ARM JTAG 調(diào)試原理

這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG調(diào)試原理。
這篇文章主要是總結(jié)了前段時間的一些心得體會，希望對想了解ARM JTAG調(diào)試的網(wǎng)友們有所幫助。我個人對ARM JTAG的理解還不是很透徹，在文章中，難免會有偏失和不準(zhǔn)確的地方，希望精通JTAG調(diào)試原理的大俠們不要拍磚，有什么問題提出來，我一定盡力糾正。同時也歡迎對ARM JTAG調(diào)試感興趣的朋友們一起交流學(xué)習(xí)。
2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
既然是介紹JTAG調(diào)試，還是讓我們從IEEE的JTAG調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)開始吧。JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)就是由JTAG這個組織最初提出的，最終由IEEE批準(zhǔn)并且標(biāo)準(zhǔn)化的。所以，這個IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG調(diào)試標(biāo)準(zhǔn)。
接下來的這一部分，主要簡單的介紹了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本構(gòu)架。雖然不是很全面，但對了解JTAG的基本原理來說，應(yīng)該是差不離了。如果希望更全面深入的了解JTAG的工作原理，可以參考IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)。