透射電鏡

什么是透射電鏡（TEM）？

透射電子顯微鏡（TEM）是一種利用電子束穿透超薄樣品以獲取高分辨率圖像的技術(shù)，它在材料科學(xué)、生物學(xué)和物理學(xué)等多個(gè)學(xué)科領(lǐng)域內(nèi)扮演著至關(guān)重要的角色。TEM能...

2024-11-08 標(biāo)簽：顯微鏡TEM透射電鏡 387 0

詳解半導(dǎo)體行業(yè)的TEM技術(shù)

透射電子顯微鏡（TEM）具有卓越的空間分辨率和高靈敏度的元素分析能力，可用于先進(jìn)半導(dǎo)體技術(shù)中亞納米尺寸器件特征的計(jì)量和材料表征，比如評(píng)估界面細(xì)節(jié)、器件結(jié)...

2023-12-18 標(biāo)簽：半導(dǎo)體TEM電子顯微鏡 4674 0

如何分析長(zhǎng)周期有序堆垛結(jié)構(gòu)(LPSO)

18R-LPSO 相主要存在于鑄態(tài)鎂稀土合金中，普遍認(rèn)可其化學(xué)式為 Mg10YZn 或Mg29Y4Zn3 相，原子堆垛順序?yàn)?ACACBABABACBC...

2023-12-04 標(biāo)簽：熱處理透射電鏡 1584 0

如何在透射電鏡下判斷位錯(cuò)類型

最近收到老師同學(xué)們的許多問題，其中大家最想要了解的問題是“如何在透射電鏡下判斷位錯(cuò)類型(螺位錯(cuò)、刃位錯(cuò)、混合位錯(cuò))”。在此，為了能快速理解并分析，我整理...

2023-11-13 標(biāo)簽：晶體電子束TEM 1749 0

鈉離子電池如何實(shí)現(xiàn)80000次超長(zhǎng)循環(huán)？

鈉離子電池（NIB）資源豐富、成本低廉，可以作為鋰離子電池的有益補(bǔ)充。然而，Na+（1.02 ?）的半徑比 Li+（0.76 ?）大，容易導(dǎo)致電極材料在...

2023-11-02 標(biāo)簽：電容晶體鈉離子電池 870 0

機(jī)器視覺成像：明場(chǎng)像與暗場(chǎng)像都有什么區(qū)別呢

透射電鏡圖像分為試樣的顯微像和衍射花樣，這兩種像分別為不同電子成像，前者是透射電子成像，后者為散射電子成像。

2023-10-31 標(biāo)簽：光源照相機(jī)機(jī)器視覺 3487 0

透射電鏡TEM測(cè)試原理及過程

透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡(jiǎn)稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子...

2023-08-29 標(biāo)簽：測(cè)試TEM透射電鏡 2653 0

晶體缺陷的幾何特征有哪些 晶體的位錯(cuò)是什么缺陷

位錯(cuò)是晶體原子排列的一種特殊組態(tài)。位錯(cuò)的概念最早是在研究晶體滑移過程時(shí)提出來的。當(dāng)金屬晶體受力發(fā)生塑性變形時(shí)，一般是通過滑移過程進(jìn)行的，即晶體中相鄰兩部...

2023-08-25 標(biāo)簽：晶體透射電鏡 9346 0

透射電鏡(TEM)樣品制備方法

透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具,其樣品制備是關(guān)鍵步驟，本節(jié)旨在解讀TEM樣品的制備方法。 ? 透射電子顯微鏡(TEM)是研究材料微...

2024-11-26 標(biāo)簽：TEM透射電鏡 427 0

進(jìn)口SEM掃描電子顯微鏡品牌推薦

說到SEM掃描電子顯微鏡的品牌推薦，蔡司代理三本精密儀器工程師可得好好跟你聊聊!這可是個(gè)技術(shù)活兒啊，選個(gè)好品牌，對(duì)于科研工作者來說，簡(jiǎn)直就像找到了寶藏一...

2024-08-12 標(biāo)簽：顯微鏡電鏡掃描電鏡 706 0

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的高分辨率高效檢測(cè)

蔡司代理三本精密儀器小編介紹掃描電子顯微鏡作為最常見的電子顯微儀器之一，不僅在微觀形貌表征方面大放異彩，也在各種元素表征、晶相分析、原位測(cè)試等領(lǐng)域有著諸...

2024-07-15 標(biāo)簽：檢測(cè)電鏡掃描電鏡 496 0

德國(guó)進(jìn)口SEM掃描電子顯微鏡的應(yīng)用

有人曾經(jīng)說過："如果我想得到準(zhǔn)確的尺寸，我就把被測(cè)樣品交給SEM操作員。蔡司代理三本精密儀器小編介紹，SEM是一種儀器，人們常常想當(dāng)然地認(rèn)為它...

2024-03-20 標(biāo)簽：電子顯微鏡電鏡掃描電鏡 290 0

透射電鏡TEM測(cè)試解剖芯片結(jié)構(gòu)：深入微觀世界的技術(shù)探索

在芯片制造領(lǐng)域，透射電鏡TEM技術(shù)發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。通過TEM測(cè)試，科學(xué)家可以觀察芯片中晶體結(jié)構(gòu)的變化，分析晶體缺陷，研究材料界面結(jié)構(gòu)，從而深入了解...

2024-02-27 標(biāo)簽：芯片測(cè)試芯片結(jié)構(gòu) 1224 0

SEM掃描電子顯微鏡涂層磨損分析

在鉆孔過程中鉆頭會(huì)發(fā)生磨損，評(píng)估和量化磨損的狀況至關(guān)重要，因?yàn)殂@頭的狀態(tài)會(huì)直接影響加工孔的質(zhì)量。如何簡(jiǎn)單、快速的獲取鉆頭的磨損狀態(tài)？如何精準(zhǔn)的定量分析鉆...

2024-01-08 標(biāo)簽：電子顯微鏡電鏡掃描電鏡 552 0

蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡GeminiSEM 500介紹

蔡司代理三本精密儀器小編獲悉，近期蔡司對(duì)中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)龔明教授進(jìn)行了采訪，談了對(duì)于蔡司場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡在工作研究中的使用感受：中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)工程與材料...

2023-12-20 標(biāo)簽：電鏡圖像電鏡掃描電鏡 868 0

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma 300電子顯微鏡

蔡司熱場(chǎng)掃描電鏡Sigma300電子顯微鏡能夠?qū)Ω鞣N材質(zhì)的導(dǎo)電和不導(dǎo)電樣品、不同尺寸和形狀的樣品表面微觀結(jié)構(gòu)進(jìn)行高分辨觀察。配置能譜和背散射電子衍射儀附...

2023-07-26 標(biāo)簽：顯微鏡電鏡透射電鏡 1214 0

公開課 | 透射電鏡原理介紹及其在半導(dǎo)體失效分析中的應(yīng)用

此次公開課特意邀請(qǐng)英國(guó)曼徹斯特大學(xué)材料學(xué)博士、廣電計(jì)量半導(dǎo)體技術(shù)副經(jīng)理劉辰作為講師。屆時(shí)，報(bào)名用戶不僅能免費(fèi)參與課程，聽課期間還有超強(qiáng)的技術(shù)專家團(tuán)隊(duì)為大...

2023-03-20 標(biāo)簽：芯片半導(dǎo)體TEM 996 0