ATE

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ATE是Automatic Test Equipment的縮寫，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路（IC）自動(dòng)測(cè)試機(jī)，用于檢測(cè)集成電路功能之完整性，為集成電路生產(chǎn)制造之最后流程，以確保集成電路生產(chǎn)制造之品質(zhì)。

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ATE簡(jiǎn)介

　　在元器件的工藝流程中，根據(jù)工藝的需要，存在著各種需要測(cè)試的環(huán)節(jié)。目的是為了篩選殘次品，防止進(jìn)入下一道的工序，減少下一道工序中的冗余的制造費(fèi)用。這些環(huán)節(jié)需要通過(guò)各種物理參數(shù)來(lái)把握，這些參數(shù)可以是現(xiàn)實(shí)物理世界中的光，電，波，力學(xué)等各種參量，但是，目前大多數(shù)常見(jiàn)的是電子信號(hào)的居多。ATE設(shè)計(jì)工程師們要考慮的最多的，還是電子部分的參數(shù)比如，時(shí)間，相位，電壓電流，等等基本的物理參數(shù)。就是電子學(xué)所說(shuō)的，信號(hào)處理。

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ate知識(shí)

高壓干簧繼電器矩陣的應(yīng)用：電纜測(cè)試儀

電纜線束是電子系統(tǒng)的核心組件，通常由多根鍍銅線組成，連接到不同位置，總長(zhǎng)度可達(dá)數(shù)千米。然而，在制造過(guò)程中，這些銅線可能會(huì)

2025-03-11 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量自動(dòng)測(cè)試 ATE 154 0
產(chǎn)品應(yīng)用方案｜士模八通道同步采樣ADC（CM2248)在ATE設(shè)備中的應(yīng)用

CM2248具有集成度高，92dB SNR高信噪比，-105dB高THD等優(yōu)勢(shì)；使得它非常適合應(yīng)用于ATE設(shè)備中各類信號(hào)

2025-03-06 標(biāo)簽： adc 模數(shù)轉(zhuǎn)換器 ATE 82 0
干簧繼電器：工業(yè)數(shù)據(jù)采集的可靠之選

在工業(yè)環(huán)境中，數(shù)據(jù)采集是一項(xiàng)充滿挑戰(zhàn)的任務(wù)。傳感器（如熱電偶）通常輸出微弱的電壓信號(hào)，且往往位于偏遠(yuǎn)位置。將這些信號(hào)完整

2025-03-03 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量數(shù)據(jù)采集 ATE 525 0
SANYU繼電器：升級(jí)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備解決方案

重新定義精準(zhǔn)、性能、可靠性

2025-02-18 標(biāo)簽：繼電器測(cè)試測(cè)量 ATE 1261 0
案例之靈活且面向未來(lái)的ATE系統(tǒng)

得益于Intepro和Pickering公司在開放架構(gòu)硬件領(lǐng)域的緊密協(xié)作及共同愿景，雙方成功開發(fā)出一系列及時(shí)交付、量身定

2025-02-17 標(biāo)簽：自動(dòng)化測(cè)試 ATE 167 0
采用系統(tǒng)級(jí)模塊方法簡(jiǎn)化精密阻抗分析儀的設(shè)計(jì)

作者：Kenton Williston 投稿人：DigiKey 北美編輯許多應(yīng)用都要求準(zhǔn)確的阻抗測(cè)量，這些應(yīng)用包括觸摸

2025-01-26 標(biāo)簽： LCR ATE 阻抗測(cè)量 221 0
干簧繼電器：高端萬(wàn)用表如何輕松應(yīng)對(duì)高低壓測(cè)量挑戰(zhàn)？

隨著電子設(shè)備和系統(tǒng)對(duì)電壓和電流測(cè)量的需求的日益增長(zhǎng)。這些測(cè)量需要覆蓋多個(gè)量級(jí)，從納伏到千伏，從飛安到高安培。僅靠單一儀器

2025-01-20 標(biāo)簽：萬(wàn)用表測(cè)試測(cè)量 ATE 427 0
光伏行業(yè)中逆變器ATE測(cè)試系統(tǒng)重要性

在現(xiàn)代光伏發(fā)電系統(tǒng)中，逆變器作為核心組件，承擔(dān)著將太陽(yáng)能電池板產(chǎn)生的直流電轉(zhuǎn)換為交流電的重要任務(wù)。因此，確保逆變器的性能

