EMI 的工程師指南第 6 部分 — 采用離散 FET 設(shè)計(jì)的 EMI 抑制技術(shù)
2022-10-31 |
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資料介紹
本系列文章的第 1 部分至第 5 部分中,介紹了抑制傳導(dǎo)和輻射電磁干擾 (EMI) 的實(shí)用指南和示例,尤其是針對(duì)采用單片集成功率 MOSFET 的 DC/DC 轉(zhuǎn)換器解決方案進(jìn)行了詳細(xì)介紹。在此基礎(chǔ)上,本文繼續(xù)探討使用控制器驅(qū)動(dòng)分立式高、低側(cè)功率 MOSFET 對(duì)的 DC/DC 穩(wěn)壓器電路適用的 EMI 的抑制技術(shù)。使用控制器(例如圖 1 所示同步降壓穩(wěn)壓器電路中的控制器)的實(shí)現(xiàn)方案具有諸多優(yōu)點(diǎn),包括能夠增強(qiáng)電流性能,改善散熱性能,以及提高設(shè)計(jì)選擇、元器件選型和所實(shí)現(xiàn)功能的靈活性。
圖 1:驅(qū)動(dòng)功率 MOSFET Q1 和 Q2 的同步降壓控制器的原理圖
然而,從 EMI 角度來看,采用分立式 FET 的控制器解決方案與采用集成 FET 的轉(zhuǎn)換器相比,更具挑戰(zhàn)性。主要有兩方面的考量因素。首先,在緊湊性方面,采用 MOSFET 和控制器的功率級(jí)的印刷電路板 (PCB) 布局比不上采用優(yōu)化引腳布局和內(nèi)部柵極驅(qū)動(dòng)器的功率轉(zhuǎn)換器集成電路…
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