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標(biāo)簽 > 測(cè)試
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
用于全面考察被試運(yùn)用語言的能力，考察能否把所掌握的語言知識(shí)要素綜合起來并加以運(yùn)用。
標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試和非標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試。
標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)驗(yàn)特指采用客觀性試題的、標(biāo)有信度、效度、難度、區(qū)分度等各種測(cè)量學(xué)指標(biāo)的、建立了常模的、在統(tǒng)一的環(huán)境和條件下施測(cè)的、由專業(yè)機(jī)構(gòu)或?qū)I(yè)人士開發(fā)或參與、指導(dǎo)開發(fā)的測(cè)試。主要包括四個(gè)環(huán)節(jié)：1、試題編制的標(biāo)準(zhǔn)化2、測(cè)驗(yàn)實(shí)施的標(biāo)準(zhǔn)化3、閱卷評(píng)分的標(biāo)準(zhǔn)化4、分?jǐn)?shù)轉(zhuǎn)化與解釋的標(biāo)準(zhǔn)化。
測(cè)試英文名Test、Measure;中文拼音cè shì；由中文“測(cè)”與中文“試”兩個(gè)字組成的詞語。是動(dòng)詞、名詞。測(cè)試行為，一般發(fā)生于為檢測(cè)特定的目標(biāo)是否符合標(biāo)準(zhǔn)而采用專用的工具或者方法進(jìn)行驗(yàn)證，并最終得出特定的結(jié)果。
用于全面考察被試運(yùn)用語言的能力，考察能否把所掌握的語言知識(shí)要素綜合起來并加以運(yùn)用。
標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試和非標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試。
標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)驗(yàn)特指采用客觀性試題的、標(biāo)有信度、效度、難度、區(qū)分度等各種測(cè)量學(xué)指標(biāo)的、建立了常模的、在統(tǒng)一的環(huán)境和條件下施測(cè)的、由專業(yè)機(jī)構(gòu)或?qū)I(yè)人士開發(fā)或參與、指導(dǎo)開發(fā)的測(cè)試。主要包括四個(gè)環(huán)節(jié)：1、試題編制的標(biāo)準(zhǔn)化2、測(cè)驗(yàn)實(shí)施的標(biāo)準(zhǔn)化3、閱卷評(píng)分的標(biāo)準(zhǔn)化4、分?jǐn)?shù)轉(zhuǎn)化與解釋的標(biāo)準(zhǔn)化。
康謀分享 | 如何應(yīng)對(duì)ADAS/AD海量數(shù)據(jù)處理挑戰(zhàn)？
如何有效處理ADAS/AD海量數(shù)據(jù)并從中獲得見解？IVEX數(shù)據(jù)處理流程可自動(dòng)從原始傳感器數(shù)據(jù)等輸入中識(shí)別出值得關(guān)注的事件和場(chǎng)景，推動(dòng)數(shù)據(jù)高效低成本處理，...
2024-12-25 標(biāo)簽：測(cè)試汽車電子數(shù)據(jù)處理 596 0
STM32WB55RG開發(fā)(1)----開發(fā)板測(cè)試
STM32WB55 & SENSOR是一款基于STM32WB55系列微控制器的評(píng)估套件。該套件采用先進(jìn)的無線通信技術(shù)，支持Bluetooth? ...
半導(dǎo)體制造fab廠房建筑防震振動(dòng)測(cè)試介紹
半導(dǎo)體制造FAB廠房建筑防震振動(dòng)測(cè)試?
2024-12-26 標(biāo)簽：測(cè)試半導(dǎo)體半導(dǎo)體制造 83 0
跌落測(cè)試指南：設(shè)定條件與遵循標(biāo)準(zhǔn)
跌落測(cè)試概述跌落測(cè)試是模擬產(chǎn)品在意外跌落事件中的表現(xiàn)，以此來評(píng)估產(chǎn)品在受到?jīng)_擊時(shí)的性能和穩(wěn)定性。這種測(cè)試對(duì)于指導(dǎo)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過程和質(zhì)量控制具有決定性...
在制造業(yè)中，產(chǎn)品的氣密性檢測(cè)是一個(gè)至關(guān)重要的環(huán)節(jié)，直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和安全性。在這一領(lǐng)域，氣密性檢測(cè)儀憑借其他優(yōu)勢(shì)已經(jīng)成為許多企業(yè)的選擇。接下來，我將...
如何根據(jù)產(chǎn)品形狀和大小選擇合適的氣密性測(cè)試儀器？
在產(chǎn)品制造過程中，氣密性檢測(cè)（也稱為泄漏測(cè)試、密封性測(cè)試）至關(guān)重要，它直接關(guān)系到產(chǎn)品質(zhì)量、性能和安全性。選擇合適的氣密性測(cè)試儀是確保檢測(cè)準(zhǔn)確性和效率的關(guān)...
DC-DC電源管理芯片效率測(cè)試，確保高效能與可靠性的關(guān)鍵步驟
DC-DC電源管理芯片DC-DC電源管理芯片在現(xiàn)代電子設(shè)備中扮演著至關(guān)重要的角色，從便攜式電子產(chǎn)品到工業(yè)控制系統(tǒng)，其應(yīng)用范圍廣泛。為了確保這些設(shè)備的高效...