2025-01-16 標(biāo)簽：逆變器測(cè)試系統(tǒng) ATE 281 0
為什么電源適配器制造商需要ATE測(cè)試系統(tǒng)？

電子產(chǎn)品日益普及，電源適配器作為其不可或缺的能源供應(yīng)部件，其質(zhì)量直接關(guān)系到電子產(chǎn)品的性能和安全性。因此，電源適配器的生產(chǎn)

2024-12-20 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng) 電源適配器 ATE 334 0
IC測(cè)試基本原理與ATE測(cè)試向量生成

IC測(cè)試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)

2024-10-12 標(biāo)簽：芯片 IC測(cè)試功能測(cè)試 1453 0

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ate技術(shù)

ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)是什么_ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)介紹

本文首先介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展線路，其次闡述了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的作用及原理、特點(diǎn)、優(yōu)勢(shì)，最后介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的功能、功能平臺(tái)及使用領(lǐng)域。

2018-05-23 標(biāo)簽：ate 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng) 3.2萬(wàn) 0

深度解讀基于ATE的IC測(cè)試技術(shù)

在IC的測(cè)試中，電壓的測(cè)試是所有測(cè)試參數(shù)中最為常見(jiàn)的一種參數(shù)，尤其是模擬芯片的測(cè)試，電壓測(cè)試更顯常見(jiàn)及重要，如：LDO、LED驅(qū)動(dòng)、音頻功放、運(yùn)放、馬達(dá)...

2017-10-27 標(biāo)簽：繼電器 ate ic測(cè)試技術(shù) 1.9萬(wàn) 0

對(duì)于ATE測(cè)試儀器儀表，典型測(cè)試設(shè)備系統(tǒng)設(shè)計(jì)

由于待測(cè)器件（DUT）的復(fù)雜性提高，通道/引腳數(shù)量和功能增加，因而測(cè)試類型和所需測(cè)試數(shù)量也隨之增加。并且每個(gè)器件評(píng)估需要進(jìn)行數(shù)百項(xiàng)測(cè)試，特別是在自動(dòng)測(cè)試...

2018-07-16 標(biāo)簽：測(cè)試測(cè)量 adi MEMS 1.6萬(wàn) 0

如何獲取除了數(shù)據(jù)手冊(cè)以外的ADC芯片數(shù)據(jù)

設(shè)計(jì)中選擇高分辨率ADC時(shí)，經(jīng)常需要了解一些數(shù)據(jù)手冊(cè)中通?？赡懿粫?huì)公布的特性數(shù)據(jù)，例如，全部代碼范圍內(nèi)的轉(zhuǎn)換器噪聲性能。在數(shù)據(jù)手冊(cè)中，您不一定能找到這一...

2018-11-25 標(biāo)簽：MSPS ADC ATE 6291 0

基于Microchip的53100A相位噪聲分析儀

Microchip的53100A相位噪聲分析儀是一種非常高質(zhì)量和高性能的工具（圖1），可以測(cè)量射頻源的幅度，相位和頻率穩(wěn)定性。它的測(cè)量范圍很寬，介于1 ...

2021-05-07 標(biāo)簽：dsp 振蕩器 cpu 6109 0

聊聊IC測(cè)試機(jī)（1）ATE/ATS內(nèi)部結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介

ATE(Auto Test Equipment) 在測(cè)試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)監(jiān)測(cè)芯片的輸出管腳，看其輸出信號(hào)是否是...

2023-11-01 標(biāo)簽：控制器適配器 DSP芯片 5132 0

半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)的相關(guān)術(shù)語(yǔ)

ATE = Automatic Test Equipment. 是自動(dòng)化測(cè)試設(shè)的縮寫，于半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)意指集成電路(IC)自動(dòng)測(cè)試機(jī)，用于檢測(cè)集成電路功能...

2022-11-01 標(biāo)簽：半導(dǎo)體 ATE 測(cè)試設(shè)備 4803 0

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中選擇器件電源(DPS)IC的指南

器件電源(DPS) IC具有靈活的電壓驅(qū)動(dòng)和電流驅(qū)動(dòng)容量，能夠?yàn)樽詣?dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)提供動(dòng)態(tài)測(cè)試能力。當(dāng)負(fù)載電流介于兩個(gè)設(shè)定限流值之間時(shí)，DPS IC...

