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標(biāo)簽 > 失效分析

失效分析

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失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過(guò)分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。本章就機(jī)械失效分析,失效分析實(shí)驗(yàn)室
失效分析流程,涂層失效分析,軸承失效分析。

文章:160個(gè) 瀏覽:66617 帖子:41個(gè)

失效分析資訊

端子脫落失效分析

案例背景 Case background 某產(chǎn)品的端子在PCBA組裝完成后約24小時(shí),端子輕微受力后發(fā)生掉落,經(jīng)分析,判斷該種失效問(wèn)題與端子鍍層合金化存...

2022-09-13 標(biāo)簽:焊接端子失效分析 2585 0

芯片失效分析常用方法

本文主要介紹了芯片失效性分析的作用以及步驟和方法

2022-08-24 標(biāo)簽:芯片半導(dǎo)體失效分析 1.5萬(wàn) 0

連接器端子上錫不良失效分析

連接器(connector)一般是指電連接器,即連接兩個(gè)有源器件的器件,傳輸電流或信號(hào)。端子連接器作為電氣連接的一種配件,在電路被阻斷或不通的地方充當(dāng)橋...

2022-08-23 標(biāo)簽:連接器端子失效分析 2927 0

掃描電子顯微鏡(SEM)在失效分析中的應(yīng)用

No.1 引言 ? 掃描電子顯微鏡的簡(jiǎn)稱(chēng)為掃描電鏡,英文縮寫(xiě)為SEM 。它利用細(xì)聚焦的電子束,轟擊樣品表面,通過(guò)電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射...

2022-08-18 標(biāo)簽:失效分析失效檢測(cè)外觀缺陷檢測(cè) 4487 0

電阻阻值變大導(dǎo)致失效,一招教你看懂它

1.案例背景 某產(chǎn)品測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良,初步分析不良是因?yàn)殡娮枳柚底兇髮?dǎo)致。 注:電阻阻值標(biāo)稱(chēng)值為1KΩ,實(shí)際達(dá)到幾十或幾百KΩ。 2.分析過(guò)程 2...

2022-07-25 標(biāo)簽:電阻檢測(cè)失效分析 9690 0

LED常見(jiàn)失效案例及分析

LED(Light emitting diodes)產(chǎn)品在生產(chǎn)與使用過(guò)程中,往往容易因各種應(yīng)力或環(huán)境等因素的影響,導(dǎo)致失效不良的產(chǎn)生,即發(fā)生LED失效。...

2022-07-19 標(biāo)簽:led銀膠失效分析 3476 0

季豐電子可靠性試驗(yàn)和失效分析自研產(chǎn)品助力眾多實(shí)驗(yàn)室能力提升

季豐電子自2018年成功推出第一款自研產(chǎn)品后,如今已有10多款產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于可靠性試驗(yàn)和失效分析測(cè)試,滿足季豐電子自己使用,同時(shí)也對(duì)外銷(xiāo)售,并獲得眾多...

2022-06-24 標(biāo)簽:失效分析可靠性試驗(yàn)季豐電子 3115 0

車(chē)載中控屏核心板開(kāi)機(jī)不良的詳細(xì)分析

車(chē)載中控屏核心板開(kāi)機(jī)不良的詳細(xì)分析

1.案例背景 某車(chē)載中控屏,在終端客戶運(yùn)行半年左右發(fā)生無(wú)顯示以及黑屏異常。新陽(yáng)檢測(cè)中心(下稱(chēng)“本中心”)通過(guò)對(duì)中控屏主板的應(yīng)力分析(對(duì)殼體、核心電子元器...

2022-06-21 標(biāo)簽:汽車(chē)電子失效分析emmc 2231 0

BGA焊接可靠性評(píng)價(jià)指引方案

BGA焊接可靠性評(píng)價(jià)指引方案

日常分析中,經(jīng)常出現(xiàn)由于BGA焊接可靠性導(dǎo)致的工程、市場(chǎng)失效問(wèn)題,或檢出存在焊接可靠性風(fēng)險(xiǎn)的問(wèn)題。鑒于BGA焊接的隱蔽性,造成失效對(duì)象品的風(fēng)險(xiǎn)較難預(yù)測(cè),...

2022-06-13 標(biāo)簽:元器件BGA封裝失效分析 2415 0

LED芯片失效的原因分析

LED芯片失效的原因分析

LED芯片對(duì)溫度非常敏感,甚至有觀點(diǎn)表示“溫度升高10℃,LED芯片壽命縮短一半”。

2022-05-12 標(biāo)簽:led芯片失效分析 5992 0

掃描電鏡應(yīng)用之SEM-EDS金屬材料研究及失效分析

掃描電鏡應(yīng)用之SEM-EDS金屬材料研究及失效分析

材料的性能與組織的關(guān)系 正確的金相分析是失效分析的基礎(chǔ)。首先是對(duì)各種光學(xué)顯微鏡不能分辨的基本顯微組織的分析,如隱針馬氏體、屈氏體等;其次是對(duì)顯微組織精細(xì)...

