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標簽 > 可靠性試驗
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車規(guī)級 | 功率半導(dǎo)體模塊封裝可靠性試驗-熱阻測試
在因為功率器件相關(guān)原因所引起電子系統(tǒng)失效的原因中,有超過50%是因為溫度過高導(dǎo)致的熱失效。結(jié)溫過高會導(dǎo)致電子系統(tǒng)性能降低、可靠性降低、壽命降低、引發(fā)器件...
可靠性技術(shù)也稱為技術(shù)故障,是一項通過對產(chǎn)品故障發(fā)生的原因進行分析、評價并理解后,提高產(chǎn)品可靠性的技術(shù)。反過來說,也可以稱之為制造故障技術(shù)。
2018-02-08 標簽:可靠性試驗 2999 0
集成電路封裝可拿性試驗是指對集成電路進行封裝可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段,即對封裝或材料施加一定的應(yīng)力(如電應(yīng)力、熱應(yīng)力、機械應(yīng)力或其綜合),檢查其...
電子產(chǎn)品高加速壽命測試HALT、高加速應(yīng)力篩選測試HASS,都是可靠性測試的方法,用于評估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么...
類別:機電一體化技術(shù)論文 2011-07-22 標簽:VDMOS電機失效分析 1000 0
類別:產(chǎn)品手冊 2017-01-22 標簽:元器件可靠性試驗 930 0
類別:自動控制系統(tǒng)論文 2011-08-09 標簽:遠程控制低壓電器可靠性試驗 736 0
季豐電子可靠性試驗和失效分析自研產(chǎn)品助力眾多實驗室能力提升
季豐電子自2018年成功推出第一款自研產(chǎn)品后,如今已有10多款產(chǎn)品,廣泛應(yīng)用于可靠性試驗和失效分析測試,滿足季豐電子自己使用,同時也對外銷售,并獲得眾多...
可靠性試驗是對產(chǎn)品進行可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段。試驗結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達到指標要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計試驗所采...
2018-06-28 標簽:可靠性試驗 949 0
高低溫循環(huán)試驗箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗。對電子電工、汽車摩托、航空航天、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)...
智芯公司入選MEMS器件可靠性試驗創(chuàng)新聯(lián)合體首批成員單位
近日,MEMS器件可靠性試驗創(chuàng)新聯(lián)合體(以下簡稱“聯(lián)合體”)成立大會在京召開,智芯公司、北京大學、清華大學、哈工大、北航、中科院微電子所、中科院空天研究...
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