuǎn)換的核心器件,主要用途包括逆變、變頻等,在家用電器、新能源汽車、工業(yè)制造、通訊等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。小型化
2022-09-16 15:36:04

半導(dǎo)體電子器件通用測(cè)試機(jī)

  一 F-200A-60V 半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)專為以下測(cè)試需求研制: 二 技術(shù)參數(shù)
2023-10-12 15:38:30

半導(dǎo)體器件測(cè)試-IGBT器件全參數(shù)測(cè)試-電子元件

服務(wù)范圍MOSFET、IGBT、DIODE、BJT,第三代半導(dǎo)體器件等分立器件,以及上述元件構(gòu)成的功率模塊。檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)l  AEC-Q101分立器件認(rèn)證l  MIL-STD-750
2024-01-29 22:00:42

測(cè)試 工裝夾具 組裝夾具

我們供測(cè)試 工裝夾具 組裝夾具 我公司是一家專業(yè)生產(chǎn)銷售各種測(cè)試治具 SMT設(shè)備(回流焊 波峰焊 等)輔料的制造企業(yè)。公司成立于1999年7月,公司不斷發(fā)展壯大,積累了雄厚的技術(shù)
2009-03-16 08:45:542493

功率半導(dǎo)體器件鳥(niǎo)瞰

功率半導(dǎo)體器件鳥(niǎo)瞰 當(dāng)代功率半導(dǎo)體器件大致可以分成三類:一是傳統(tǒng)的各類晶閘管;二是近二十年來(lái)發(fā)展起來(lái)的功率MOSFET
2009-07-09 11:37:211672

新型半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀介紹

誼邦電子科技YB6500半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)功能更加強(qiáng)大,可測(cè)試十九大類二十七分類大、中、小功率半導(dǎo)體分立器件
2011-06-07 11:28:422604

超快速IV測(cè)試技術(shù)-半導(dǎo)體器件特性測(cè)試的變革

超快速IV測(cè)量技術(shù)是過(guò)去十年里吉時(shí)利推出的最具變革性的方法和儀器,吉時(shí)利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測(cè)試單元而著稱,這里將介紹測(cè)試單元PUM和超快速IV量測(cè)技術(shù)給半導(dǎo)體器件
2011-08-10 11:47:035274

安捷倫射頻與微波器件測(cè)試解決方案

射頻微波器件測(cè)試技術(shù)發(fā)展 Agilent 網(wǎng)絡(luò)儀產(chǎn)品:PNA-X,E5061B 頻率源測(cè)試技術(shù) 微波器件的系統(tǒng)級(jí)參數(shù)測(cè)試 熱點(diǎn)技術(shù)問(wèn)題的解決方案 有源電路非線性參數(shù)測(cè)試和建模分析 脈沖器件測(cè)試
2011-10-11 16:31:480

NI測(cè)試平臺(tái)助力其成為半導(dǎo)體測(cè)試界標(biāo)桿

半導(dǎo)體技術(shù)的要求通常會(huì)超出傳統(tǒng)ATE所能為模擬、混合信號(hào)和RF測(cè)試提供的測(cè)試覆蓋范圍。半導(dǎo)體測(cè)試工程師需要更智能的解決方案來(lái)解決成本、可擴(kuò)展性、設(shè)計(jì)和器件挑戰(zhàn)。
2019-02-05 08:41:003190

半導(dǎo)體測(cè)試愈發(fā)重要,如何進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試?