2022-09-07 標(biāo)簽：散熱器 DPS ATE 4341 0

測(cè)試向量是什么意思

測(cè)試向量及其生成測(cè)試向量（Test Vector）的一個(gè)基本定義是：測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。這一...

2023-10-30 標(biāo)簽：測(cè)試 IC 測(cè)量 3885 0

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中的示波器需求

在測(cè)試電子器件時(shí)，很難不提到示波器所具有的通用性。為了對(duì)電子電路進(jìn)行驗(yàn)證，工程師需要能夠查看和測(cè)量其設(shè)計(jì)中的信號(hào)。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）通常不提供大量可...

2017-03-27 標(biāo)簽：示波器 pxie ate 3039 0

ate帖子

承接測(cè)試程序在ATE設(shè)備上開發(fā)驗(yàn)證

標(biāo)簽：ATE 35307 1

TestStand和LabVIEW軟件架構(gòu)

標(biāo)簽：LabVIEW ATE 10824 5

基于LABCIEW的一個(gè)ATE框架

標(biāo)簽：ATE 8792 9

關(guān)于芯片電性失效分析步驟

標(biāo)簽：ATE 3662 0

基于NI TestStand和LabVIEW的模塊化測(cè)試軟件架構(gòu)

標(biāo)簽：LabVIEW ATE 3440 0

新一代ATE系統(tǒng)中新型八針電子驅(qū)動(dòng)器分析

標(biāo)簽：驅(qū)動(dòng)器 eda ATE 3045 2

SIM800C的ATE打開和關(guān)閉回顯指令接收到的響應(yīng)信息有什么不同？

標(biāo)簽：ATE sim800c 2914 3

如何使用ATE高效測(cè)量射頻到基帶噪聲指數(shù)？

標(biāo)簽：射頻 LNA ATE 2623 2

如何獲取數(shù)據(jù)手冊(cè)以外的ADC數(shù)據(jù)？

標(biāo)簽：adc ATE ADC 2459 2

IC測(cè)試基本原理是什么？

標(biāo)簽：IC測(cè)試 ATE 輸入信號(hào) 2411 1

ate資料下載

Chroma8000自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的介紹和ATE調(diào)試操作流程詳細(xì)概述立即下載

類別：單片機(jī) 2018-07-30 標(biāo)簽：調(diào)試 ATE Chroma

基于ATE的集成電路測(cè)試原理和方法綜述立即下載

類別：測(cè)試測(cè)量 2021-06-17 標(biāo)簽：集成電路測(cè)試 ATE

ATS_自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)_及ATE技術(shù)_李行善立即下載

類別：測(cè)試測(cè)量 2013-04-25 標(biāo)簽：自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATS ATE

SDA-3000砷化鎵分布放大器的詳細(xì)數(shù)據(jù)手冊(cè)免費(fèi)下載立即下載

類別：IC中文資料 2018-08-17 標(biāo)簽：放大器砷化鎵 ATE

SDA-2000砷化鎵分布式驅(qū)動(dòng)放大器芯片的詳細(xì)數(shù)據(jù)手冊(cè)免費(fèi)下載立即下載

類別：IC中文資料 2018-08-17 標(biāo)簽：放大器砷化鎵 ATE

外軍ATE/ATS技術(shù)的發(fā)展趨勢(shì)立即下載

類別：測(cè)試測(cè)量論文 2009-07-15 標(biāo)簽：技術(shù)ATS ATE

基于PXI的傳統(tǒng)視頻顯示器測(cè)試解決方案詳細(xì)資料免費(fèi)下載立即下載

類別：嵌入式開發(fā) 2018-07-19 標(biāo)簽：顯示器 PXI ATE

針對(duì)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的配電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)立即下載

類別：課件下載 2016-01-07 標(biāo)簽：ATE 配電網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)

PXI系統(tǒng)在軍工ATE中的應(yīng)用立即下載

類別：電子教材 2011-05-16 標(biāo)簽：PXI ATE

基于1641的面向信息模型ATE應(yīng)用解決方案立即下載

類別：測(cè)試測(cè)量 2012-10-24 標(biāo)簽：自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)ATE

ate資訊

國(guó)產(chǎn)ATE設(shè)備現(xiàn)狀和發(fā)展趨勢(shì)

采訪：幻實(shí) 撰稿、排版：孫智超微信公眾號(hào)：芯片揭秘(ID:ICxpjm) 芯片自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備能夠通過(guò)計(jì)算機(jī)編程取代人工勞動(dòng)，自動(dòng)化的完成測(cè)試序列，極大...

