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標(biāo)簽 > 刻蝕
刻蝕,英文為Etch,它是半導(dǎo)體制造工藝,微電子IC制造工藝以及微納制造工藝中的一種相當(dāng)重要的步驟。是與光刻 [1] 相聯(lián)系的圖形化(pattern)處理的一種主要工藝。所謂刻蝕,實(shí)際上狹義理解就是光刻腐蝕,先通過(guò)光刻將光刻膠進(jìn)行光刻曝光處理,然后通過(guò)其它方式實(shí)現(xiàn)腐蝕處理掉所需除去的部分。
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在集成電路的制造階段延續(xù)摩爾定律變得越發(fā)困難,而在封裝階段利用三維空間可以視作 對(duì)摩爾定律的拓展。硅通孔是利用三維空間實(shí)現(xiàn)先進(jìn)封裝的常用技術(shù)手段,現(xiàn)有技...
對(duì)于濕法刻蝕,大部分刻蝕的終點(diǎn)都取決于時(shí)間,而時(shí)間又取決于預(yù)先設(shè)定的刻蝕速率和所需的刻蝕厚度。由于缺少自動(dòng)監(jiān)測(cè)終點(diǎn)的方法,所以通常由操作員目測(cè)終點(diǎn)。濕法...
嚴(yán)重的離子轟擊將產(chǎn)生大量的熱量,所以如果沒(méi)有適當(dāng)?shù)睦鋮s系統(tǒng),晶圓溫度就會(huì)提高。對(duì)于圖形化刻蝕,晶圓上涂有一層光刻膠薄膜作為圖形屏蔽層,如果晶圓溫度超過(guò)1...
等離子體圖形化刻蝕過(guò)程中,刻蝕圖形將影響刻蝕速率和刻蝕輪廓,稱為負(fù)載效應(yīng)。負(fù)載效應(yīng)有兩種:宏觀負(fù)載效應(yīng)和微觀負(fù)載效應(yīng)。
平面互補(bǔ)場(chǎng)效應(yīng)晶體管替代金屬柵工藝流程
該工藝是指在形成層間介質(zhì)層(ILD)后,插入工序以形成高k介質(zhì)和金屬柵疊層,即在化學(xué)機(jī)械拋光(露出多晶硅柵疊層)后,刻蝕掉硬掩模(氮化硅/氧化硅),利用...
在將晶圓制成半導(dǎo)體的過(guò)程中需要采用數(shù)百項(xiàng)工程。其中,一項(xiàng)最重要的工藝是蝕刻(Etch)——即,在晶圓上刻畫(huà)精細(xì)電路圖案。蝕刻(Etch)工程的成功取決于...
與濕式刻蝕比較,等離子體刻蝕較少使用化學(xué)試劑,因此也減少了化學(xué)藥品的成本和處理費(fèi)用。
由下圖可以看出當(dāng)氣體密度較高時(shí)MFP較短(a);而當(dāng)氣體密度較低時(shí),MFP就較長(zhǎng)(b)。大粒子的截面積較大,掃過(guò)的空間也較大。與一般或較小的離子相比,大...
據(jù)麥姆斯咨詢報(bào)道,近期,來(lái)自南京理工大學(xué)的研究人員于《新型工業(yè)化》期刊發(fā)表綜述文章,總結(jié)了體微加工技術(shù)和表面微加工常用的MEMS加工工藝的原理、加工方法...
InAs/GaSb II類超晶格長(zhǎng)波焦平面陣列臺(tái)面ICP刻蝕技術(shù)研究
基于GaSb材料,包括InAs、GaSb、AlSb等材料可以靈活地設(shè)計(jì)成各種新型材料和器件,尤其是InAs/GaSb超晶格具有獨(dú)特的II型能帶結(jié)構(gòu),可以...
其中,AB是分子,而A和B是由分解碰撞產(chǎn)生的自由基,自由基至少帶有一個(gè)不成對(duì)的電子, 因此并不穩(wěn)定。自由基在化學(xué)上非?;钴S,能奪取其他原子或分子的電子形...
縱觀整個(gè)制造業(yè),芯片的制造流程可以說(shuō)是最復(fù)雜的之一,這項(xiàng)點(diǎn)石成金術(shù)可分為八個(gè)大步驟,如下圖所示,這些步驟又可細(xì)分為上百道工序。
在今天的推文中,我們將繼續(xù)介紹最后三個(gè)步驟:互連、測(cè)試和封裝,以完成半導(dǎo)體芯片的制造。
2022-08-01 標(biāo)簽:晶圓半導(dǎo)體制造刻蝕 3902 0
本文介紹了我們?nèi)A林科納研究了污染和清洗順序?qū)A性紋理化的影響。硅表面專門暴露在有機(jī)和金屬污染中,以研究它們對(duì)堿性紋理化過(guò)程的影響,由此可見(jiàn),無(wú)機(jī)污染對(duì)金...
本文報(bào)道了這種化學(xué)鎳的形成,包括在100pm以下的模具,通過(guò)掃描電鏡檢查,研究了各種預(yù)處理刻蝕過(guò)程和鋅酸鹽活化對(duì)最終化學(xué)鎳碰撞質(zhì)量的影響,以幫助詳細(xì)了解...
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