如何比較EMI和RF吸波材料的性能測試

　　隨著工程師們需要遵循的輻射電磁干擾（EMI）規(guī)范的不斷增多，市場上開始出現(xiàn)各種類型的EMI吸波材料。一般而言，市場上所提供的這些吸波材料的厚度很薄并具有很好的外形柔韌性，再加上其背面帶有粘合劑的設計使得我們能夠很容易地將這些吸波材料應用到一些不符合電磁干擾和射頻干擾（EMI/RFI）相關規(guī)范的產品表面。因此，選擇合適的吸波材料就成為符合 EMI/RFI相關規(guī)范、維護系統(tǒng)性能完好的一個關鍵因素。在10MHz到3000MHz的頻率范圍內，大部分吸波材料都會采用加入有損耗的磁性材料（例如，羰基鐵或者鐵氧體粉末等）的方式來削弱其表面電流。這些表面電流源于有害EMI和導體的相互作用，而且它們的出現(xiàn)還會導致電磁場的二次輻射，因此為了保證產品符合相關規(guī)范，通常都會設法降低該表面電流。除此之外，這些表面電流還可能會對其它電路造成干擾，妨礙系統(tǒng)的正常運行。比較不同生產廠家提供的吸波材料的性能需要花費大量的金錢和時間?？紤]到EMI測試試驗室每天幾千美元的費用，試錯試驗（trialanderrortesting）的次數(shù)必須被限制到最少。因此，通過攜帶若干種可能會使用到的吸波材料到EMI試驗室進行測試以確定效果最好的一種材料的方法已經被證明是一種非常昂貴的解決方法。而本文所介紹的這種簡單的表面電流減小測試裝置（SCRF）則允許我們對各種吸波材料樣品的性能進行快速、簡單的比較，從而縮小吸波材料的選擇范圍，確定某頻率范圍內具體EMI問題所需的性能最好的一種或兩種吸波材料。 SCRF裝置主要由兩個經過靜電屏蔽的磁場環(huán)形天線構成，而且通過將它們小心地放置在相互垂直的位置上可以在相關頻率范圍內獲得70dB甚至更高的隔離度。SCRF中的一個環(huán)形天線被連接到射頻（RF）掃頻源，而另一個環(huán)形天線則被連接到RF掃頻接收機。如果將一塊與產品殼體相仿的導體板放置在接近兩環(huán)形天線的一個固定的位置上，那么就會在導體表面產生電流，該表面電流所產生的二次輻射會被環(huán)形天線接收，由此造成的天線接收信號的增大的典型值約為20dB到30dB。在此基礎上，如果在導體板上覆蓋某種EMI吸波材料的樣品并重復上述測試過程，就可以測量得到電磁場二次輻射的減小量。我們可以利用這種二次輻射的減小量來對不同吸波材料的吸波性能進行對比。