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標(biāo)簽 > 半導(dǎo)體測(cè)試
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。
半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造、晶圓測(cè)試、芯片封裝和封裝后測(cè)試組成。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。
封裝過(guò)程為:來(lái)自晶圓前道工藝的晶圓通過(guò)劃片工藝后,被切割為小的晶片(Die),然后將切割好的晶片用膠水貼裝到相應(yīng)的基板(引線框架)架的小島上,再利用超細(xì)的金屬(金、錫、銅、鋁)導(dǎo)線或者導(dǎo)電性樹脂將晶片的接合焊盤(Bond Pad)連接到基板的相應(yīng)引腳(Lead),并構(gòu)成所要求的電路;然后再對(duì)獨(dú)立的晶片用塑料外殼加以封裝保護(hù),塑封之后,還要進(jìn)行一系列操作,如后固化(Post Mold Cure)、切筋和成型(Trim&Form)、電鍍(Plating)以及打印等工藝。封裝完成后進(jìn)行成品測(cè)試,通常經(jīng)過(guò)入檢(Incoming)、測(cè)試(Test)和包裝(Packing)等工序,最后入庫(kù)出貨。典型的封裝工藝流程為:劃片 裝片 鍵合 塑封 去飛邊 電鍍 打印 切筋和成型 外觀檢查 成品測(cè)試 包裝出貨。
高低溫試驗(yàn)在電源模塊中的應(yīng)用原理是這樣的:不同的行業(yè)對(duì)電源模塊的工作溫度范圍有著不同的要求。高低溫試驗(yàn)旨在確立產(chǎn)品在極端氣候地理環(huán)境(即低溫和高溫)下的...
2024-07-05 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試產(chǎn)品測(cè)試高低溫試驗(yàn)箱 428 0
晶圓測(cè)試的對(duì)象是晶圓,而晶圓由許多芯片組成,測(cè)試的目的便是檢驗(yàn)這些芯片的特性和品質(zhì)。為此,晶圓測(cè)試需要連接測(cè)試機(jī)和芯片,并向芯片施加電流和信號(hào)。
2024-04-23 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體存儲(chǔ)器半導(dǎo)體制程 1715 0
半導(dǎo)體制造的關(guān)鍵環(huán)節(jié):芯片測(cè)試
CP(Chip Probing)測(cè)試也叫晶圓測(cè)試(wafer test),也就是在芯片未封裝之前對(duì)wafer進(jìn)行測(cè)試,這樣就可以把有問(wèn)題的芯片在封裝之前...
2024-04-20 標(biāo)簽:測(cè)試系統(tǒng)芯片測(cè)試測(cè)試機(jī) 1802 0
數(shù)字時(shí)代半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn)與智能制造解決方案優(yōu)勢(shì)
集成電路反映了一個(gè)相對(duì)較新的世界秩序,在這個(gè)秩序中,國(guó)家間的貿(mào)易緊張和供應(yīng)鏈中斷是持續(xù)的威脅,大流行病的影響也繼續(xù)影響著這個(gè)行業(yè)。盡管面臨這些挑戰(zhàn),但在...
2024-01-15 標(biāo)簽:集成電路人工智能半導(dǎo)體器件 490 0
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類:ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn),而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能,將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 標(biāo)簽:芯片測(cè)試ATE測(cè)試機(jī) 2091 0
封裝工序 (Packaging):是指 生產(chǎn)加工后的晶圓進(jìn)行 切割、焊線塑封,使電路與外部器件實(shí)現(xiàn)鏈接,并為半導(dǎo)體產(chǎn)品提供機(jī)械保護(hù),免受物理、化學(xué)等外界...
MEMS傳感器轉(zhuǎn)臺(tái)測(cè)試設(shè)備
聯(lián)合儀器MEMS測(cè)試系統(tǒng)UI320采用測(cè)試機(jī)加轉(zhuǎn)臺(tái)的構(gòu)架,是對(duì)MEMS陀螺儀和加速度計(jì)的測(cè)試平臺(tái)??蓪?duì)MEMS傳感器芯片進(jìn)行測(cè)試,支持I2C/SPI的通...
2021-12-13 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試MEMS陀螺儀 2291 0
成品測(cè)試主要是指晶圓切割變成芯片后,針 對(duì)芯片的性能進(jìn)行最終測(cè)試,需要使用的設(shè)備主要為測(cè)試機(jī)和分選機(jī)。晶圓測(cè)試(Chip Probing),簡(jiǎn)稱 CP ...
2023-06-25 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試 2326 0
半導(dǎo)體晶圓測(cè)試的探針卡制作及應(yīng)用
精密陶瓷基板具有優(yōu)良的電絕緣性、高導(dǎo)熱性、高附著強(qiáng)度和大的載流能力。使用溫度范圍寬,可以達(dá)到-55℃~850℃,熱膨脹系數(shù)接近于硅芯片。在多溫區(qū)測(cè)試環(huán)境...