作為半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的其中一個(gè)環(huán)節(jié),半導(dǎo)體測(cè)試一直以來(lái)備受關(guān)注。隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升,測(cè)試和驗(yàn)證也變得更加重要。
2019-04-11 09:12:5915047

關(guān)于寬帶同軸小功率計(jì)量測(cè)試解決方案的介紹和應(yīng)用

針對(duì)無(wú)線電領(lǐng)域的各種計(jì)量測(cè)試需求,羅德與施瓦茨公司提供相應(yīng)全面的計(jì)量與測(cè)試解決方案,覆蓋網(wǎng)絡(luò)分析儀與功率計(jì)、微波信號(hào)源、矢量信號(hào)源、頻譜分析儀、相位噪聲分析儀、元器件計(jì)量測(cè)試、EMC測(cè)試和天線測(cè)試等方面,完善的計(jì)量與測(cè)試解決方案包含了眾多先進(jìn)的計(jì)量與測(cè)試產(chǎn)品。
2019-10-15 15:39:552934

吉時(shí)利2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)分析

? 廣泛的測(cè)試解決方案,包括測(cè)試源表、線纜、夾具、探針臺(tái)、軟件及應(yīng)用案例;
2020-12-02 09:45:11860

半導(dǎo)體分立器件I-V特性測(cè)試方案的詳細(xì)介紹

近期有很多用戶在網(wǎng)上咨詢I-V特性測(cè)試, I-V特性測(cè)試是很多研發(fā)型企業(yè)和高校研究的對(duì)象,分立器件I-V特性測(cè)試可以幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本I-V特性參數(shù),并在整個(gè)工藝流程結(jié)束后評(píng)估器件的優(yōu)劣
2021-05-19 10:50:252042

半導(dǎo)體測(cè)試:基于PXI 平臺(tái)的先進(jìn)性能中的AC/DC和V-I測(cè)試

前言 當(dāng)今半導(dǎo)體測(cè)試工程師面臨的挑戰(zhàn)是如何尋找和創(chuàng)建一個(gè)新的測(cè)試解決方案,該方案被要求能夠顯著降低測(cè)試成本,并滿足可配置、開(kāi)放架構(gòu)、靈活的測(cè)試解決方案的需求,這些解決方案可以提供與專用ATE平臺(tái)
2021-11-10 10:36:106

第三代半導(dǎo)體器件測(cè)試應(yīng)用

第三代半導(dǎo)體器件毫不夸張的講為電源行業(yè)帶來(lái)了革新,基于其高速,小體積,低功耗的特點(diǎn),越來(lái)越廣泛應(yīng)用在消費(fèi)電子及電力電子行業(yè)。下圖顯示了不同技術(shù)的功率器件的性能區(qū)別。可以看到,傳統(tǒng)的Si基IGBT或者
2021-12-29 17:11:061046

羅德與施瓦茨推出片器件特性測(cè)試解決方案

羅德與施瓦茨(以下簡(jiǎn)稱“R&S”公司)為在片器件的完整射頻性能表征提供測(cè)試解決方案,該方案結(jié)合了R&S強(qiáng)大的ZNA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和FormFactor先進(jìn)的工程探針臺(tái)系統(tǒng)。半導(dǎo)體
2022-08-10 10:26:041053

功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)測(cè)試專用系統(tǒng)

參數(shù),具有高電壓和大電流特性,uΩ級(jí)電阻,pA級(jí)電流精準(zhǔn)測(cè)量等特點(diǎn)。支持高壓模式下測(cè)量功率器 件結(jié)電容,如輸入電容,輸出電容、反向傳輸電容等。 普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向,深耕半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域,在I-V測(cè)試上積累了豐富的經(jīng)驗(yàn),先后推出了直流源表,脈沖源
2023-02-15 16:11:141

DOT800T功率半導(dǎo)體測(cè)試儀介紹

? 功率半導(dǎo)體器件是實(shí)現(xiàn)電能轉(zhuǎn)換的核心器件,主要用途包括逆變、變頻等,在家用電器、新能源汽車、工業(yè)制造、通訊等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。小型化、集成化、大功率、低功耗是功率半導(dǎo)體的主要發(fā)展方向,這些趨勢(shì)
2023-02-15 16:05:053

半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)介紹

DCT1401半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)能測(cè)試很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流 ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE
2023-02-15 15:47:180

半導(dǎo)體功率器件測(cè)試系統(tǒng)

