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標(biāo)簽 > 測(cè)試系統(tǒng)
《測(cè)試系統(tǒng)》對(duì)機(jī)電液測(cè)試及應(yīng)用技術(shù)進(jìn)行了介紹。首先介紹了機(jī)電測(cè)試系統(tǒng)中常用傳感器應(yīng)用接口電路設(shè)計(jì)。介紹了測(cè)試數(shù)據(jù)在與微機(jī)系統(tǒng)傳輸過(guò)程中的模擬量輸入輸出通道結(jié)構(gòu)與常用芯片接口,并舉例說(shuō)明了多路巡回檢測(cè)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
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從串行設(shè)備測(cè)試改變?yōu)椴⑿性O(shè)備測(cè)試可以顯著地增加測(cè)試系統(tǒng)吞吐量。測(cè)試執(zhí)行活動(dòng)的大部分可能涉及使用DC電源設(shè)置條件和進(jìn)行測(cè)量。配置測(cè)試系統(tǒng),使其能夠使用多個(gè)...
2023-11-29 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)DC電源電源系統(tǒng) 457 0
如何通過(guò)HIL測(cè)試系統(tǒng)做ADAS驗(yàn)證
本文分享的是一個(gè)案例,借助NI開(kāi)放式、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)型、軟件互連的生態(tài)系統(tǒng)以及PXI功能,采埃孚能夠開(kāi)發(fā)可擴(kuò)展的ADAS HIL系統(tǒng),在滿(mǎn)足未來(lái)需求的同時(shí)與測(cè)...
2023-11-27 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)雷達(dá)HIL測(cè)試 769 0
隨著對(duì)于汽車(chē)功能性、安全性、舒適性等需求的日益增長(zhǎng),汽車(chē)上的ECU功能也變得越來(lái)越強(qiáng)大。部分ECU開(kāi)始采用多核處理器,需要處理多個(gè)通信系統(tǒng)并執(zhí)行復(fù)雜的控...
2023-11-15 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)ecu上位機(jī) 1790 0
淺談LabVIEW的線(xiàn)程編程的相關(guān)知識(shí)
在LabVIEW中只要程序框圖中的代碼可以并行運(yùn)行(功能模塊之間沒(méi)有連線(xiàn)關(guān)系,比如兩個(gè)獨(dú)立的While循環(huán)),那么LabIVEW在運(yùn)行這段代碼時(shí)就會(huì)自動(dòng)...
2023-11-10 標(biāo)簽:cpulabview操作系統(tǒng) 1346 0
簡(jiǎn)析電場(chǎng)輻射發(fā)射試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)噪聲計(jì)算
隨著越來(lái)越多高靈敏度接收設(shè)備的使用,為了避免電磁干擾,必須對(duì)平臺(tái)中鄰接設(shè)備的電磁發(fā)射進(jìn)行嚴(yán)格限制,這就導(dǎo)致在開(kāi)展電磁兼容試驗(yàn)時(shí)對(duì)測(cè)試系統(tǒng)噪聲要求越來(lái)越高...
2023-11-07 標(biāo)簽:電磁兼容emi測(cè)試系統(tǒng) 423 0
低成本單板級(jí)HIL測(cè)試系統(tǒng)解決方案VIO System說(shuō)明
嵌入式軟件的HIL測(cè)試需要復(fù)雜的測(cè)試系統(tǒng)及完整的ECU硬件,這導(dǎo)致通常只能在開(kāi)發(fā)流程的后期階段進(jìn)行測(cè)試。全新推出的低成本解決方案VIO System,使...
2023-11-02 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)ecuHIL測(cè)試 726 0
測(cè)試系統(tǒng)集成開(kāi)發(fā)環(huán)境ETest的架構(gòu)設(shè)計(jì)與工作原理
嵌入式系統(tǒng)軟件配置項(xiàng)和系統(tǒng)測(cè)試時(shí)需要構(gòu)建出半實(shí)物仿真測(cè)試環(huán)境(Hardawre in Loop Simution Test Platform,HIL),...
2023-10-31 標(biāo)簽:嵌入式接口測(cè)試系統(tǒng) 1741 0
芯片導(dǎo)通電阻是什么?如何用ATECLOUD-IC測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試?
導(dǎo)通電阻測(cè)試就是用來(lái)檢測(cè)導(dǎo)線(xiàn)或連線(xiàn)情況是否正常的一種方法,是指兩個(gè)導(dǎo)體間在一定電壓下通過(guò)的電流所引起的電壓降之比,通俗的說(shuō)就是導(dǎo)線(xiàn)通電后的電阻值。芯片引...
2023-09-28 標(biāo)簽:導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試 2241 0
在芯片眾多特殊的引腳中,EN引腳無(wú)疑是最為重要的一個(gè)。EN引腳又稱(chēng)使能引腳(Enable pins),不同的芯片對(duì)其稱(chēng)呼也有所不同,如EA、RUN等,它...
