資料介紹
隨著IC制造工藝的進(jìn)步,逐次逼近型(SAR)ADC由于其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、功耗低、尺寸小等優(yōu)點(diǎn)受到了越來(lái)越廣泛的關(guān)注,而作為SAR ADC中最重要的模擬模塊之一,比較器性能的好壞對(duì)整個(gè)ADC的性能有重要影響,因此比較器的設(shè)計(jì)異常重要。比較器的功耗和失調(diào)是最重要的兩個(gè)指標(biāo)。
比較器在SAR ADC整體功耗中占有相當(dāng)大的比重,因此沒(méi)有靜態(tài)功耗的動(dòng)態(tài)比較器更符合低功耗SAR ADC設(shè)計(jì)要求,但是,動(dòng)態(tài)比較器的失調(diào)校準(zhǔn)會(huì)變得更加困難,一方面是因?yàn)閯?dòng)態(tài)比較器的失調(diào)不僅包括靜態(tài)失調(diào),還包括動(dòng)態(tài)失調(diào),這部分失調(diào)只有在電路工作的瞬態(tài)才會(huì)表現(xiàn)出來(lái)。另一方面輸入失調(diào)存儲(chǔ)IOS (ln put Offset Storage)、輸出失調(diào)存儲(chǔ)OOS(Output Offset Storage)等常見(jiàn)的失調(diào)校準(zhǔn)技術(shù)不能直接用于動(dòng)態(tài)比較器的校準(zhǔn),這增加了實(shí)現(xiàn)高精度動(dòng)態(tài)比較器的難度。
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