2021-12-22 標(biāo)簽:SEM失效分析EDS 5016 0

金屬斷口學(xué)的發(fā)展及微觀斷裂機(jī)理研究可靠性檢測(cè)

金屬斷口學(xué)的發(fā)展及微觀斷裂機(jī)理研究可靠性檢測(cè)

1 斷口是試樣或零件在試驗(yàn)或使用過(guò)程中斷裂后所形成的相匹配表面。 斷口學(xué)是研究斷口的形貌、性質(zhì),進(jìn)而分析斷裂類(lèi)型和斷裂方式(有時(shí)統(tǒng)稱(chēng)為斷裂模式)、斷裂路...

2021-12-21 標(biāo)簽:失效分析裂紋 5377 0

EBSD制樣最有效的方法——?dú)咫x子截面拋光儀

電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)出現(xiàn)于20世紀(jì)80年代末,經(jīng)過(guò)十多年的發(fā)展已成為顯微組織與晶體學(xué)分析相結(jié)合的一種新的圖像分析技術(shù)。因其成像依賴(lài)于晶體的取向...

2021-12-17 標(biāo)簽:電化學(xué)失效分析 2261 0

金屬可靠性檢測(cè)失效分析

金屬可靠性檢測(cè)失效分析

不同種類(lèi)的金屬材料和結(jié)構(gòu)件,在載荷、溫度、介質(zhì)等力學(xué)及環(huán)境因素作用下,經(jīng)常以磨損、腐蝕、斷裂、變形等方式失效。為了避免和預(yù)防事故發(fā)生,失效分析對(duì)新材料、...

2021-12-17 標(biāo)簽:接觸金屬失效分析 1296 0

TFT-LCD液晶顯示器構(gòu)造失效分析

TFT-LCD液晶顯示器構(gòu)造失效分析

液晶顯示器的器件構(gòu)造 TFT掃描電鏡照片 CF 液晶成盒基板是由TFT基板與彩膜(CF)基板貼合在一起,并在中間填充液晶構(gòu)成的。其中陣列基板和彩膜基板之...

2021-12-16 標(biāo)簽:晶閘管液晶顯示器失效分析 2727 0

陶瓷電容耐壓不良失效分析

陶瓷電容耐壓不良失效分析

通過(guò)對(duì)NG樣品、OK樣品進(jìn)行了外觀光學(xué)檢查、金相切片分析、SEM/EDS分析及模擬試驗(yàn)分析,認(rèn)為造成陶瓷電容耐壓不良原因?yàn)槎伟饽K固化過(guò)程中及固化后...

2021-12-11 標(biāo)簽:電容器失效分析 2654 0

LED芯片散熱焦耳熱分布失效分析

LED芯片散熱焦耳熱分布失效分析

LED芯片是LED照明的核心部件,芯片溫度過(guò)高會(huì)嚴(yán)重影響LED壽命和發(fā)光質(zhì)量;散熱片作為芯片的唯一散熱手段,在設(shè)計(jì)中必須關(guān)注溫度的分布狀態(tài);本文主要介紹...

2021-11-26 標(biāo)簽:LED芯片金屬失效分析 2073 0

LED照明燈具焦耳熱分布失效分析

LED照明燈具焦耳熱分布失效分析

LED燈具的壽命和質(zhì)量與溫度密切關(guān)聯(lián),燈珠溫度、外殼溫度、散熱溫度將關(guān)系到LED燈具的光照均勻、人身安全和質(zhì)量壽命,本文主要介紹使用紅外熱像儀檢測(cè)LED...

2021-11-26 標(biāo)簽:led失效分析燈珠 2124 0

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    北京時(shí)間2017年2月26日,華為終端在巴塞羅那世界移動(dòng)通信大會(huì)2017(MWC)上發(fā)布發(fā)布了全新華為P系列智能手機(jī)——華為P10 & P10 Plus.
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    MACOM
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    MACOM是一家高性能模擬射頻、微波、毫米波和光電解決方案的領(lǐng)先供應(yīng)商,總部位于美國(guó)馬薩諸塞州洛厄爾,擁有超過(guò)60年的歷史??偛吭O(shè)在美國(guó)洛厄爾,馬薩諸塞州。
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編輯推薦廠商產(chǎn)品技術(shù)軟件/工具OS/語(yǔ)言教程專(zhuān)題

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電機(jī)驅(qū)動(dòng)器 步進(jìn)驅(qū)動(dòng)器 TWS BLDC 無(wú)刷直流驅(qū)動(dòng)器 濕度傳感器 光學(xué)傳感器 圖像傳感器
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5G m2m DSP MCU ASIC CPU ROM DRAM
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