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標(biāo)簽 > smu儀器
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【技術(shù)大咖測試筆記系列】之十:在當(dāng)今高壓半導(dǎo)體器件上執(zhí)行擊穿電壓和漏流測量
準(zhǔn)確的電源和測量測試對表征這些高壓器件非常關(guān)鍵,以便能夠及時(shí)制訂正確的設(shè)計(jì)決策。提高設(shè)計(jì)裕量和過度設(shè)計(jì)只會推動成本上升,導(dǎo)致性能下降。
2021-12-17 標(biāo)簽:連接器半導(dǎo)體器件SMU儀器 1994 0
NVM測試要求發(fā)生演變,泰克4200A一體化測試解決方案集中進(jìn)行表征
理想的內(nèi)存應(yīng)兼具動態(tài)內(nèi)存和非易失性內(nèi)存的特點(diǎn):成本越來越低,密度越來越高;快速讀/寫,類似于或快于現(xiàn)有的DRAM速度
2020-11-17 標(biāo)簽:示波器NVM內(nèi)存技術(shù) 1143 0
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