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關(guān)于PhotoMOS 繼電器的熱切換實(shí)驗(yàn)分析

2017年10月30日 11:20 作者: 用戶評(píng)論(0

  光電繼電器隔離法的響應(yīng)速度快,工作壽命長(zhǎng),測(cè)量的成本相對(duì)較低,開關(guān)無觸點(diǎn),能夠起到電壓隔離的作用,若選用的光電繼電器采取PhotoMOS 技術(shù),則能達(dá)到較高的測(cè)量精度,所以光電繼電器隔離法是比較理想的單體電池電壓測(cè)量方法。

  PhotoMOS是指在輸入元件中采用LED,在輸出元件中采用MOSFET光電耦合器。PhotoMOS與傳統(tǒng) 的機(jī)械型繼電器最大的區(qū)別在于:PhotoMOS是一款“光電耦合器”,觸點(diǎn)不進(jìn)行機(jī)械性的開閉。為此,在觸點(diǎn)可靠性、壽命、動(dòng)作聲音、動(dòng)作速度、以及尺 寸大小方面具有卓越的特性。

  動(dòng)作原理是通過光電元件(太陽能電池)將發(fā)光元件(LED)的光進(jìn)行電壓變換,通過功率MOSFET的導(dǎo)通、非導(dǎo)通,進(jìn)行負(fù)載控制。圖下表示動(dòng)作時(shí)、還原時(shí)的原理。關(guān)于PhotoMOS 繼電器的熱切換實(shí)驗(yàn)分析

  PhotoMOS因優(yōu)點(diǎn)突出,現(xiàn)在越來越多的被用于測(cè)試板上。了解PhotoMOS 的工作特性也顯得更重要了。我們從PhotoMOS 的 datasheet可以看到當(dāng)控制位動(dòng)作時(shí),輸出端不是立馬就有輸出。這是因?yàn)檩斎攵说腖ED發(fā)光讓Gate端電壓線性上升需要一定的時(shí)間,只有當(dāng) Gate的電壓大于Vth時(shí)MOS才會(huì)打開。隨著Gate端電壓不斷上升 MOS的電阻不斷減小直到穩(wěn)定。下面是DataSheet的 Turn-ON/Turn-OFF 圖,以及用實(shí)際電路測(cè)試的結(jié)果圖。

  DataSheet Turn-ON/Turn-OFF 示意圖:

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  實(shí)測(cè)時(shí)的原理圖:

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  實(shí)測(cè)的PhotoMOS Turn-ON/Turn-OFF 的響應(yīng)圖:

  MOS電阻:Rmos=Vout*100Ohm/(10V-Vout),在50%位子,Rmos=100Ohm。

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  從以上圖我們不難看出隨著Gate的電壓不斷上升,MOS在100uS左右開始打開(不同類型的PhotoMOS不同,主要和它的大小有關(guān)),然后 在隨著Gate電壓的繼續(xù)上升,MOS 電阻急劇下降。MOS電阻的下降與Gate電壓成倒數(shù)關(guān)系,也就是Rmos=k/(Vgate-Vth)。

  下面切入主題,PhotoMOS的熱切換也會(huì)像機(jī)械Relay一樣那樣會(huì)出現(xiàn)很大的電流嗎?我們知道MOS的電阻是有大變小的,而不是像機(jī)械的立馬接觸且接觸電阻很小,那么在MOS電阻從大變小的過程中能讓電路上因?yàn)闊崆袚Q中多余的能量緩慢釋放嗎?

  下面是搭的檢測(cè)電路。我們知道熱切換最惡劣的情況就是負(fù)載是低阻抗,比如接地。這樣會(huì)沒有限制的瞬間釋放掉所有的能量。電路圖中用的負(fù)載是大電容,這是為了便于我們分析問題。在開始階段,惡劣情況等同于接地。下面是Setup的過程:

  1,PhotoMOS保持open,APU給10V(100MA的電流RANGE),負(fù)載端放一個(gè)4.7uF的電容。電路中的紅色電容是寄生電容, 這個(gè)寄生電容和APU的狀態(tài)有關(guān),在APU10V/100mA的情況下它的寄生電容在150nF左右(關(guān)于測(cè)試機(jī)的寄生電容是可以被測(cè)試出來的,有興趣的 可以研究研究)。在這個(gè)Setup下寄生電容被充電到10V。

  2,閉合PhotoMOS,這樣不受控制的寄生電容的能量會(huì)放給我們的負(fù)載電容。

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  那么會(huì)有很大的電流spike產(chǎn)生嗎?下面是我們?cè)?.7uF電容上測(cè)到的電壓變化。第一段的線是因?yàn)榧纳娙莸姆烹?,?dǎo)致負(fù)載電容的電壓極具上 升,根據(jù)I=C*DV/DT,我們可以得出I=1.3A左右,我們也可以看出電流在第一段線上沒有突然的大或小,因?yàn)樗蔷€性上升。而且我們可以看出在開 始的1us左右,因?yàn)镸OS的電阻較大,電流比較小,電壓上升不快。當(dāng)能量釋放完時(shí),因?yàn)殡娏鱮ang卡在100mA(實(shí)際充電電流為110mA多些,這 是因?yàn)闇y(cè)試的硬件clamp,和測(cè)試機(jī)有關(guān))。后面的電壓上升就是測(cè)試機(jī)的電流在充電了。

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  結(jié)論,PhotoMOS在熱切換時(shí),電流的大小和線路上的額外能量(不受控能量)有關(guān),額外能量越大,電流越大。1.3A已經(jīng)遠(yuǎn)超我實(shí)驗(yàn)的 PhotoMOS的最大負(fù)載電流,因?yàn)槌掷m(xù)時(shí)間不長(zhǎng)PhotoMOS本身沒有燒壞。一般有種說法就是在極短時(shí)間內(nèi),PhotoMOS可以承載4,5倍的極 限電流。

  當(dāng)然我們要盡量避免熱切換,這里只是熱切換問題的嚴(yán)重性。

  有時(shí)候如果考慮不周全也會(huì)導(dǎo)致一些人切換。比如:

  熱切換舉例,如果測(cè)O/S時(shí),因?yàn)楫?dāng)前device open,因抽不出電流電壓clamp到-10V,進(jìn)而對(duì)線路上的電容充電到-10V,測(cè)完O/S后又沒放電的線路,然后open了相關(guān)Relay,關(guān)閉 了相關(guān)測(cè)試機(jī)資源。那么該電容將保持-10V,直到在測(cè)試下一顆Device時(shí),因?yàn)橹匦聅etup是,因?yàn)閞esource的電已經(jīng)放完,這線路上是 0V,那么線路上的寄生電容就會(huì)對(duì)這個(gè)-10V,放電,同時(shí)device的地也會(huì)通過二極管給電容放電。這樣Relay和device都處于危險(xiǎn)之中。

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( 發(fā)表人:黃昊宇 )

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