2020-10-25 標(biāo)簽：芯片半導(dǎo)體自動(dòng)化 1.3萬(wàn) 0

3nm時(shí)代即將到來(lái)，ATE測(cè)試機(jī)有了這些明顯變化

ATE（Automatic Test Equipment）測(cè)試機(jī)在半導(dǎo)體領(lǐng)域是指檢驗(yàn)IC（集成電路）功能完整性的設(shè)備，隨著工藝制程逐漸精進(jìn)，單位芯片面積...

2022-01-21 標(biāo)簽：ATE 測(cè)試設(shè)備 3nm 6195 0

季豐ATE實(shí)驗(yàn)室引進(jìn)高端測(cè)試機(jī)93k STH測(cè)試機(jī)

近日，季豐電子斥巨資新增加了一臺(tái)93K STH測(cè)試機(jī)（93K-1 93K-3）以滿足客戶對(duì)高速數(shù)字、mix-signal、RF、高速接口、CPU、嵌入式...

2023-08-09 標(biāo)簽：測(cè)試 RF 高速接口 5328 0

關(guān)于ATE Load Board的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)及注意事項(xiàng)

在設(shè)計(jì)ATE Load Board的時(shí)候我們經(jīng)常會(huì)遇到大電流的電源設(shè)計(jì)，這些大電流能夠達(dá)到數(shù)百安培級(jí)別，這給我們的電源完整性（PI）設(shè)計(jì)帶來(lái)了極大的挑戰(zhàn)...

2022-06-06 標(biāo)簽：電源設(shè)計(jì)大電流 ATE 4266 0

如何安裝和激活軟件ATEasy

在介紹完ATEasy的基本內(nèi)容之后，本節(jié)我們來(lái)介紹一下如何安裝以及激活軟件。 1、軟件對(duì)安裝環(huán)境的要求： ATEasy是一款基于Windows系統(tǒng)下的，...

2020-09-26 標(biāo)簽：激活 ATE 4050 0

ate系統(tǒng)是什么，ate自動(dòng)電源測(cè)試系統(tǒng)的介紹

源儀電子ATE測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)適配器/手機(jī)充電器等小功率低價(jià)值電源產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試而設(shè)計(jì)的經(jīng)濟(jì)型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，主要由電子負(fù)載，功率表和一臺(tái)變頻電源組成，實(shí)現(xiàn)...

2022-05-13 標(biāo)簽：測(cè)試系統(tǒng)電源測(cè)試 ATE 3975 0

什么是ATE測(cè)試設(shè)備？都包含哪些？

ATE(Automatic Test Equipment)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是用于檢測(cè)電子產(chǎn)品、電氣設(shè)備的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，是電測(cè)行業(yè)首選的一種測(cè)試方式，被廣泛...

2023-11-16 標(biāo)簽：ATE 測(cè)試設(shè)備 3913 0

季豐電子ATE與BTE平臺(tái)的結(jié)合

2020年季豐電子集成電路運(yùn)營(yíng)工程技術(shù)研討會(huì)（GF Seminar 2020）已于2020年12月17日?qǐng)A滿落幕，應(yīng)廣大客戶要求，現(xiàn)將研討會(huì)PPT按系列...

2021-01-04 標(biāo)簽：芯片測(cè)試 ATE 3732 0

國(guó)產(chǎn)200kSPS 8通道±10V同步采樣ADC CM2248，92dB SNR助力自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）

CM2248是士模微電子推出的一款16位，8通道同步采樣ADC。采用單5V電源供電，可以處理±10V或±5V的真雙極性輸入信號(hào)。所有通道均能以200kS...

2023-01-03 標(biāo)簽：adc ATE 汽車 3633 0

數(shù)字芯片測(cè)試設(shè)備的技術(shù)突破點(diǎn)在哪？

本土測(cè)試設(shè)備正處于高速增長(zhǎng)期。根據(jù)SEMI的數(shù)據(jù)，2020年測(cè)試設(shè)備的全球市場(chǎng)空間約48億美元，行業(yè)復(fù)合增速6%左右；中國(guó)市場(chǎng)規(guī)模約60億元人民幣，行業(yè)...

2021-05-08 標(biāo)簽：芯片 ATE 3620 0

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