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標(biāo)簽 > 邊界掃描
邊界掃描是一項(xiàng)測(cè)試技術(shù),是在傳統(tǒng)的在線測(cè)試不在適應(yīng)大規(guī)模,高集成電路測(cè)試的情況下而提出的,就是在IC設(shè)計(jì)的過程中在IC的內(nèi)部邏輯和每個(gè)器件引腳間放置移位寄存器。
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邊界掃描-Boundary Scan技術(shù)及其在芯片測(cè)試中的應(yīng)用
首先我們都知道***BSCAN***是一種用于測(cè)試和驗(yàn)證集成電路的技術(shù)。在集成電路中,有許多引腳***(pins)*** 用于與其他器件進(jìn)行通信和連接。
基于STM32+Jlink的邊界掃描實(shí)際應(yīng)用
前面幾篇文章,介紹了關(guān)于JTAG邊界掃描的一些基礎(chǔ)知識(shí)和常用的調(diào)試軟件。
2023-09-12 標(biāo)簽:mcuSTM32意法半導(dǎo)體 1349 0
如何在邊界掃描機(jī)制下增加板級(jí)互連的故障診斷覆蓋率
邊界掃描技術(shù)的基本思想是在芯片管腳和內(nèi)部邏輯之間增加了串聯(lián)在一起的移位寄存器組,在邊界掃描測(cè)試模式下,寄存器單元在相應(yīng)的指令下控制引腳狀態(tài),從而對(duì)外部互...
2019-04-25 標(biāo)簽:電路設(shè)計(jì)邊界掃描數(shù)字電路板 1598 0
如何利用片上機(jī)制拓展JTAG標(biāo)準(zhǔn)使其包含互連的信號(hào)完整性測(cè)試
互連中的信號(hào)完整性損耗對(duì)于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來說是非常關(guān)鍵的問題,因此經(jīng)常在設(shè)計(jì)和測(cè)試中采用一些特殊的方法來解決這樣的問題。我們認(rèn)為,完整性損耗...
2019-04-29 標(biāo)簽:jtag信號(hào)完整性互連 1305 0
對(duì)于需要進(jìn)行IC元件測(cè)試的設(shè)計(jì)人員來說,只要根據(jù)TA P控制器的狀態(tài)機(jī),設(shè)計(jì)特定的控制邏輯,就可以進(jìn)行IC元件的邊界掃描測(cè)試或利用JTA G接口使IC元...
2018-03-03 標(biāo)簽:邊界掃描 7071 0
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