1.設(shè)備基本參數(shù)1.1設(shè)備名稱:半導(dǎo)體功率器件測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備型號(hào):EN-3020B設(shè)備數(shù)量: 1 臺(tái)外接設(shè)備:筆記本電腦1臺(tái)設(shè)備規(guī)格:600mm×800mm×1600mm測(cè)試夾具
2023-02-15 15:50:311

功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

EN-6500A功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)是由西安易恩電氣科技有限公司自主研制、生產(chǎn)的半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)使用更換不同的測(cè)試工裝可 以對(duì)不同封裝的半導(dǎo)體器件進(jìn)行非破壞性瞬態(tài)測(cè)試
2023-02-16 15:38:103

是德科技半導(dǎo)體設(shè)計(jì)和測(cè)試北京實(shí)驗(yàn)室正式開(kāi)放

解決方案為核心,聯(lián)合國(guó)內(nèi)外一線方案合作伙伴,為全球半導(dǎo)體客戶提供各種測(cè)試開(kāi)發(fā)服務(wù),輔助客戶完成半導(dǎo)體器件以及電路的精確測(cè)試。是德科技始終致力于為客戶提供高效可靠的測(cè)試服務(wù),歡迎您的垂詢和合作! 把握中國(guó)半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)的未來(lái),彰顯價(jià)值 隨著全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)規(guī)模日益擴(kuò)大,中國(guó)半導(dǎo)
2023-03-27 09:28:42943

半導(dǎo)體測(cè)試跟芯片測(cè)試一樣嗎?答案是這樣

,它主要反映的是半導(dǎo)體器件組裝到系統(tǒng)中時(shí)發(fā)生的故障。半導(dǎo)體測(cè)試有助于確保系統(tǒng)中使用的元器件導(dǎo)體的可靠性,減少不必要的損失。半導(dǎo)體的故障主要可分為故障、隨機(jī)故障和磨損故障。半導(dǎo)體測(cè)試環(huán)節(jié)不僅僅是封裝后的成品測(cè)試,還涉
2023-04-17 18:09:36858

SPEA - DOT800T 半導(dǎo)體功率測(cè)試

功率半導(dǎo)體器件是實(shí)現(xiàn)電能轉(zhuǎn)換的核心器件,主要用途包括逆變、變頻等,在家用電器、新能源汽車、工業(yè)制造、通訊等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。小型化、集成化、大功率、低功耗是功率半導(dǎo)體的主要發(fā)展方向,這些趨勢(shì)
2022-09-23 11:35:32548

概倫電子半導(dǎo)體電特性測(cè)試解決方案即將亮相SEMICON China

。屆時(shí),概倫電子將攜 領(lǐng)先的半導(dǎo)體特性測(cè)試儀FS-Pro、業(yè)界黃金標(biāo)準(zhǔn)低頻噪聲測(cè)試系統(tǒng)981X系列以及資深專家團(tuán)隊(duì)打造的一站式工程服務(wù)解決方案 亮相此次盛會(huì)。 ? 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀FS-Pro 一款功能全面、配置靈活的半導(dǎo)體器件電學(xué)特性分析測(cè)試系統(tǒng),能夠快速、準(zhǔn)確地測(cè)試半導(dǎo)
2023-06-20 09:25:01415

半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng) 芯片自動(dòng)化測(cè)試軟件 可定制測(cè)試方案ATECLOUD-IC

測(cè)試產(chǎn)品:芯片半導(dǎo)體器件。納米軟件ATECLOUD-IC芯片自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)適用于二極管、三極管、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管、結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)管、單向和雙向可控硅、普通和高速光耦、整流橋、共陰共陽(yáng)二極管及多陣列器件等各類半導(dǎo)體分立器件綜合性能自動(dòng)化測(cè)試
2023-06-20 16:55:17767

光隔離探頭在功率半導(dǎo)體測(cè)試的一些誤區(qū)探討

光隔離探頭主要用于開(kāi)關(guān)電源、逆變器、充電樁、變頻器、電機(jī)驅(qū)動(dòng)等由功率半導(dǎo)體組成的高壓高頻電路的測(cè)試,尤其是寬禁帶半導(dǎo)體器件包括氮化鎵、碳化硅器件組成的半/全橋電路的測(cè)試。
2023-06-27 17:32:33556

