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標(biāo)簽 > 失效分析
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。
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熱擊失效的原理是:在制造多層陶瓷電容時(shí),使用各種兼容材料會(huì)導(dǎo)致內(nèi)部出現(xiàn)張力的不同熱膨脹系數(shù)及導(dǎo)熱率。當(dāng)溫度轉(zhuǎn)變率過大時(shí)就容易出現(xiàn)因熱擊而破裂的現(xiàn)象
客戶報(bào)告的故障文檔對(duì)于高效的FA非常重要。所有客戶都必須提交一份 客戶退貨信息表格,該表格由FA分析師保留以供審查。它包括設(shè)備歷史記錄,使用情況,故障...
查找生產(chǎn)作業(yè),發(fā)現(xiàn)當(dāng)初螺栓擰緊裝配時(shí),實(shí)際擰緊力矩遠(yuǎn)大于設(shè)計(jì)規(guī)定的力矩。為對(duì)比分析,取9枚螺栓實(shí)物(8枚已使用無問題的螺栓,1枚未使用螺栓),進(jìn)行強(qiáng)斷拉...
外觀檢查就是目測(cè)或利用一些簡(jiǎn)單儀器,如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查PCB的外觀,尋找失效的部位和相關(guān)的物證,主要的作用就是失效定位和初步判...
國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB3187-82中定義:"失效(故障)"產(chǎn)品喪失規(guī)定的功能,對(duì)可修復(fù)的產(chǎn)品通常也稱為故障。規(guī)定的功能是指國(guó)家有關(guān)法規(guī)、質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)文件以及合...
一場(chǎng)關(guān)于如何提高產(chǎn)品可靠性的技術(shù)交流會(huì)
什么是產(chǎn)品可靠性?產(chǎn)品可靠性指的是元件、產(chǎn)品、系統(tǒng)在一定時(shí)間內(nèi)、在一定條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性。通過可靠度、失效率、平均無故障間隔等來評(píng)...
2019-01-22 標(biāo)簽:失效分析 5628 0
納瑞科技多項(xiàng)IC失效分析新技術(shù)工藝將亮相IIC China 2013
納瑞科技將在IIC China 2013上展示其IC失效分析服務(wù),如:針對(duì)90納米線寬以下多層銅布線芯片的修改工藝,針對(duì)模擬信號(hào)IC芯片的低阻值連接和針...
半導(dǎo)體器件芯片分析的幾種方法與步驟。分析手段一般包括:c-sam,x-ray,sem掃描電鏡,EMMI微光顯微鏡等。
失效分析在生產(chǎn)建設(shè)中極其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析結(jié)論要正確無誤,改進(jìn)措施要切實(shí)可行。 1 失效分析思路的內(nèi)涵 失效分析 思路是指導(dǎo)失效分析...
《跟愛因迪生學(xué)電子元器件》技術(shù)交流會(huì)完滿結(jié)束
作為一名電子工程師,工作和學(xué)習(xí)中經(jīng)常會(huì)遇到一些元器件的選用及失效問題的困擾,為了讓更多電子工程師能全面了解各種電子元器件的知識(shí)及應(yīng)用。電子發(fā)燒友網(wǎng)作...
使用時(shí)間可控發(fā)射方法來進(jìn)行模擬電路的失效分析
時(shí)間可控發(fā)射方法(TRE)是一種常用的非入侵式波形測(cè)量方法,它能從芯片的背面探測(cè)芯片內(nèi)部節(jié)點(diǎn)的時(shí)序波形。完美的TRE系統(tǒng)能提供很高的帶寬 (》5GHz)...
多次陶瓷外殼以其優(yōu)良的性能被廣泛應(yīng)應(yīng)用于航天、航空、軍事電子裝備及民用投資類電子產(chǎn)品的集成電路和電子元器件的封裝,常用的陶瓷外殼有集成電路陶瓷外殼。
2012-03-27 標(biāo)簽:可靠性設(shè)計(jì)失效分析 4172 0
失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機(jī)理,失效概率及失效的影響等,為確定產(chǎn)品的改進(jìn)措施進(jìn)行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作,是可靠性設(shè)計(jì)的重要組成部分。失效
2009-07-03 標(biāo)簽:失效分析 3812 0
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