識(shí)別不確定性方面 - 如何將射頻儀器發(fā)揮最大功效

　　僅僅匹配射頻測(cè)試設(shè)備的數(shù)據(jù)表格說(shuō)明與被測(cè)試裝置的測(cè)試要求是不夠的。這在更高頻率或者失配的射頻測(cè)量中尤其明顯，除其它外，還有放大不確定性。在測(cè)量的每個(gè)步驟中引入的誤差會(huì)使總體結(jié)果出現(xiàn)偏差。當(dāng)一個(gè)不正確的測(cè)量結(jié)果出現(xiàn)時(shí)，你應(yīng)該在質(zhì)疑被測(cè)量裝置存在問題之前首先懷疑測(cè)量出現(xiàn)錯(cuò)誤。

　　請(qǐng)?jiān)跍y(cè)量過(guò)程中了解儀器儀表以及被測(cè)試裝置的關(guān)鍵操作規(guī)范。在其它規(guī)范中，了解匹配，頻率響應(yīng)，噪聲系數(shù)和功率。同時(shí)，也要了解這些參數(shù)的容許誤差。請(qǐng)記住如下要素：

　　射頻開關(guān)重復(fù)性，老化和功率處理

　　耦合器的指向性，電纜的相穩(wěn)定性以及適配器的插入損耗和回波損耗

　　電路板線路的阻抗質(zhì)量，器件插座和電路板的開關(guān)轉(zhuǎn)換

　　測(cè)量中的電磁干擾(EMI)輻射和耦合

　　一些通常沒有被認(rèn)真考慮的項(xiàng)目，例如冷卻、諧波、激勵(lì)以及其他非線性行為也能夠增加測(cè)量中的誤差。審視整個(gè)測(cè)試設(shè)備并確定每一塊的誤差分布以獲得對(duì)預(yù)期測(cè)量不確定性的實(shí)際評(píng)價(jià)。找出誤差原因和它們對(duì)精度、重復(fù)性和不確定性的影響。這可以得到更好的結(jié)果，使您能更加有效和有意義地分配預(yù)算和資源。

　　注意所有的連接和組件

　　開發(fā)、設(shè)計(jì)、測(cè)試以及將產(chǎn)品推廣到市場(chǎng)這一系列的花費(fèi)是一筆相當(dāng)大的投資。一個(gè)公司的成敗與否取決于產(chǎn)品的性能。在高性能的射頻測(cè)試設(shè)備上的支出是有重要意義的，因?yàn)檫@能夠表明產(chǎn)品達(dá)到或超過(guò)與市場(chǎng)份額掛鉤的關(guān)鍵技術(shù)要求。此外它還代表了一種競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)和公司收入的主要增加來(lái)源。

　　然而，僅有一個(gè)高性能的，昂貴的，經(jīng)過(guò)良好校準(zhǔn)的測(cè)試系統(tǒng)和同樣性能顯著的被測(cè)試器件是不夠的，還應(yīng)該對(duì)被測(cè)試器件測(cè)試系統(tǒng)中的附屬連接和組件的質(zhì)量和重復(fù)性給予同等的關(guān)注。也許在關(guān)鍵的技術(shù)指標(biāo)上十分之一或二的改進(jìn)都是一個(gè)有競(jìng)爭(zhēng)力的優(yōu)勢(shì)。在大多數(shù)標(biāo)準(zhǔn)下，源和負(fù)載的匹配(駐波比)為1：1.5是不錯(cuò)的，但是這種程度的匹配將引入一個(gè)錯(cuò)誤的(大約)為+/-0.35分貝的失配不確定性。一個(gè)0.2分貝的關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)不可能在這么多的不確定性影響下得到證明。

　　容易忽視的項(xiàng)目例如電纜、開關(guān)、衰減器、連接器、插座、適配器和附件會(huì)不利于整個(gè)測(cè)量。從需要的精度出發(fā)，然后選擇適合測(cè)量的組件。一個(gè)好的經(jīng)驗(yàn)法則會(huì)使測(cè)試系統(tǒng)性能十倍于你正在測(cè)試的被測(cè)試裝置的參數(shù)。

　　有了一個(gè)高品質(zhì)信道，下一步是要采用好的測(cè)量方法。請(qǐng)確保你正確清潔和存放電纜、連接器和適配器。即使是最好的電纜和連接器失效了，也要放棄對(duì)它們的使用，它們是測(cè)試過(guò)程中的耗材。采取措施，盡量減少適配器的使用，確保扭矩扳手和連接規(guī)格按常規(guī)使用以使熱切換最小。請(qǐng)記住正確的靜電放電(ESD)做法。即使測(cè)試系統(tǒng)間最高品質(zhì)的元件和被測(cè)試裝置的級(jí)聯(lián)也可以引入測(cè)量誤差。

　　為作業(yè)選擇適當(dāng)?shù)墓ぞ?/strong>