共建半導(dǎo)體測(cè)試生態(tài)圈 | 半導(dǎo)體電性測(cè)試用戶大會(huì)成功舉辦

,觀摩新產(chǎn)品、新技術(shù),交流半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域的最新動(dòng)向,共同探討測(cè)試行業(yè)未來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)。 隨著新興技術(shù)和市場(chǎng)不斷興起,芯片工藝越來(lái)越復(fù)雜,新器件類型層出不窮,行業(yè)需要更加面向未來(lái)需求的測(cè)試系統(tǒng)和方案,來(lái)打破傳統(tǒng)儀器固有的不
2023-07-03 14:05:01586

【芯聞時(shí)譯】半導(dǎo)體測(cè)試流程實(shí)時(shí)分析

測(cè)試流程和良率,并降低成本,同時(shí)降低基于云的解決方案存在的安全風(fēng)險(xiǎn)。 泰瑞達(dá)半導(dǎo)體測(cè)試部營(yíng)銷副總裁兼總經(jīng)理Regan Mills表示:“采用先進(jìn)工藝的高質(zhì)量半導(dǎo)體器件需求增加了半導(dǎo)體制造的復(fù)雜性,只有全面的測(cè)試和分析解決方案才能幫助解決這一問(wèn)題。
2023-07-20 18:00:27362

半導(dǎo)體推力測(cè)試機(jī)通過(guò)各種夾具的配合完成力學(xué)檢測(cè)

半導(dǎo)體推力測(cè)試機(jī)通過(guò)各種夾具的配合完成抗拉、彎曲、壓縮等多種力學(xué)檢測(cè)。夾具是推拉力測(cè)試機(jī)中重要的一個(gè)零件。通過(guò)夾具夾持試樣對(duì)試樣進(jìn)行加力,夾具所能承受的試驗(yàn)力的大小是夾具的一個(gè)很重要的指標(biāo)。它決定
2023-09-06 14:46:47255

芯片測(cè)試大講堂——半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試與避坑指南

的好壞、穩(wěn)定性的高低直接影響到電子設(shè)備的性能和可靠性。從最籠統(tǒng)的角度說(shuō),我們可以利用半導(dǎo)體參數(shù)分析儀對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行IV參數(shù)測(cè)試,即電壓和電流關(guān)系的測(cè)試,也可以延展到CV參數(shù)測(cè)試即電容相關(guān)的測(cè)試。 通過(guò)以上測(cè)試,我們可以得到半
2023-09-13 07:45:021210

半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是什么?納米軟件半導(dǎo)體參數(shù)分析系統(tǒng)能否滿足測(cè)試指標(biāo)?

半導(dǎo)體靜態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在直流條件下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試,目的是為了判斷半導(dǎo)體分立器件在直流條件下的性能,主要是測(cè)試半導(dǎo)體器件在工作過(guò)程中的電流特性和電壓特性。ATECLOUD半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)采用軟硬件架構(gòu)為測(cè)試工程師提供整體解決方案,此系統(tǒng)可程控,可以實(shí)現(xiàn)隨時(shí)隨地測(cè)試,移動(dòng)端也可實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試數(shù)據(jù)情況。
2023-10-10 15:05:30415

納米軟件半導(dǎo)體測(cè)試廠家助力半導(dǎo)體分立器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試

半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)是指在交流條件下對(duì)器件進(jìn)行測(cè)試,是確保半導(dǎo)體性能、穩(wěn)定性和可靠性的重要依據(jù)。動(dòng)態(tài)測(cè)試參數(shù)主要有開(kāi)關(guān)時(shí)間、開(kāi)關(guān)損耗、反向恢復(fù)電流、開(kāi)關(guān)電流、耗散功率等。
2023-10-10 15:23:38278

