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標(biāo)簽 > ate
ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動(dòng)測試機(jī)，用于檢測集成電路功能之完整性， 為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程， 以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。
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在老化機(jī)測試中，“精密、耐用、高密度”這三項(xiàng)指標(biāo)缺一不可，傳統(tǒng)機(jī)械繼電器體積大、壽命短；半導(dǎo)體開關(guān)又...
2025-07-18 標(biāo)簽：ATE老化測試自動(dòng)測試設(shè)備 737 0
在集成電路（IC）制造領(lǐng)域，測試環(huán)節(jié)是確保芯片性能和可靠性的重要步驟。然而，測試過程往往伴隨著高昂的成本和復(fù)雜的設(shè)備需求。本文將探討如何通...
高頻干簧繼電器：網(wǎng)絡(luò)分析儀的高效“搭檔”
無論是用于測量模擬連續(xù)波高頻的特性，還是快速數(shù)字脈沖的上升和下降時(shí)間，網(wǎng)絡(luò)分析儀已成為射頻領(lǐng)域不可或缺的工具。隨著技術(shù)的...
2025-04-02 標(biāo)簽：繼電器測試測量網(wǎng)絡(luò)分析儀 1039 0
大功率自動(dòng)化測試設(shè)備 (ATE) 系統(tǒng)的開發(fā)為測試工程師帶來了眾多挑戰(zhàn)。但測試是必要的，它能夠確保產(chǎn)品的安全性以及產(chǎn)品達...
2025-03-31 標(biāo)簽：測試系統(tǒng)ATE測試設(shè)備 863 0
01項(xiàng)目概述為海軍ATE測試設(shè)備開發(fā)海量互連V25通用測試接口，提升測試系統(tǒng)的通用性、可移植性和維護(hù)效率。核心思想：從“面向儀器”轉(zh...
電纜線束是電子系統(tǒng)的核心組件，通常由多根鍍銅線組成，連接到不同位置，總長度可達(dá)數(shù)千米。然而，在制造過程中，這些銅線可能會(huì)因刮擦...
2025-03-11 標(biāo)簽：測試測量自動(dòng)測試ATE 531 0
產(chǎn)品應(yīng)用方案｜士模八通道同步采樣ADC（CM2248)在ATE設(shè)備中的應(yīng)用
CM2248具有集成度高，92dB SNR高信噪比，-105dB高THD等優(yōu)勢；使得它非常適合應(yīng)用于ATE設(shè)備中各類信號(hào)的高精度回采。同時(s...
2025-03-06 標(biāo)簽：adc模數(shù)轉(zhuǎn)換器ATE 419 0
干簧繼電器：工業(yè)數(shù)據(jù)采集的可靠之選
在工業(yè)環(huán)境中，數(shù)據(jù)采集是一項(xiàng)充滿挑戰(zhàn)的任務(wù)。傳感器（如熱電偶）通常輸出微弱的電壓信號(hào)，且往往位于偏遠(yuǎn)位...
2025-03-03 標(biāo)簽：測試測量數(shù)據(jù)采集ATE 860 0
采用系統(tǒng)級模塊方法簡化精密阻抗分析儀的設(shè)計(jì)
作者：Kenton Williston 投稿人：DigiKey 北美編輯 許多應(yīng)用都要求準(zhǔn)確的阻抗測量，這些應(yīng)用包括觸摸屏校準(zhǔn)、半導(dǎo)體表征...
干簧繼電器：高端萬用表如何輕松應(yīng)對高低壓測量挑戰(zhàn)？
隨著電子設(shè)備和系統(tǒng)對電壓和電流測量的需求的日益增長。這些測量需要覆蓋多個(gè)量級，從納伏到千伏，從飛安到高安培。僅靠單一儀器實(shí)現(xiàn)如此廣泛的測...
一、測試程序的基本概念測試程序，即被ATE（AutomaticTestEquipment，自動(dòng)測試設(shè)備）識(shí)別和執(zhí)行的指令集，是集成電路測試的核心。測...
IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zh...
OM3多模光纖（Multi-ModeFiber），屬于OM系列光纖中的一種。光纖芯直徑通常為50μm，包層直徑為125μm。具有低色散和激光優(yōu)化的性能特...
如何選擇和應(yīng)用機(jī)電繼電器實(shí)現(xiàn)多功能且可靠的信號(hào)切換
作者：Bill Schweber 投稿人：DigiKey 北美編輯 2024-08-20 電信和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備、自動(dòng)測試設(shè)備 (ATE) 和安全設...
DFT全稱為Design for Test，可測性設(shè)計(jì)。就是說我們設(shè)計(jì)好一個(gè)芯片后，在仿真時(shí)可能99%的用例都通過了，怎么...
半導(dǎo)體測試設(shè)備主要包括三類：ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測試功能由測試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī...
作為一名測試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測試成...
聊聊IC測試機(jī)（4）DFT PLL向量，ATE怎么用？
自動(dòng)測試設(shè)備 (ATE)對PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級芯片（SoC）中的重要性。
聊聊IC測試機(jī)（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡介
ATE(Auto Test Equipment) 在測試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)監(jiān)測芯片的輸出管腳，看其輸出信號(hà...
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