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標(biāo)簽 > ATECLOUD
ATECLOUD 智能云測(cè)試平臺(tái)可用于儀器程控、電子元器件自動(dòng)測(cè)試、多通道數(shù)據(jù)采集測(cè)試、電源模塊自動(dòng)測(cè)試、LCR自動(dòng)測(cè)試等,也可根據(jù)客戶需要進(jìn)行產(chǎn)品的定制開發(fā)。
ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)電源模塊測(cè)試流程如下:連接設(shè)備——?jiǎng)?chuàng)建測(cè)試項(xiàng)目——編輯測(cè)試方案——啟動(dòng)測(cè)試——查看歷史數(shù)據(jù)并分析。
ATECLOUD 智能云測(cè)試平臺(tái)可用于儀器程控、電子元器件自動(dòng)測(cè)試、多通道數(shù)據(jù)采集測(cè)試、電源模塊自動(dòng)測(cè)試、LCR自動(dòng)測(cè)試等,也可根據(jù)客戶需要進(jìn)行產(chǎn)品的定制開發(fā)。
* 產(chǎn)品特點(diǎn):零代碼編程;快速搭建測(cè)試方案;多臺(tái)設(shè)備多線程測(cè)試;遠(yuǎn)程監(jiān)控;數(shù)據(jù)分析。
* 軟件架構(gòu):自主研發(fā),多層級(jí)數(shù)據(jù)存儲(chǔ);大數(shù)據(jù)系統(tǒng);試驗(yàn)運(yùn)行全面控制;獨(dú)立賬號(hào)安全可靠。
* 硬件結(jié)構(gòu):支持互聯(lián)網(wǎng)或局域網(wǎng)部署,GPIB/USB/LAN/RS232/485多種接口庫(kù)。
* 工作原理:ATEBOX與各類設(shè)備快速對(duì)接;ATE-GATEWAY提高數(shù)據(jù)采集的吞吐量,滿足時(shí)效性要求。
通過此次演示,客戶表示測(cè)試功能已能完全滿足所需測(cè)試需求,并建立了良好的合作關(guān),目前ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)已經(jīng)成功應(yīng)用于眾多電源自動(dòng)化測(cè)試中。
基于ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)的電源模塊測(cè)試方案
提升電源模塊測(cè)試效率,減少測(cè)試人員成本,降低測(cè)試專業(yè)知識(shí)要求,增加數(shù)據(jù)精準(zhǔn)度,為企業(yè)提供專業(yè)決策的數(shù)據(jù)支持,從而降本增效。
2023-01-13 標(biāo)簽:示波器測(cè)試平臺(tái)電源模塊 1787 0
可替代LabVIEW的軟件-ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)
說實(shí)話,只要說要做一款軟件來做上位機(jī),對(duì)于我們大部分工程師來說都會(huì)覺得為難。當(dāng)然大家會(huì)說我們有wincc,組態(tài)王等,如果客戶要求用相機(jī),用控制卡呢?然后...
LabVIEW和ATECLOUD區(qū)別介紹 一篇文章帶你了解
LabVIEW是用圖標(biāo)來進(jìn)行編程的一個(gè)開發(fā)環(huán)境,通過在表示不同功能節(jié)點(diǎn)的圖標(biāo)之間連線來完成預(yù)想的程序,LabVIEW所采用的是圖形化開發(fā)語(yǔ)言,通過這種語(yǔ)...
2022-07-12 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試labviewATECLOUD 2157 0
ATECLOUD-POWER電源模塊自動(dòng)化測(cè)試立即下載
類別:電源技術(shù) 2023-06-27 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試電源模塊ATECLOUD
示波器萬用表源表電源信號(hào)發(fā)生器頻譜儀程控軟件,ATECLOUD智能測(cè)試平臺(tái)立即下載
類別:電源技術(shù) 2022-01-12 標(biāo)簽:自動(dòng)化測(cè)試程控電源ATECLOUD
ATECLOUD實(shí)現(xiàn)電子測(cè)量?jī)x器儀表數(shù)據(jù)的自動(dòng)化采集
在電源模塊、電源管理芯片、射頻器件測(cè)試中,常用到示波器、數(shù)字萬用表、網(wǎng)絡(luò)分析儀、電子負(fù)載、功率計(jì)、交/直流電源等儀器儀表。ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)...
