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      標(biāo)簽　>　兼容測(cè)試

      兼容測(cè)試

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      兼容測(cè)試資訊

      近場(chǎng)探頭在EMI電磁預(yù)兼容測(cè)試的應(yīng)用案例

      隨著電子產(chǎn)品的不斷發(fā)展，電磁兼容性測(cè)試(EMC)已成為電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)與生產(chǎn)過(guò)程中的重要環(huán)節(jié)。其中，電磁干擾(EMI)測(cè)試是EMC測(cè)試的重要組成部分。EMI...

      2024-05-30 標(biāo)簽：emi近場(chǎng)探頭兼容測(cè)試 535 0

      EMI 預(yù)兼容測(cè)試和 EMI 故障排查應(yīng)用案例

      EMI 預(yù)兼容測(cè)試和 EMI 故障排查應(yīng)用案例

      EMI 預(yù)兼容測(cè)試和 EMI 故障排查 避免產(chǎn)品整體研發(fā)完成后才交付 EMI 實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)試 EMI 預(yù)兼容測(cè)試：在最早的時(shí)間發(fā)現(xiàn)電磁干擾的問(wèn)題 EMI...

      2024-04-01 標(biāo)簽：emi兼容測(cè)試 510 0

      EMI兼容測(cè)試方案——匹配不同測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，準(zhǔn)確高效！

      EMI兼容測(cè)試方案——匹配不同測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，準(zhǔn)確高效！

      方案背景 近場(chǎng)測(cè)試非常適合產(chǎn)品開(kāi)發(fā)階段輻射發(fā)射的EMI預(yù)兼容測(cè)試。在EMC測(cè)試中，進(jìn)行輻射發(fā)射測(cè)試時(shí)，通常天線離被測(cè)物EUT很遠(yuǎn)，進(jìn)行的都是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。標(biāo)...

      2024-01-22 標(biāo)簽：emi兼容測(cè)試 622 0

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        Maxim Integrated
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        在 Maxim Integrated，我們正在解決工程問(wèn)題并支持設(shè)計(jì)創(chuàng)新，使我們的客戶能夠創(chuàng)造出塑造我們世界的產(chǎn)品。我們創(chuàng)新的高性能模擬和混合信號(hào)產(chǎn)品和技術(shù)使系統(tǒng)更小、更智能，同時(shí)增強(qiáng)了安全性并提高了能源效率。
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