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標(biāo)簽 > euv
EUV光刻技術(shù) - 即將在芯片上繪制微小特征的下一代技術(shù) – 原來(lái)是預(yù)計(jì)在2012年左右投產(chǎn)。但是幾年過(guò)去了,EUV已經(jīng)遇到了一些延遲,將技術(shù)從一個(gè)節(jié)點(diǎn)推向下一個(gè)階段,本單元詳細(xì)介紹了EUV光刻機(jī),EUV光刻機(jī)技術(shù)的技術(shù)應(yīng)用,EUV光刻機(jī)的技術(shù)、市場(chǎng)問(wèn)題,國(guó)產(chǎn)euv光刻機(jī)發(fā)展等內(nèi)容。
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新的High NA EUV 光刻膠不能在封閉的研究環(huán)境中開(kāi)發(fā),必須通過(guò)精心設(shè)計(jì)的底層、新型硬掩模和高選擇性蝕刻工藝進(jìn)行優(yōu)化以獲得最佳性能。為了迎接這一挑...
超快光譜學(xué)和半導(dǎo)體光刻領(lǐng)域皆依賴(lài)于非常短的波長(zhǎng),往往在極紫外extreme ultraviolet,EUV波段。然而,大多數(shù)光學(xué)材料強(qiáng)烈地吸收該波長(zhǎng)范圍...
國(guó)產(chǎn)***EUV與DUV的分類(lèi)
DUV是深紫外線(Deep Ultraviolet Lithography),EUV是極深紫外線(Extreme Ultraviolet Lithogr...
光掩??梢员徽J(rèn)為是芯片的模板。光掩模用電子束圖案化并放置在光刻工具內(nèi)。然后,光掩??梢晕栈蛏⑸涔庾?,或允許它們穿過(guò)晶圓。這就是在晶圓上創(chuàng)建圖案的原因。
追求更小的 DRAM 單元尺寸(cell size)仍然很活躍并且正在進(jìn)行中。對(duì)于 D12 節(jié)點(diǎn),DRAM 單元尺寸預(yù)計(jì)接近 0.0013 um2。無(wú)...
目前主力出貨的TWINSCAN NXE: 3600D套刻精度為1.1nm,曝光速度30 mJ/cm2,每小時(shí)曝光160片晶圓,年產(chǎn)量為140萬(wàn)片。
芯片背面供電網(wǎng)絡(luò)的三種實(shí)現(xiàn)方式通信
實(shí)現(xiàn)3nm以下微縮的關(guān)鍵技術(shù)之一涉及在芯片背面提供功率。這種新穎的方法增強(qiáng)了信號(hào)完整性并減少了路由擁塞,但它也帶來(lái)了一些新的挑戰(zhàn),目前還沒(méi)有簡(jiǎn)單的解決方案。
華為EUV光刻新專(zhuān)利可解決相干光無(wú)法勻光問(wèn)題
該專(zhuān)利提供一種光刻裝置,該光刻裝置通過(guò)不斷改變相干光形成的干涉圖樣,使得照明視場(chǎng)在曝光時(shí)間內(nèi)的累積光強(qiáng)均勻化,從而達(dá)到勻光的目的,進(jìn)而也就解決了相關(guān)技術(shù)...
該照明系統(tǒng)3包括視場(chǎng)復(fù)眼鏡31(field flyeye mirror,F(xiàn)FM)、光闌復(fù)眼鏡 32(diaphragm flyeye mirror,PF...
2022-11-21 標(biāo)簽:照明系統(tǒng)光刻極紫外光刻 940 0
光刻是半導(dǎo)體工業(yè)的核心技術(shù)。自1960年Fairchild Semiconductor的羅伯特·諾伊斯發(fā)明單片集成電路以來(lái),光刻一直是主要的光刻技術(shù)。
光刻是半導(dǎo)體工藝中最關(guān)鍵的步驟之一。EUV是當(dāng)今半導(dǎo)體行業(yè)最熱門(mén)的關(guān)鍵詞,也是光刻技術(shù)。為了更好地理解 EUV 是什么,讓我們仔細(xì)看看光刻技術(shù)。
2022-10-18 標(biāo)簽:EUV半導(dǎo)體工藝三星 5035 0
EUV 光刻是以波長(zhǎng)為 10-14nm 的極紫外光作為光源的芯片光刻技術(shù),簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),就是以極紫外光作“刀”,對(duì)芯片上的晶圓進(jìn)行雕刻,讓芯片上的電路變成人...
隨著光刻膠層變得更薄,整體光刻膠的特性變得不那么重要,并且光刻膠(暴露與否)與顯影劑和底層之間的界面變得更加重要。
關(guān)于英特爾4處理節(jié)點(diǎn)技術(shù)詳解
EUV 的使用也對(duì)英特爾的產(chǎn)量產(chǎn)生了積極影響。盡管該公司沒(méi)有提供確切的數(shù)字,但步驟數(shù)量的減少減少了任何會(huì)在晶圓上引入缺陷的錯(cuò)誤的機(jī)會(huì)。
EUV光刻技術(shù)出現(xiàn)新的挑戰(zhàn):3nm節(jié)點(diǎn)的金屬間距約為22nm
22 nm 節(jié)距quasar illumination的較小部分使得最低衍射級(jí)避免了遮擋可以安全使用,但填充的pupil不到 20%,這再次意味著額外的...
芯片制造的光刻支出如何隨著各種節(jié)點(diǎn)縮小演變歷程
單片設(shè)計(jì)每個(gè)晶圓有 30 個(gè)好的die,而小芯片 MCM 設(shè)計(jì)每個(gè)晶圓有 79 個(gè)好的die。假設(shè)所有有缺陷的die都必須扔進(jìn)垃圾桶。如果沒(méi)有芯片良率收...
在更高的孔徑下,光子以更淺的角度撞擊掩模,相對(duì)于圖案尺寸投射更長(zhǎng)的陰影?!昂诎怠?、完全被遮擋的區(qū)域和“明亮”、完全曝光的區(qū)域之間的邊界變?yōu)榛疑?,從而?..
如何加快5nm芯片良率 ,EUV光刻或是關(guān)鍵要素
先進(jìn) 5nm 器件或先進(jìn)封裝的良率提升需要識(shí)別和去除從光刻到封裝材料的關(guān)鍵缺陷,因此智能和快速的晶圓級(jí)檢測(cè)必不可少。
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