2023-05-19 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體測(cè)試探針卡 4511 0
類別:電子資料 2021-12-13 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試BMS系統(tǒng)ceshi
類別:電子資料 2021-12-09 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試
Rinaldi代表團(tuán)到訪SPEA總部:探索全球頂尖自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)
在自動(dòng)化測(cè)試的廣闊領(lǐng)域中,SPEA憑借飛針測(cè)試儀、功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備、MEMS測(cè)試系統(tǒng)等一系列創(chuàng)新產(chǎn)品,不斷為前沿科技產(chǎn)業(yè)注入強(qiáng)勁動(dòng)力,已然成為支撐汽車...
2024-12-06 標(biāo)簽:測(cè)試儀自動(dòng)化測(cè)量半導(dǎo)體測(cè)試 280 0
泰克信號(hào)發(fā)生器的半導(dǎo)體測(cè)試應(yīng)用
隨著半導(dǎo)體技術(shù)的飛速發(fā)展,半導(dǎo)體測(cè)試變得越來(lái)越復(fù)雜和具有挑戰(zhàn)性。在這種情況下,信號(hào)發(fā)生器作為測(cè)試設(shè)備的一個(gè)組成部分,扮演了越來(lái)越重要的角色。泰克信號(hào)發(fā)生...
2024-10-22 標(biāo)簽:信號(hào)發(fā)生器半導(dǎo)體測(cè)試 168 0
2024慕尼黑電子展(electronica China)于7月8日~10日盛大舉行。作為全球電子測(cè)試與測(cè)量領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè),泰克科技攜最新測(cè)試解決方案精...
2024-07-11 標(biāo)簽:示波器半導(dǎo)體測(cè)試泰克科技 651 0
半導(dǎo)體環(huán)境測(cè)試設(shè)備及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)_高低溫恒溫恒濕環(huán)境可靠性試驗(yàn)設(shè)備
高低溫試驗(yàn)箱:能夠模擬從極低溫度到高溫的各種環(huán)境,檢測(cè)半導(dǎo)體器件在不同溫度條件下的性能。這種設(shè)備對(duì)于評(píng)估半導(dǎo)體產(chǎn)品的耐溫范圍和穩(wěn)定性至關(guān)重要。 濕熱...
泰瑞達(dá)與合肥工業(yè)大學(xué)“半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”
2024年6月6日,中國(guó)北京訊—— 全球先進(jìn)的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商泰瑞達(dá)(NASDAQ:TER)今日宣布,與合肥工業(yè)大學(xué)的“半導(dǎo)體測(cè)試技術(shù)聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室”的簽...
2024-06-06 標(biāo)簽:半導(dǎo)體半導(dǎo)體測(cè)試 479 0
積極應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試挑戰(zhàn) 加速科技助力行業(yè)“芯”升級(jí)
在全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展的今天,中國(guó)“芯”正迎來(lái)前所未有的發(fā)展機(jī)遇。AI、5G、物聯(lián)網(wǎng)、自動(dòng)駕駛、元宇宙、智慧城市等終端應(yīng)用方興未艾,為測(cè)試行業(yè)帶來(lái)新的...
2024-04-26 標(biāo)簽:半導(dǎo)體測(cè)試加速科技 397 0
探索半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域:哲訊TCC智能化管理系統(tǒng)的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)
在半導(dǎo)體行業(yè)中,封裝和測(cè)試環(huán)節(jié)是至關(guān)重要的一環(huán)。半導(dǎo)體封裝測(cè)試是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。半導(dǎo)體封測(cè)包括封裝和測(cè)試...
2024-04-19 標(biāo)簽:封裝數(shù)字化半導(dǎo)體測(cè)試 438 0
一文帶您了解如何進(jìn)行ADC&DAC精度測(cè)試
作者介紹 一、前言 ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)和DAC(數(shù)模轉(zhuǎn)換器)是電子設(shè)備中至關(guān)重要的組件,它們負(fù)責(zé)將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào),或者將數(shù)字信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)...
2024-04-01 標(biāo)簽:dac半導(dǎo)體測(cè)試ADC 1165 0
全球領(lǐng)先的半導(dǎo)體測(cè)試解決方案供應(yīng)商旺矽科技股份有限公司近日宣布,與全球知名的創(chuàng)新合作伙伴是德科技達(dá)成了一項(xiàng)具有里程碑意義的戰(zhàn)略合作。是德科技一直以來(lái)都致...
2024-03-19 標(biāo)簽:集成電路半導(dǎo)體測(cè)試是德科技 743 0
SPEA 向泰國(guó)知名大學(xué) (KMITL) 捐贈(zèng)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備
SPEA是電子測(cè)試領(lǐng)域的典范企業(yè)之一,與全球各國(guó)的高等教育院校保持著緊密合作,對(duì)推進(jìn)行業(yè)人才培育與發(fā)展,賦能行業(yè)創(chuàng)新貢獻(xiàn)了綿薄之力。近期,SPEA向泰國(guó)...
2024-01-06 標(biāo)簽:設(shè)備半導(dǎo)體測(cè)試 523 0
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