無(wú)源標(biāo)簽芯片的靈敏度應(yīng)該如何測(cè)試方法詳細(xì)說(shuō)明

　　RFID標(biāo)簽芯片的靈敏度是芯片剛剛被激活所需的最小能量。靈敏度是標(biāo)簽芯片最重要的性能指標(biāo)，它的大小直接影響RFID標(biāo)簽的性能，例如標(biāo)簽讀／寫(xiě)距離等。因此標(biāo)簽芯片靈敏度準(zhǔn)確測(cè)試是芯片測(cè)試的重要內(nèi)容之一。在某一頻段內(nèi)，絕大多數(shù)芯片廠商僅僅給出芯片一個(gè)靈敏度值，而沒(méi)有標(biāo)識(shí)出芯片靈敏度隨頻率的變化情況。利用本文所描述的靈敏度測(cè)試方法測(cè)試芯片的靈敏度，可以獲得芯片在800～1000MHz頻段內(nèi)的靈敏度變化曲線，對(duì)于實(shí)際應(yīng)用更有參考價(jià)值。準(zhǔn)確測(cè)試芯片靈敏度隨著頻率的變化情況對(duì)于芯片開(kāi)發(fā)人員和芯片的實(shí)際應(yīng)用都具有重要的意義。

　　1 芯片靈敏度測(cè)試原理

　　將經(jīng)過(guò)封裝的芯片引腳焊接到阻抗為50 Ω的SMA連接器，將SMA頭通過(guò)特征阻抗為50 Ω的同軸線連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀或者RFID標(biāo)簽測(cè)試儀的輸出口，不需要進(jìn)行特殊的匹配電路。測(cè)試設(shè)備需要標(biāo)簽測(cè)試儀和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀。標(biāo)簽測(cè)試儀可采用Voyantic公司研發(fā)的Tagformance標(biāo)簽測(cè)試儀，該測(cè)試儀是帶有一個(gè)輸入天線和輸出天線接口的專(zhuān)用RFID 讀寫(xiě)器。天線接口中一個(gè)用來(lái)向標(biāo)簽傳輸信號(hào)，另一個(gè)接收標(biāo)簽的反向散射信號(hào)，軟件會(huì)對(duì)該信號(hào)進(jìn)行分析，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖 1所示。從圖1可以看出，標(biāo)簽測(cè)試儀的內(nèi)部結(jié)構(gòu)相當(dāng)于一個(gè)輸出頻率、功率可調(diào)可標(biāo)定，接收信號(hào)可解調(diào)可解碼的寬頻帶 RFID讀寫(xiě)器。實(shí)際測(cè)試時(shí)，為了使得讀數(shù)方便，在RFID標(biāo)簽測(cè)試儀的衰減器輸出端口再串接一個(gè)20 dB衰減器，然后用同軸線將衰減器和裝有芯片的SMA頭相連。利用標(biāo)簽測(cè)試儀可以掃描出芯片在不匹配的情況下，芯片正常工作所需要的最小工作能量Pmin隨頻率的變化情況。