摘要:本應用筆記闡述對于采用雪崩光電二極管(APD)的光接收器,如何利用DS1864 SFP激光器與診斷提高接收信號強度指示(RSSI)的校準。本文討論了APD和RSSI之間的關系,介紹了利用DS1864提高RSSI的基本操作。
圖1. 典型的APD電流監(jiān)測器原理圖
流過APD的電流可由公式:IAPD = PRX × M × η計算,式中:
IAPD是以mA為單位的電流
PRX是以mW為單位的接收功率
M是APD的雪崩增益系數
η是以A/W為單位的轉換效率
轉換效率依賴于結構因素、溫度以及波長,其典型值在0.65 < η < 0.95范圍內。
將APD偏置到接近于其擊穿電壓VBR可以得到APD增益,VBR典型值在20V至80V,由APD結構和工作溫度決定。APD偏置離其擊穿電壓越近,M值越大。當APD處于雪崩模式時,M與施加到APD上的電壓VBR和VAP成比例,它們的關系為:M ∝ √(VBR/(VBR - VAPD))。M的精確測量由APD材料類型、增益以及其它參數決定。對于一個155Mbps至40Gbps的典型APD,M通常設置在:3 < M < 10,圖2給出了一個典型的APD增益曲線。從圖1可以看出,當光輸入功率增大時,通過減小M值,R1可以增大APD的動態(tài)范圍。隨著R1電流的增加,APD的電壓降低。從而使得APD偏離其擊穿電壓,降低M值,公式為:M ∝ √(VBR/(VBR - (VBIAS - IAPD × R1)))。需要注意的是,通過對上述方程進行替代,可以發(fā)現M僅依賴于其自身:M ∝ √(VBR/(VBR - (VBIAS - PRX × M × η × R1)))。通過一個檢測比例為10:1的電流鏡,ADC上作用的電壓(VADC)按照下式計算:
VADV = IAPD × (1/10) × R2 = PRX × M × η × (1/10) × R2
圖2. 典型的APD增益曲線
對于APD RSSI測量,很重要的是須注意增強型RSSI的兩個范圍具有獨立的失調和量程校準因子。另外,精確測量模式下允許ADC測量結果最多右移7位。當配置為7位右移時,精確模下的最大讀數是01FFh,而粗測模式下的最小讀數是01E0h。為了防止兩個范圍重疊(01FFh至01E0h),提供了31位的滯回。
圖3. 典型APD檢測器的理想LSB加權和實際校準的加權
當MON3的精確轉換配置為7位右移時,在ADC的1E0h和1FFh臺階之間發(fā)生LSB 加權的交叉。最佳LSB加權值必須基于APD和監(jiān)測電路確定,上例得到的RSSI誤差如圖4所示。
圖4. 典型APD監(jiān)測器應用中的RSSI誤差
APD RSSI介紹
許多光模塊在高靈敏度應用中使用基于雪崩光電二極管(APD)的光接收器。在這樣的模塊中,接收信號強度指示(RSSI)基于光電流,而不是無阻放大器(TIA)輸出的電信號幅度。圖1所示為一個典型的具有電壓輸出的電流監(jiān)控電路。圖1. 典型的APD電流監(jiān)測器原理圖
流過APD的電流可由公式:IAPD = PRX × M × η計算,式中:
IAPD是以mA為單位的電流
PRX是以mW為單位的接收功率
M是APD的雪崩增益系數
η是以A/W為單位的轉換效率
轉換效率依賴于結構因素、溫度以及波長,其典型值在0.65 < η < 0.95范圍內。
將APD偏置到接近于其擊穿電壓VBR可以得到APD增益,VBR典型值在20V至80V,由APD結構和工作溫度決定。APD偏置離其擊穿電壓越近,M值越大。當APD處于雪崩模式時,M與施加到APD上的電壓VBR和VAP成比例,它們的關系為:M ∝ √(VBR/(VBR - VAPD))。M的精確測量由APD材料類型、增益以及其它參數決定。對于一個155Mbps至40Gbps的典型APD,M通常設置在:3 < M < 10,圖2給出了一個典型的APD增益曲線。從圖1可以看出,當光輸入功率增大時,通過減小M值,R1可以增大APD的動態(tài)范圍。隨著R1電流的增加,APD的電壓降低。從而使得APD偏離其擊穿電壓,降低M值,公式為:M ∝ √(VBR/(VBR - (VBIAS - IAPD × R1)))。需要注意的是,通過對上述方程進行替代,可以發(fā)現M僅依賴于其自身:M ∝ √(VBR/(VBR - (VBIAS - PRX × M × η × R1)))。通過一個檢測比例為10:1的電流鏡,ADC上作用的電壓(VADC)按照下式計算:
VADV = IAPD × (1/10) × R2 = PRX × M × η × (1/10) × R2
圖2. 典型的APD增益曲線
增強RSSI模式概述
DS1864 SFP激光器與診斷IC包括一個用于MON3通道的增強RSSI模式,該通道是13位ADC的一個差分輸入。增強的RSSI也稱為雙范圍特性。在增強的RSSI模式下,ADC會進行兩次不同的讀取,稱為精確讀取模式和粗略讀取模式(DS1864數據資料的第20和21頁介紹了這種模式)。精確測量模式會自動測量小輸入信號。但是,如果ADC輸入大信號,將自動使用粗略測量模式。對于APD RSSI測量,很重要的是須注意增強型RSSI的兩個范圍具有獨立的失調和量程校準因子。另外,精確測量模式下允許ADC測量結果最多右移7位。當配置為7位右移時,精確模下的最大讀數是01FFh,而粗測模式下的最小讀數是01E0h。為了防止兩個范圍重疊(01FFh至01E0h),提供了31位的滯回。
APD RSSI的雙范圍校準
為了滿足SFF-8472,監(jiān)測電路和ADC必須進行校準,以保證1 LSB = 0.1μW。因為M隨輸入功率的不同而變化,為了保持每個LSB都在0.1μW,需要優(yōu)化ADC步長。如果M從3變到10,使用一個ADC的LSB加權,所產生的總誤差為10×log10(10/3) = 5.23dB。因為DS1864容許對兩個不同的ADC范圍進行獨立校準,可以定義兩個不同的LSB加權。這會減小由于M的改變而引起的誤差。圖3所示為理想的LSB加權和基于典型APD和檢測器的兩個不同加權。圖3. 典型APD檢測器的理想LSB加權和實際校準的加權
當MON3的精確轉換配置為7位右移時,在ADC的1E0h和1FFh臺階之間發(fā)生LSB 加權的交叉。最佳LSB加權值必須基于APD和監(jiān)測電路確定,上例得到的RSSI誤差如圖4所示。
圖4. 典型APD監(jiān)測器應用中的RSSI誤差
評論
查看更多