淺談功率半導(dǎo)體器件與普通半導(dǎo)體器件的區(qū)別

功率半導(dǎo)體器件與普通半導(dǎo)體器件的區(qū)別在于,其在設(shè)計(jì)的時(shí)候,需要多一塊區(qū)域,來(lái)承擔(dān)外加的電壓,如圖5所示,300V器件[1]的“N-drift”區(qū)域就是額外承擔(dān)高壓的部分。與沒(méi)有“N-drift”區(qū)的普通半導(dǎo)體器件[2]相比,明顯尺寸更大,這也是功率半導(dǎo)體器件的有點(diǎn)之一。
2023-10-18 11:16:21881

半導(dǎo)體測(cè)試方法解析 納米軟件半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)助力測(cè)試

半導(dǎo)體如今在集成電路、通信系統(tǒng)、照明等領(lǐng)域被廣泛應(yīng)用,是一種非常重要的材料。在半導(dǎo)體行業(yè)中,半導(dǎo)體測(cè)試是特別關(guān)鍵的環(huán)節(jié),以保證半導(dǎo)體器件及產(chǎn)品符合規(guī)定和設(shè)計(jì)要求,確保其質(zhì)量和性能。
2023-11-07 16:31:17309

半導(dǎo)體熱阻測(cè)試原理和測(cè)試方法詳解

對(duì)于半導(dǎo)體器件而言熱阻是一個(gè)非常重要的參數(shù)和指標(biāo),是影響半導(dǎo)體性能和穩(wěn)定性的重要因素。如果熱阻過(guò)大,那么半導(dǎo)體器件的熱量就無(wú)法及時(shí)散出,導(dǎo)致半導(dǎo)體器件溫度過(guò)高,造成器件性能下降,甚至損壞器件。因此,半導(dǎo)體熱阻測(cè)試是必不可少的,納米軟件將帶你了解熱阻測(cè)試的方法。
2023-11-08 16:15:28687

半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些?

半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案測(cè)試的指標(biāo)包含哪些? 半導(dǎo)體IC測(cè)試解決方案的指標(biāo)可以根據(jù)不同的需求和應(yīng)用來(lái)確定。下面將詳細(xì)介紹一些常見(jiàn)的測(cè)試指標(biāo)。 1. 電氣性能測(cè)試指標(biāo): 電氣性能測(cè)試半導(dǎo)體IC測(cè)試
2023-11-09 09:24:20421

什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng),如何測(cè)試其特性?

什么是半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng),如何測(cè)試其特性? 半導(dǎo)體的成品測(cè)試系統(tǒng)是用于測(cè)試制造出來(lái)的半導(dǎo)體器件的一種設(shè)備。它可以通過(guò)一系列測(cè)試和分析來(lái)確定半導(dǎo)體器件的性能和功能是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格。 半導(dǎo)體器件是現(xiàn)代
2023-11-09 09:36:44265

半導(dǎo)體可靠性測(cè)試有哪些測(cè)試項(xiàng)目?測(cè)試方法是什么?

可靠性測(cè)試半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容,確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性,保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多,測(cè)試方法多樣,常見(jiàn)的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748

AI在半導(dǎo)體器件生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用

“時(shí)間就是金錢”這句話在半導(dǎo)體器件的生產(chǎn)測(cè)試中尤為貼切。
2023-12-25 17:21:03286

安泰高壓功率放大器在半導(dǎo)體測(cè)試中的應(yīng)用

高壓功率放大器在半導(dǎo)體測(cè)試中扮演著重要的角色。半導(dǎo)體測(cè)試是指對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行各種電性能參數(shù)測(cè)試和質(zhì)量檢測(cè)的過(guò)程。以下是關(guān)于高壓功率放大器在半導(dǎo)體測(cè)試中的應(yīng)用的詳細(xì)介紹。 一、高壓信號(hào)發(fā)生器
2024-01-15 11:24:49138

概倫電子攜半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試與全自動(dòng)解決方案即將亮相SEMICON CHINA

概倫電子攜半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試與全自動(dòng)解決方案即將亮相SEMICON CHINA
2024-03-06 10:57:33202

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