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電子發(fā)燒友網(wǎng)>軍用/航空電子>航空電子設(shè)計(jì)之“單粒子翻轉(zhuǎn)”問題

航空電子設(shè)計(jì)之“單粒子翻轉(zhuǎn)”問題

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基于現(xiàn)場FPGA核心的實(shí)施體現(xiàn)了先進(jìn)的現(xiàn)代航空電子設(shè)計(jì)

基于現(xiàn)場FPGA核心的實(shí)施體現(xiàn)了先進(jìn)的現(xiàn)代航空電子設(shè)計(jì) 這項(xiàng)技術(shù)具有多種優(yōu)勢,如廢棄組件管理、降低設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)、提高集成度、減小體積、降低功耗
2010-02-09 10:28:34471

2011年電子設(shè)計(jì)大賽報(bào)告設(shè)計(jì)

2011年電子設(shè)計(jì)大賽報(bào)告設(shè)計(jì)
2011-08-27 12:54:466842

電子設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)與哲理

《感悟設(shè)計(jì):電子設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)與哲理》作為一個講述電子設(shè)計(jì)的書籍,卻在其中大量穿插了很多非電子的案例和知識點(diǎn)。同時(shí),也引用了一些大家都耳熟能詳?shù)恼軐W(xué)道理,并把這些道理作
2011-12-05 11:15:350

明導(dǎo) 管理汽車航空電子設(shè)計(jì)中的變量

電子設(shè)計(jì)自動化技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)廠商明導(dǎo)國際(Mentor Graphics )近日發(fā)布研究報(bào)告,介紹如何利用現(xiàn)代化布線設(shè)計(jì)工具來應(yīng)對復(fù)雜性的挑戰(zhàn)。選項(xiàng)代碼和表達(dá)式可以模擬汽車項(xiàng)目的變量,功能
2012-07-11 14:06:03552

07電子設(shè)計(jì)大賽論文

07電子設(shè)計(jì)大賽論文07電子設(shè)計(jì)大賽論文07電子設(shè)計(jì)大賽論文07電子設(shè)計(jì)大賽論文
2015-11-13 14:57:170

如何自學(xué)電子設(shè)計(jì)

如何自學(xué)電子設(shè)計(jì)如何自學(xué)電子設(shè)計(jì)如何自學(xué)電子設(shè)計(jì)如何自學(xué)電子設(shè)計(jì)
2015-11-16 18:31:0524

電子設(shè)計(jì)應(yīng)用超聲波測距儀的設(shè)計(jì)

電子設(shè)計(jì)應(yīng)用超聲波測距儀的設(shè)計(jì)電子設(shè)計(jì)應(yīng)用超聲波測距儀的設(shè)計(jì)電子設(shè)計(jì)應(yīng)用超聲波測距儀的設(shè)計(jì)電子設(shè)計(jì)應(yīng)用超聲波測距儀的設(shè)計(jì)電子設(shè)計(jì)應(yīng)用超聲波測距儀的設(shè)計(jì)電子設(shè)計(jì)應(yīng)用超聲波測距儀的設(shè)計(jì)電子設(shè)計(jì)應(yīng)用超聲波
2015-12-16 17:46:5811

電子設(shè)計(jì)基礎(chǔ)知識

基礎(chǔ)電子設(shè)計(jì)知識,包含基礎(chǔ)電子元件知識,基礎(chǔ)焊接知識和少了設(shè)計(jì)知識
2016-02-22 15:12:320

2012年15省賽區(qū)大學(xué)生電子設(shè)計(jì)TI杯電子設(shè)計(jì)競賽試題(全)

2012年15省賽區(qū)大學(xué)生電子設(shè)計(jì)TI杯電子設(shè)計(jì)競賽試題(全)。
2016-05-05 14:56:490

粒子翻轉(zhuǎn)加固鎖存器分析與輻照試驗(yàn)驗(yàn)證

粒子翻轉(zhuǎn)加固鎖存器分析與輻照試驗(yàn)驗(yàn)證_李天文
2017-01-07 22:14:031

ARINC659總線的單粒子翻轉(zhuǎn)識別

,對ARINC659總線標(biāo)準(zhǔn)背板總線組件在空間環(huán)境應(yīng)用下的單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)敏感環(huán)節(jié)進(jìn)行識別,并提出了有針對性的抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固設(shè)計(jì)措施,最后通過地面模擬試驗(yàn)對抗單粒子翻轉(zhuǎn)加固措施的正確性和有效性進(jìn)行了驗(yàn)證。試驗(yàn)表明進(jìn)行單粒子翻轉(zhuǎn)加固設(shè)計(jì)后的ARI
2018-01-29 17:22:110

在芯片設(shè)計(jì)階段如何防護(hù)“單粒子翻轉(zhuǎn)

粒子翻轉(zhuǎn)(Single-Event Upsets,SEU)指的是元器件受輻照影響引起電位狀態(tài)的跳變,“0”變成“1”,或者“1”變成“0”,但一般不會造成器件的物理性損傷。正因?yàn)椤皢?b class="flag-6" style="color: red">粒子翻轉(zhuǎn)”頻繁出現(xiàn),因此在芯片設(shè)計(jì)階段需要重點(diǎn)關(guān)注。這也是這篇文章的重點(diǎn)。
2020-11-29 11:07:104796

SPICE工具-電子設(shè)計(jì)

SPICE工具-電子設(shè)計(jì)
2021-04-29 12:01:1812

有效容忍單粒子多點(diǎn)翻轉(zhuǎn)的加固鎖存器

隨著集成電路工藝不斷改進(jìn),電荷共享效應(yīng)誘發(fā)的單粒子多點(diǎn)翻轉(zhuǎn)已經(jīng)成為影響芯片可靠性的重要因素為此提出一種有效容忍單粒子多點(diǎn)翻轉(zhuǎn)的加固鎖存器:低功耗多點(diǎn)翻轉(zhuǎn)加固鎖存器( low power
2021-06-03 14:42:3614

粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)的FPGA模擬技術(shù) (上)

隨著半導(dǎo)體工藝的不斷發(fā)展,器件特征尺寸逐漸減少,激發(fā)單粒子翻轉(zhuǎn)(Single Event Upset, SEU)效應(yīng)所需的能量閾值呈幾何級下降趨勢。例如,65 nm工藝下器件發(fā)生電平翻轉(zhuǎn)需6500個電荷,16 nm工藝下器件電平翻轉(zhuǎn)僅需1000個電荷 。
2023-02-09 10:12:211126

粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng)的FPGA模擬技術(shù) (下)

**旁路電路注入故障** 旁路電路技術(shù)的實(shí)現(xiàn)原理和掃描鏈技術(shù)類似,在原有的電路結(jié)構(gòu)上添加附加電路來使電路能夠模擬單粒子翻轉(zhuǎn)效應(yīng) ^[25-26]^ 。以寄存器為例,在正常狀態(tài)下寄存器保持其原本的功能,在故障注入模式下通過外部控制信號驅(qū)動附加電路從旁路修改寄存器的數(shù)值。
2023-02-09 10:13:25765

instance是何時(shí)翻轉(zhuǎn)的?每次有多少instance在翻轉(zhuǎn)?

在run dynamic vectorless IR時(shí),instance是何時(shí)翻轉(zhuǎn)的?每次有多少instance在翻轉(zhuǎn)?
2024-01-26 09:31:44173

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