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標(biāo)簽 > 晶圓
晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片,由于其形狀為圓形,故稱為晶圓;在硅晶片上可加工制作成各種電路元件結(jié)構(gòu),而成為有特定電性功能之IC產(chǎn)品。
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CP,F(xiàn)T,WAT都是與芯片的測試有關(guān),他們有什么區(qū)別呢?如何區(qū)分?
CP是把壞的Die挑出來,可以減少封裝和測試的成本。
封裝測試是將生產(chǎn)出來的合格晶圓進(jìn)行切割、焊線、塑封,使芯片電路與外部器件實(shí)現(xiàn)電氣連接,為芯片提供機(jī)械物理保護(hù),并利用測試工具,對封裝完的芯片進(jìn)行功能和性...
Tanner L-Edit在功率器件設(shè)計中的應(yīng)用有哪些呢?
像GaN、SiC,、第三代半導(dǎo)體、車用功率器件等功率器件是處理高電壓、大電流的半導(dǎo)體分立器件,常用在電子電力系統(tǒng)中進(jìn)行變壓、變頻、變流及功率管理等。
爐管設(shè)備內(nèi)部構(gòu)造的深入剖析與解讀
半導(dǎo)體爐管設(shè)備是用于半導(dǎo)體材料熱處理的設(shè)備,包括電阻加熱式和感應(yīng)加熱式兩種形式。爐管是核心部件,將半導(dǎo)體材料放入加熱爐中進(jìn)行處理;加熱元件負(fù)責(zé)對爐管內(nèi)部...
晶圓測試的對象是晶圓,而晶圓由許多芯片組成,測試的目的便是檢驗這些芯片的特性和品質(zhì)。為此,晶圓測試需要連接測試機(jī)和芯片,并向芯片施加電流和信號。
2024-04-23 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體存儲器半導(dǎo)體制程 1824 0
蘋果新款iPhone 17系列將沿用3納米制程技術(shù)
隨著智能手機(jī)技術(shù)的快速發(fā)展,消費(fèi)者對于手機(jī)的性能要求也日益提高。近日,關(guān)于蘋果即將推出的iPhone 17系列芯片組的消息引起了廣泛關(guān)注。
為什么要進(jìn)行芯片測試?芯片測試在什么環(huán)節(jié)進(jìn)行?
WAT需要標(biāo)注出測試未通過的裸片(die),只需要封裝測試通過的die。 FT是測試已經(jīng)封裝好的芯片(chip),不合格品檢出。WAT和FT很多項...
集成編碼器的真正單晶圓全新一代OOK發(fā)射SOC芯片—XL117PS介紹
XL117PS 是集成編碼器的真正單晶圓全新一代 OOK 發(fā)射 SOC 芯片,可完全兼容 1527編碼產(chǎn)品,支持常用的315Mhz/433.92Mhz 頻率
半導(dǎo)體制造過程的熱處理,指的是將矽晶圓放置在充滿氮?dú)猓∟2)或氫氣(Ar2)等惰性氣體環(huán)境中施予熱能的處理。
2024-04-15 標(biāo)簽:晶圓熱處理半導(dǎo)體制造 1511 0
TSV(Through-Silicon Via)是一種先進(jìn)的三維集成電路封裝技術(shù)。它通過在芯片上穿孔并填充導(dǎo)電材料,實(shí)現(xiàn)芯片內(nèi)、芯片間以及芯片與封裝之間...
為什么45納米至130納米的工藝節(jié)點(diǎn)如此重要呢?
如今,一顆芯片可以集成數(shù)十億個晶體管,晶體管排列越緊密,所需的工藝節(jié)點(diǎn)就越小,某些制造工藝已經(jīng)達(dá)到 5 納米甚至更小的節(jié)點(diǎn)。
2024-04-11 標(biāo)簽:晶圓晶體管嵌入式設(shè)備 738 0
用于定義晶圓表面特性的 TTV、彎曲和翹曲術(shù)語通常在描述晶圓表面光潔度的質(zhì)量時引用。首先定義以下術(shù)語以描述晶圓的各種表面。
2024-04-10 標(biāo)簽:電容傳感器晶圓半導(dǎo)體器件 7819 1
目前最先進(jìn)的黃光微影制程中,使用ArF準(zhǔn)分子雷射(λ=193nm)作為光源。nm為nano-meter,代表10的負(fù)九次方。
2024-04-10 標(biāo)簽:電路圖晶圓半導(dǎo)體制造 1997 0
如何在微型封裝中存儲大約90頁報紙的字符數(shù)據(jù)呢?
ReRAM(Resistive Random Access Memory,電阻式隨機(jī)存取存儲器)作為一種先進(jìn)的非易失性存儲技術(shù),具有高密度、低功耗和快速...
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