離子污染對(duì)電子設(shè)備的影響電子技術(shù)迅猛發(fā)展的今天，電子設(shè)備的復(fù)雜性和集成度不斷攀升，電路板上的元件布局日益緊湊，線路間距縮小，這使得對(duì)電路板（PCB/PC...
芯片極限能力、封裝成品及系統(tǒng)級(jí)測(cè)試
本文介紹了芯片極限能力、封裝成品及系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。 本文將介紹芯片極限能力、封裝成品及系統(tǒng)級(jí)測(cè)試，分述如下： 極限能力測(cè)試 封裝成品測(cè)試（Final Tes...
濕熱試驗(yàn)中的物理現(xiàn)象在進(jìn)行濕熱試驗(yàn)時(shí)，樣品會(huì)因?yàn)闇囟群蜐穸鹊慕换ビ绊懚馐艹睗袂趾?。這種潮濕侵害表現(xiàn)為多種物理現(xiàn)象，包括物質(zhì)的吸附作用、液滴的形成（凝露...
bq25970 PWR893評(píng)估模塊用戶指南立即下載
類別：電子資料 2024-12-07 標(biāo)簽：測(cè)試充電器評(píng)估模塊
類別：電子資料 2024-12-07 標(biāo)簽：測(cè)試EVM信號(hào)調(diào)理器
類別：電子資料 2024-11-27 標(biāo)簽：測(cè)試評(píng)估模塊EVM
類別：電子資料 2024-11-27 標(biāo)簽：測(cè)試評(píng)估模塊EVM
類別：電子資料 2024-11-25 標(biāo)簽：測(cè)試評(píng)估模塊
iperf3的測(cè)試結(jié)果中哪些指標(biāo)最重要？
iperf3是一個(gè)網(wǎng)絡(luò)性能測(cè)試工具，它被廣泛用于測(cè)量TCP和UDP帶寬性能。以下是iperf3工具的全攻略，包括它的基本用法、參數(shù)和一些高級(jí)功能。 在大...
9951A光波測(cè)試平臺(tái) 光學(xué)物理參數(shù)測(cè)試 9951A光波測(cè)試平臺(tái)是面向光電行業(yè)用戶開發(fā)的一款模塊化、多通道測(cè)試儀器，主機(jī)具有8個(gè)或18個(gè)模塊插槽，可根據(jù)...
在現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)中，環(huán)境可靠性測(cè)試扮演著至關(guān)重要的角色。這些測(cè)試不僅確保產(chǎn)品能夠滿足既定的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)，還幫助制造商發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過程中的潛在問題。...
靜電放電（ESD）是電子元器件在運(yùn)輸、安裝和使用過程中常見的一種現(xiàn)象，它可能導(dǎo)致器件損壞、性能降低或壽命縮短。因此，對(duì)電子元器件進(jìn)行ESD試驗(yàn)至關(guān)重要，...
【今日活動(dòng)】基于結(jié)構(gòu)函數(shù)的界面材料熱阻評(píng)估與測(cè)試方法簡(jiǎn)介
科技發(fā)展促使電子器件、復(fù)合材料及能源系統(tǒng)等對(duì)高效熱管理需求大增。高效熱管理系統(tǒng)能提升設(shè)備性能并保障長(zhǎng)期可靠安全，是研發(fā)生產(chǎn)過程中不可忽略的關(guān)鍵所在。而用...
引領(lǐng)輕量化趨勢(shì)| 法法易輕量化充電槍通過2023版標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)檢測(cè)試
法法易輕量化充電槍經(jīng)過嚴(yán)格的測(cè)試與評(píng)估，已正式通過2023新國(guó)標(biāo)測(cè)試，并榮獲相應(yīng)測(cè)試報(bào)告。通過的測(cè)試報(bào)告中詳細(xì)記錄了充電槍的各項(xiàng)性能指標(biāo)。包括但不限于充...
2024-12-24 標(biāo)簽：電動(dòng)汽車測(cè)試測(cè)試報(bào)告 67 0
機(jī)械聯(lián)接裝置及部件 R55歐盟型式認(rèn)證解析
ECER55測(cè)試涵蓋了根據(jù)相關(guān)法規(guī)進(jìn)行的一系列測(cè)試，以評(píng)估機(jī)械耦合裝置和組件必須滿足的要求，才能被認(rèn)為符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。ECER55車輛機(jī)械耦合聯(lián)結(jié)部件主要...
如何判斷產(chǎn)品需不需要做AT&T認(rèn)證?AT&T測(cè)試內(nèi)容和要求分享
隨著經(jīng)濟(jì)全球化的發(fā)展，國(guó)內(nèi)越來越多產(chǎn)品廠商選擇將自家產(chǎn)品出口到北美市場(chǎng)，而這時(shí)候各位廠商都會(huì)面臨產(chǎn)品需不需要做AT&T的問題。今天英利檢測(cè)針對(duì)這...
智能與專家相結(jié)合的EMC學(xué)習(xí)支持平臺(tái)
賽盛在線學(xué)習(xí)及工具應(yīng)用平臺(tái)SaishengOnline企業(yè)在電子產(chǎn)品的電磁兼容（EMC）性能達(dá)成過程中面臨諸多挑戰(zhàn)。問題通常在測(cè)試階段才被發(fā)現(xiàn)，導(dǎo)致反復(fù)...
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