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標簽 > DFT算法
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基于ICL的可擴展性和靈活性可以抽取設計中的IEEE 1687結構
隨著SoC芯片逐漸復雜化,其DFT(Design for Test)架構也由單層向多層網(wǎng)絡發(fā)展。IEEE 1687是DFT多層網(wǎng)絡結構的通用標準
隨著半導體技術的飛速發(fā)展,系統(tǒng)級芯片(SoC)設計已成為現(xiàn)代電子設備中的主流。在SoC設計中,可測試性設計(DFT)已成為不可或缺的環(huán)節(jié)。DFT旨在提高...
為什么會造成頻譜泄露?如何理解FFT中的頻譜泄露效應?如何采用時間窗抑制頻譜泄露效應? 頻譜泄露是指在進行傅里葉變換時,信號的譜被非目標頻率“污染”的一...
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