2023-09-27 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試電源芯片 1519 0
?國(guó)產(chǎn)三維CAD突圍,新迪數(shù)字巧奪“天工”
2022年12月,新迪數(shù)字宣布引進(jìn)西門(mén)子公司三維CAD軟件 Solid Edge的全部源代碼和知識(shí)產(chǎn)權(quán)及整套軟件測(cè)試系統(tǒng),并提出以“高鐵模式”推動(dòng)中國(guó)三...
2023-09-13 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)三維CAD 962 0
為了測(cè)量電路性能,需要將信號(hào)傳輸?shù)侥撤N傳輸線(xiàn)上,這要求至少兩個(gè)導(dǎo)體,即“信號(hào)導(dǎo)體”和“地導(dǎo)體”。因此,射頻探針可以分為三種基本類(lèi)型:GS、SG、GSG。
2023-09-05 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)RF傳輸線(xiàn) 5386 0
為了確保組裝后的PCB的高質(zhì)量和可靠性,PCB制造商和組裝商必須在制造和組裝過(guò)程中的不同階段對(duì)板進(jìn)行檢查,以消除表面缺陷。此外,及時(shí)而專(zhuān)業(yè)的檢查能夠使電...
2023-08-29 標(biāo)簽:pcb印制電路板測(cè)試系統(tǒng) 420 0
本方案主要測(cè)試內(nèi)容為《JTG 2182-2020 公路工程質(zhì)量檢驗(yàn)評(píng)定標(biāo)準(zhǔn) 第二冊(cè) 機(jī)電工程》標(biāo)準(zhǔn)中6.4 ETC門(mén)架系統(tǒng)中表6.4.2 ETC門(mén)架系統(tǒng)...
2022-07-22 標(biāo)簽:高速公路測(cè)試系統(tǒng)交通 1640 0
NTSPPA-XXXX100001000系列功率容限測(cè)試系統(tǒng)
NTSPPA-XXXX100001000系列功率容限測(cè)試儀,具有標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)源和支持監(jiān)控功率檢測(cè)和駐波變化量的雙通道功率計(jì),通過(guò)軟件集成功率容限測(cè)試平臺(tái),此...
2021-06-07 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)NTS 1171 0
NTDCPBC系列電磁屏蔽車(chē)測(cè)試系統(tǒng)
NTDCPBC系列電磁屏蔽車(chē)測(cè)試系統(tǒng)主要由高性能屏蔽控制艙、功放艙、天線(xiàn)艙、高品質(zhì)油機(jī)供配電系統(tǒng)、艙內(nèi)設(shè)備和附件等組成,本系統(tǒng)依據(jù)GJB 1389A、G...
2021-06-07 標(biāo)簽:電磁兼容測(cè)試系統(tǒng)電磁干擾 873 0
功能測(cè)試正日益更多地用于生產(chǎn)線(xiàn)后工序中,甚至也用于進(jìn)行工藝中段的測(cè)試,但是其體系和實(shí)施方法與以前的測(cè)試幾乎已完全不同。如今的測(cè)試系統(tǒng)在多數(shù)情況下速度更快...
2023-08-16 標(biāo)簽:工藝測(cè)試系統(tǒng)PCB設(shè)計(jì) 338 0
內(nèi)置測(cè)試功能是什么 一個(gè)內(nèi)置測(cè)試(BIT)的示例分析
內(nèi)置測(cè)試通常用于微處理器可以執(zhí)行診斷的復(fù)雜系統(tǒng)中。也可以進(jìn)行簡(jiǎn)單的測(cè)試,以提供有關(guān)特定組件的重要信息-電池電量低,傳感器不起作用,安全帶未系緊等。必須注...
通過(guò)遵守一定的規(guī)程(DFT-Design for Testability,可測(cè)試的設(shè)計(jì)),可以大大減少生產(chǎn)測(cè)試的準(zhǔn)備和實(shí)施費(fèi)用。這些規(guī)程已經(jīng)過(guò)多年發(fā)展,...
2023-08-03 標(biāo)簽:存儲(chǔ)器測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)試 456 0
Agilent 66319D雙路輸出移動(dòng)通信直流電源同時(shí)提供測(cè)量的主電源和充電器電路測(cè)試兩個(gè)輸出,可以使用同一臺(tái)設(shè)備測(cè)試手機(jī)和充電器。這種功能有助于節(jié)約...
2023-07-15 標(biāo)簽:電源移動(dòng)通信測(cè)試系統(tǒng) 2680 0
在測(cè)試系統(tǒng)中,通常使用RC濾波器。因?yàn)樵谶@個(gè)區(qū)域,信號(hào)頻率比較低。RC濾波器具有電路簡(jiǎn)單,抗干擾性強(qiáng),低頻性能更好,選用標(biāo)準(zhǔn)電阻電容元件等優(yōu)點(diǎn)。所以工程...
2023-07-03 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)RC濾波器 1.9萬(wàn) 0
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