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標(biāo)簽 > 邊界掃描
邊界掃描是一項(xiàng)測(cè)試技術(shù),是在傳統(tǒng)的在線測(cè)試不在適應(yīng)大規(guī)模,高集成電路測(cè)試的情況下而提出的,就是在IC設(shè)計(jì)的過程中在IC的內(nèi)部邏輯和每個(gè)器件引腳間放置移位寄存器。
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邊界掃描-Boundary Scan技術(shù)及其在芯片測(cè)試中的應(yīng)用
首先我們都知道***BSCAN***是一種用于測(cè)試和驗(yàn)證集成電路的技術(shù)。在集成電路中,有許多引腳***(pins)*** 用于與其他器件進(jìn)行通信和連接。
基于STM32+Jlink的邊界掃描實(shí)際應(yīng)用
前面幾篇文章,介紹了關(guān)于JTAG邊界掃描的一些基礎(chǔ)知識(shí)和常用的調(diào)試軟件。
2023-09-12 標(biāo)簽:mcuSTM32意法半導(dǎo)體 1331 0
如何在邊界掃描機(jī)制下增加板級(jí)互連的故障診斷覆蓋率
邊界掃描技術(shù)的基本思想是在芯片管腳和內(nèi)部邏輯之間增加了串聯(lián)在一起的移位寄存器組,在邊界掃描測(cè)試模式下,寄存器單元在相應(yīng)的指令下控制引腳狀態(tài),從而對(duì)外部互...
2019-04-25 標(biāo)簽:電路設(shè)計(jì)邊界掃描數(shù)字電路板 1584 0
如何利用片上機(jī)制拓展JTAG標(biāo)準(zhǔn)使其包含互連的信號(hào)完整性測(cè)試
互連中的信號(hào)完整性損耗對(duì)于數(shù)千兆赫茲高度復(fù)雜的SoC來說是非常關(guān)鍵的問題,因此經(jīng)常在設(shè)計(jì)和測(cè)試中采用一些特殊的方法來解決這樣的問題。我們認(rèn)為,完整性損耗...
2019-04-29 標(biāo)簽:jtag信號(hào)完整性互連 1281 0
對(duì)于需要進(jìn)行IC元件測(cè)試的設(shè)計(jì)人員來說,只要根據(jù)TA P控制器的狀態(tài)機(jī),設(shè)計(jì)特定的控制邏輯,就可以進(jìn)行IC元件的邊界掃描測(cè)試或利用JTA G接口使IC元...
2018-03-03 標(biāo)簽:邊界掃描 7048 0
TMS320VC5505 ZCH 邊界掃描模型的詳細(xì)資料概述立即下載
類別:DSP 2018-05-04 標(biāo)簽:邊界掃描TMS320VC5505 1121 0
TMS320C5504 ZCH BSDL Model DSP邊界掃描模型設(shè)計(jì)詳細(xì)概述立即下載
類別:DSP 2018-05-04 標(biāo)簽:DSP邊界掃描TMS320C5000 991 0
TMS320VC5510 GGW BSDL Model邊界掃描DSP模型的詳細(xì)資料概述立即下載
類別:DSP 2018-05-03 標(biāo)簽:Model邊界掃描TMS320VC5510 1632 0
會(huì)進(jìn)行邊界掃描測(cè)試,然后進(jìn)行全面的功能測(cè)試,以確保正確的實(shí)時(shí)數(shù)字和模擬性能。
2019-08-14 標(biāo)簽:邊界掃描華強(qiáng)pcb線路板打樣 6595 0
邊界掃描測(cè)試有兩大優(yōu)點(diǎn) :一個(gè)是方便芯片的故障定位,迅速準(zhǔn)確地測(cè)試兩個(gè)芯片管腳的連接是否可靠,提高測(cè)試檢驗(yàn)效率;另一個(gè)是,具有 JTAG接口的芯片,內(nèi)置...
2018-03-03 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)邊界掃描 2.6萬 0
本文針對(duì)當(dāng)前復(fù)雜數(shù)字電路板 快速測(cè)試難的現(xiàn)狀,設(shè)計(jì)了一套基于邊界掃描的電路板測(cè)試系統(tǒng),利用該系統(tǒng)可以對(duì)含有邊 界掃描接口的復(fù)雜數(shù)字電路板進(jìn)行快速診斷,幫...
2011-05-18 標(biāo)簽:電路板測(cè)試系統(tǒng)邊界掃描 1873 0
摘 要: 本文論述了邊界掃描技術(shù)的基本原理和邊界掃描在電路板測(cè)試及在FPGA、DSP器件中的應(yīng)用。介紹了為提高電路板的可測(cè)試性而采用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行...
2006-03-11 標(biāo)簽:測(cè)試技術(shù)邊界掃描 1784 0
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