2024-08-21 標(biāo)簽:測(cè)試平臺(tái)智能云ATECLOUD 448 0
ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)推動(dòng)自動(dòng)化測(cè)試發(fā)展
目前,ATECLOUD專注于為電源模塊、電源管理芯片和射頻組件測(cè)試提供自動(dòng)化測(cè)試方案。同時(shí),也支持定制開發(fā),如電機(jī)驅(qū)動(dòng)測(cè)試、元器件測(cè)試等,滿足客戶多樣化...
2024-07-26 標(biāo)簽:測(cè)試平臺(tái)ATECLOUD 482 0
ate測(cè)試設(shè)備:ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)的應(yīng)用介紹
隨著手動(dòng)測(cè)試以及傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)逐漸無法滿足目前市場(chǎng)上的測(cè)試要求,全新的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)逐漸興起,ATECLOUD作為一款智能自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái),為全面檢測(cè)...
ATECLOUD自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)區(qū)別于傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
納米軟件通過多年業(yè)務(wù)積累,具有豐富的軟件開發(fā)和系統(tǒng)集成經(jīng)驗(yàn)。ATECLOUD自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)也一直在迭代升級(jí),擴(kuò)展功能,致力于讓測(cè)試變得更簡(jiǎn)單、更便捷。
2024-05-08 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化ATECLOUD 527 0
ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)功能介紹:儀器兼容
ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)以用戶測(cè)試需求為核心,致力于解決測(cè)試難題。其突出的特點(diǎn)之一就是強(qiáng)大的儀器兼容性。技術(shù)團(tuán)隊(duì)會(huì)對(duì)收集到的儀器指令進(jìn)行驗(yàn)證,無誤后再在...
2024-04-19 標(biāo)簽:萬用表測(cè)試平臺(tái)ATECLOUD 563 0
國(guó)產(chǎn)化自動(dòng)測(cè)試軟件ATECLOUD提供于研發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試方案
國(guó)產(chǎn)軟件的發(fā)展對(duì)于減少對(duì)外依賴、維護(hù)國(guó)家信息安全、促進(jìn)經(jīng)濟(jì)社會(huì)發(fā)展具有重要作用。ATECLOUD的研發(fā)和應(yīng)用,能夠在確保測(cè)試準(zhǔn)確性和高效性的同時(shí),保障技...
2024-03-13 標(biāo)簽:測(cè)試自動(dòng)化測(cè)試ATECLOUD 835 0
ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)如何助力檢測(cè)充電樁?充電樁電源測(cè)試內(nèi)容有哪些?
充電樁是為電動(dòng)汽車提供充電的裝置,它可以將交流電或者直流電轉(zhuǎn)換為汽車所需的電壓和電流。充電樁測(cè)試是非常關(guān)鍵的環(huán)節(jié),確保充電樁的性能、穩(wěn)定性和可靠性,從而...
電源模塊測(cè)試怎么用ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試?
ATECLOUD-POWER是檢測(cè)電源性能的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng),針對(duì)電源模塊各類測(cè)試項(xiàng)目提供定制方案,指導(dǎo)電源模塊的設(shè)計(jì)和生產(chǎn),保證電源的質(zhì)量、穩(wěn)定性和可靠...
2023-11-15 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源模塊 843 0
芯片靜態(tài)功耗是什么?如何產(chǎn)生?ATECLOUD-IC芯片測(cè)試系統(tǒng)如何測(cè)試?
在芯片的眾多測(cè)試項(xiàng)目中芯片的功耗測(cè)試可謂重中之重,因?yàn)樾酒墓牟粌H關(guān)系著芯片的整體工作性能也對(duì)芯片的效率有著非常重大的影響。ATECLOUD-IC芯片...
芯片測(cè)試工具之ATECLOUD-IC系統(tǒng)如何測(cè)試電源芯片的穩(wěn)壓反饋?
電源芯片穩(wěn)壓反饋的測(cè)試需要一臺(tái)多通道直流電源和一臺(tái)數(shù)字萬用表,測(cè)試之前需要使用直流電源給芯片的VIN和EN端輸入電壓和電流,保證芯片正常啟動(dòng),之后只需要...
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