光電探測(cè)系統(tǒng)是一種用于電子與通信技術(shù)領(lǐng)域的計(jì)量?jī)x器，光電探測(cè)系統(tǒng)最多可達(dá)6個(gè)探測(cè)臂、溫度范圍：4.2K到325K、最大樣品直徑：30mm、真空度：10e-5torr、磁場(chǎng)最大：2T、磁場(chǎng)可以垂直及平行于樣品，并且在平行及垂直方向附帶光學(xué)窗口，透光范圍為從可見(jiàn)光到紅外光波段、能配合吉時(shí)利4200系統(tǒng)測(cè)試霍爾效應(yīng)及磁電阻效應(yīng)等。