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標(biāo)簽 > 表面粗糙度
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優(yōu)可測白光干涉儀AM系列:量化管控納米級(jí)粗糙度,位移傳感器關(guān)鍵零件壽命提升50%
位移傳感器模組的編碼盤,其粗糙度及碼道的刻蝕深度和寬度,會(huì)對(duì)性能帶來關(guān)鍵性影響。優(yōu)可測白光干涉儀精確測量表面粗糙度以及刻蝕形貌尺寸,精度最...
優(yōu)可測白光干涉儀和薄膜厚度測量儀:如何把控ITO薄膜的“黃金參數(shù)”
ITO薄膜的表面粗糙度與厚度影響著其產(chǎn)品性能與成本控制。優(yōu)可測亞納米級(jí)檢測ITO薄膜黃金參數(shù),幫助廠家優(yōu)化產(chǎn)品性能,實(s...
首先是以工件的中心孔作為加工的定位基準(zhǔn)。軸類零件加工中,各外圓表面、錐孔、螺紋表面的同軸度,端面對(duì)旋轉(zhuǎn)軸線的垂直度都是位置精度的重要體現(xiàn)...
機(jī)械加工中粗糙度分為幾級(jí) 表面粗糙度測量方法有哪幾種
粗糙度的評(píng)定參數(shù) 以RaRzRy三種代號(hào)加數(shù)字來表示,機(jī)械圖紙中都會(huì)有相應(yīng)的表面質(zhì)量要求,一般是工件表面粗糙度Ra<...
納米級(jí)形貌快速測量,優(yōu)可測白光干涉儀助力摩擦磨損學(xué)科發(fā)展
研究摩擦學(xué),能帶來什么價(jià)值?從摩擦磨損到亞納米級(jí)精度,白光干涉儀如何參與摩擦學(xué)發(fā)展?
入駐眾多科研機(jī)構(gòu),優(yōu)可測白光干涉儀助力前沿成果發(fā)布
近年來,優(yōu)可測白光干涉儀在科研領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,被多篇科研論文使用,在CFRP/Al鉆孔監(jiān)測、光纖微透鏡制造、超快3D打印等領...
氧化鎵襯底表面粗糙度和三維形貌,優(yōu)可測白光干涉儀檢測時(shí)長縮短至秒級(jí)!
傳統(tǒng)AFM檢測氧化鎵表面三維形貌和粗糙度需要20分鐘左右,優(yōu)可測白光干涉儀檢測方案僅需3秒,百倍提升檢測效率!
優(yōu)可測白光干涉儀:助力手機(jī)玻璃蓋板品質(zhì)提升 | 行業(yè)應(yīng)用
手機(jī)蓋板材料從塑料、金屬到玻璃/陶瓷,再到納米紋理玻璃,不斷革新以滿足消費(fèi)者需求。其中,影響手機(jī)玻璃蓋板關(guān)鍵因素包括蝕刻深度、角...
優(yōu)可測白光干涉儀助力紅外探測行業(yè)發(fā)展——晶圓襯底檢測
晶圓襯底的質(zhì)量對(duì)紅外探測器芯片性能至關(guān)重要,優(yōu)可測白光干涉儀可以高精度測量晶圓襯底的亞納米級(jí)粗糙度、納米級(jí)臺(tái)階、整體平面...
輪廓測長|光學(xué)型輪廓儀專業(yè)檢測光學(xué)鏡片曲面
精密光學(xué)元件制作中,粗糙度影響光學(xué)曲面質(zhì)量。輪廓儀以高精度、自動(dòng)化、多功能和數(shù)據(jù)分析能力,實(shí)現(xi...
白光干涉儀AM系列助力3D打印技術(shù)的科研發(fā)展
自品牌開創(chuàng)以來,優(yōu)可測一直秉承著“用心檢測”的理念,樂于協(xié)助高校、研究院以及實(shí)驗(yàn)室的學(xué)子、老師進(jìn)行學(xu...
國內(nèi)第一片300mm射頻(RF)SOI晶圓的關(guān)鍵技術(shù)
多晶硅層用作電荷俘獲層是RF-SOI中提高器件射頻性能的關(guān)鍵技術(shù),晶粒大小、取向、晶界分布、多晶硅電阻率等參數(shù)與電荷俘獲性能有密切的關(guān)...
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